「"focused ion-beam"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PREPARING METHOD OF DATA FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING, AND FOCUSED ION BEAM MACHINING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム加工用データの作成方法、集束イオンビーム加工装置および加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND FOCUSED ION BEAM MACHINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

フォーカストイオンビーム装置及びそれを利用したフォーカストイオンビーム加工方法 - 特許庁

SMALL HIGH ENERGY FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

小型高エネルギー集束イオンビーム装置 - 特許庁

APERTURE AND FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

アパーチャおよび集束イオンビーム装置 - 特許庁

TESTPIECE COOLING SYSTEM OF FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

集束イオンビーム装置の試片冷却システム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子線装置及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD AND APPARATUS USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる試料加工方法及び装置 - 特許庁

FOCUSED ION-BEAM MASS SPECTROMETER AND ANALYSIS METHOD THEREOF例文帳に追加

集束イオンビーム質量分析装置および分析方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダ - 特許庁

METHOD OF MACHINING WORK PIECE WITH FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる加工片の加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND SPECIMEN MACHINING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム装置及び試料の加工方法 - 特許庁

GAS INTRODUCING DEVICE FOR FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビーム用ガス導入装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM WORKING APPARATUS WITH WORKING DEPTH MEASURING FUNCTION例文帳に追加

加工深さ計測機能付集束イオンビーム加工装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM APPARATUS AND LENS DIAPHRAGM USED IN IT例文帳に追加

集束イオンビーム装置、及びそれに用いる絞り - 特許庁

ABERRATION CORRECTING FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

収差補正集束イオンビーム装置 - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD WITH FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる試料の加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工方法及び装置 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム装置用標準試料 - 特許庁

LENS-PROTECTING APERTURE FOR FOCUSED ION-BEAM APPARATUS例文帳に追加

集束イオンビーム装置のレンズ保護用絞り - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND DEVICE FOR CONTROLLING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置及びその制御装置 - 特許庁

WORKING POSITION CORRECTING DEVICE FOR FOCUSED ION BEAM WORKING DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置の加工位置補正装置 - 特許庁

To easily identify places in backside focused ion beam (FIB) processing.例文帳に追加

裏面ＦＩＢ加工における場所特定を容易にする。 - 特許庁

MINUTE PART ANALYZER USING FOCUSED ION BEAM AND MINUTE PART ANALYSIS METHOD USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームを用いる微細部位解析装置および集束イオンビームを用いる微細部位解析方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD USING THE SAME, AND COMPUTER PROGRAM FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム装置、それを用いた試料の加工方法、及び集束イオンビーム加工用コンピュータプログラム - 特許庁

A specimen was milled by the focused ion beam method. 例文帳に追加

試料は集束イオンビーム法によって平削り(ミリング)された。 - 科学技術論文動詞集

POSITIONING OF NEUTRALIZING ENERGY BEAM AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

中和用エネルギー線の位置合わせ方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE BY FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム加工による走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CARBON NANOTUBE USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームを利用した炭素ナノチューブの製造方法 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SECONDARY CHARGED PARTICLE IMAGE ON FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

集束イオンビーム装置による二次荷電粒子像の観察方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE ENABLING OBSERVATION AND MACHINING OF LARGE SAMPLE例文帳に追加

大きな試料の観察・加工を可能とする集束イオンビーム装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND PROCESSING METHOD OF SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置、及びそれを用いた試料の加工方法 - 特許庁

OBSERVATION AND WORKING METHOD BY FOCUSED ION BEAM AND ITS DEVICE例文帳に追加

集束イオンビームによる観察・加工方法およびその装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE AND SAMPLE BASE USED FOR IT例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置及びそれに用いる試料台 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE HAVING EXHAUST PIPE IN CHAMBER例文帳に追加

チャンバー内に排気管を備えた集束イオンビーム装置。 - 特許庁

SPECIMEN TABLE FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING UNIT AND SPECIMEN FIXING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置用試料台および試料固定方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD OF WORKING USING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置およびそれを用いた加工方法 - 特許庁

MACHINING METHOD OF FIXED DIAPHRAGM OF FOCUSED ION BEAM MACHINING MONITORING DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置の固定絞りの加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD OF PROCESSING AND OBSERVING TEST PIECE例文帳に追加

集束イオンビーム装置及び試料の加工・観察方法 - 特許庁

Typically, the accelerating voltage used in focused ion beam (FIB) systems ranges from 5 to 30 keV. 例文帳に追加

典型的には、集束イオンビーム(FIB)システムで使われる加速電圧は5〜30keVにわたる。 - 科学技術論文動詞集

Hard mask fabrication for magnetic random access memory elements using focused ion beam assisted selective chemical vapor deposition. 例文帳に追加

集中イオンビーム補助選択的化学蒸着を利用した磁気RAM素子のためのハードマスク製造。 - コンピューター用語辞典

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

COMPACT HIGH ENERGY FOCUSED ION BEAM FORMING DEVICE USING FOLDING TANDEM TYPE ELECTROSTATIC ACCELERATOR例文帳に追加

折り返しタンデム型静電加速器を用いたコンパクト高エネルギー集束イオンビーム形成装置 - 特許庁

ELECTRONIC DEVICE AND OPTICAL DEVICE HAVING ULTRAFINE STRUCTURE MADE THROUGH USE OF FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームを用いて作製した極微細構造を有する電子デバイス及び光デバイス - 特許庁

To provide a method for manufacturing carbon nanotubes using a focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームを利用した炭素ナノチューブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To realize a focused ion beam device which can visually detect a drift of an ion beam in an early stage.例文帳に追加

イオンビームのドリフトを早期に視覚的に検出可能な集束イオンビーム装置の実現する。 - 特許庁