例文 (999件) |
せいどうしけんの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 10223件
半導体試験装置とその補正方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ITS CORRECTING METHOD - 特許庁
波形発生装置及び半導体試験装置例文帳に追加
WAVEFORM GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTER - 特許庁
半導体装置、試験装置、および製造方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD - 特許庁
半導体装置とその試験方法及び製造方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁
半導体試験装置のプログラム作成方式例文帳に追加
PROGRAM PRODUCTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
動力伝達系の試験装置およびその制御方法例文帳に追加
APPARATUS FOR TESTING POWER TRANSMISSION SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁
マイクロ波半導体装置の試験調整方法例文帳に追加
METHOD FOR TESTING AND ADJUSTING MICROWAVE SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体試験装置のプログラム作成装置例文帳に追加
PROGRAM PREPARATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
不揮発性半導体メモリの書換ストレス試験方法例文帳に追加
METHOD OF TESTING REWRITE STRESS OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY - 特許庁
半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法例文帳に追加
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR - 特許庁
制御システム及び半導体試験装置例文帳に追加
CONTROL SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTER - 特許庁
半導体集積回路試験装置及びその調整方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND ADJUSTING METHOD THEREFOR - 特許庁
不揮発性半導体記憶装置の試験方法例文帳に追加
METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE - 特許庁
半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法例文帳に追加
ERASE FUNCTION TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR NONVOLATILE MEMORY - 特許庁
半導体装置の特性評価方法及び試験装置例文帳に追加
CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE - 特許庁
差動カーボンシールの性能試験装置例文帳に追加
APPARATUS FOR TESTING EFFICIENCY OF DIFFERENTIAL CARBON SEAL - 特許庁
リレー制御装置及び半導体試験装置例文帳に追加
RELAY CONTROLLER AND SEMICONDUCTOR TESTER - 特許庁
半導体素子検査装置及びその製造方法例文帳に追加
APPARATUS FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
エレベーター用昇降制限装置の動作試験装置例文帳に追加
OPERATION TESTING DEVICE OF ELEVATION RESTRICTING DEVICE FOR ELEVATOR - 特許庁
半導体試験を高精度に実施する。例文帳に追加
To perform a test on a semiconductor with high precision. - 特許庁
動力伝達系の試験装置とその制御方法例文帳に追加
TESTING DEVICE OF POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁
半導体素子検査装置及びその製造方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
電子顕微鏡等の自動画像調整機能例文帳に追加
FUNCTION FOR REGULATING AUTOMATICALLY IMAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE - 特許庁
半導体装置の製造方法及び試験方法例文帳に追加
MANUFACTURING AND TESTING METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
静止誘導器のインパルス試験装置及び方法例文帳に追加
IMPULSE TESTER AND TESTING METHOD FOR STATIONARY INDUCTION APPARATUS - 特許庁
管内の水圧試験用脈動水圧発生装置例文帳に追加
PULSATION WATER PRESSURE-GENERATING DEVICE FOR TESTING WATER PRESSURE IN PIPE - 特許庁
振動試験機制御システム及びプログラム例文帳に追加
SYSTEM AND PROGRAM FOR CONTROLLING VIBRATION-TESTING MACHINE - 特許庁
動力伝達系の試験装置とその制御方法例文帳に追加
TESTING DEVICE AND ITS CONTROL METHOD FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM - 特許庁
電子決裁文書の自動作成システム例文帳に追加
SYSTEM FOR AUTOMATICALLY PREPARING ELECTRONIC SETTLEMENT DOCUMENT - 特許庁
低慣性モータによる自動車試験装置例文帳に追加
AUTOMOBILE TESTING DEVICE BY LOW INERTIAL MOTOR - 特許庁
動力伝達系の試験装置とその制御方法例文帳に追加
TESTING DEVICE FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR - 特許庁
駆動力伝達装置の試験方法及び製造方法例文帳に追加
TESTING METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR DRIVING FORCE TRANSMISSION SYSTEM - 特許庁
半導体不揮発性メモリの試験方法例文帳に追加
TEST METHOD FOR NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY - 特許庁
制振用実大ダンパーの動的応答載荷試験装置例文帳に追加
DYNAMIC RESPONSE LOAD TEST APPARATUS FOR ACTUAL SIZE DAMPER FOR DAMPING - 特許庁
振動試験装置及びその制御方法例文帳に追加
VIBRATION TESTING SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING THE SAME - 特許庁
平成24年外資系企業動向調査例文帳に追加
FY2012 Survey of Trends in Business Activities of Foreign Affiliates - 経済産業省
エレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および試験方法例文帳に追加
BRAKING FORCE TESTING DEVICE AND METHOD OF HOIST BRAKE FOR ELEVATOR - 特許庁
ユニフォーミティ試験及び動釣合試験における補正方法例文帳に追加
CORRECTION METHOD IN UNIFORMITY TEST AND DYNAMIC BALANCING TEST - 特許庁
半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法及び半導体装置試験用キャリア例文帳に追加
CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST, ITS MANUFACTURE AND CARRIER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST - 特許庁
半導体装置の温度制御方法及び装置、及び半導体装置の試験方法及び試験装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING TEMPERATURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体デバイス試験装置のタイミング校正方法・半導体デバイス試験装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TIMING CALIBRATION OF THE SAME - 特許庁
耐圧試験中は、制御棒駆動系駆動水ポンプを運転して上記試験圧力が保持される。例文帳に追加
During the pressure test, the control rod drive system driving water pump is operated to maintain the test pressure. - 特許庁
半導体素子形成領域の配置決定方法、半導体素子形成領域の配置決定用プログラム、及び半導体素子の製造方法例文帳に追加
METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING ARRANGEMENT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FORMING AREA, AND PRODUCTION PROCESS OF SEMICONDUCTOR ELEMENT - 特許庁
超伝導単一光子検出素子、超伝導単一光子検出素子の製造方法および超伝導単一光子検出器の部品の実装方法例文帳に追加
SUPERCONDUCTIVE SINGLE PHOTON DETECTING ELEMENT, METHOD OF MANUFACTURING THE SUPERCONDUCTIVE SINGLE PHOTON DETECTING ELEMENT, AND METHOD OF MOUNTING COMPONENTS OF SUPERCONDUCTIVE SINGLE PHOTON DETECTOR - 特許庁
低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。例文帳に追加
To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure. - 特許庁
素子形成領域の形成方法、半導体装置の製造方法、及び半導体装置例文帳に追加
METHOD FOR FORMING ELEMENT REGION, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
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