「せいどうしけん」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御方法及び半導体記憶装置の試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND CONTROL METHOD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE - 特許庁

第八十三条　労働衛生コンサルタント試験は、厚生労働大臣が行なう。例文帳に追加

Article 83 (1) The Minister of Health, Labour and Welfare shall conduct the industrial health consultant examination.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

タイミングパルス発生器、ウインドウストローブ信号発生器、および半導体試験装置例文帳に追加

TIMING PULSE GENERATOR, WINDOW STROBE SIGNAL GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS - 特許庁

半導体装置、デバイス形成基板、配線接続試験方法、および半導体装置の製造方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR EQUIPMENT, DEVICE FORMATION SUBSTRATE, WIRING CONNECTION TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体素子に損傷を与えず、且つ半導体素子の電気的特性を高精度に試験する。例文帳に追加

To test the electrical characteristics of a semiconductor device with high precision without damaging the semiconductor device. - 特許庁

試験時の加振に起因する地震動の発生を抑制できる耐震試験設備を提供すること。例文帳に追加

To provide an earthquake resistance testing facility capable of suppressing occurrence of seismic ground motion caused by vibration applied during testing. - 特許庁

信頼性評価試験を正常に且つ安定して行なうことができる半導体評価試験装置を提供する。例文帳に追加

To normally and stably conduct a reliability evaluation test. - 特許庁

送信機３０は、自動試験装置２０が生成した試験結果データを受け取ってそれを送信する。例文帳に追加

The transmitter 30 receives the test result data created by the automatic testing device 20 and transmits it. - 特許庁

各光半導体装置が完成する前に正常動作するか否かを試験することが可能な、半導体ウェハの試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor wafer testing method capable of testing whether each optical semiconductor device is normally operated or not, before completion. - 特許庁

個人用電子決済端末、該端末を用いるリコメンド情報生成システム、同生成方法及び同生成プログラム例文帳に追加

PERSONAL ELECTRONIC SETTLEMENT TERMINAL, RECOMMENDATION INFORMATION GENERATING SYSTEM USING THE TERMINAL, AND GENERATING METHOD AND GENERATING PROGRAM THEREFOR - 特許庁

簡易な構成で各制御モジュール間の同期を取ることが可能な半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device capable of establishing synchronism between control modules with a simple constitution. - 特許庁

端子、半導体装置、端子形成方法及びフリップチップ型半導体装置の製造方法例文帳に追加

TERMINAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR FORMING TERMINAL, AND METHOD FOR PRODUCING FLIP CHIP SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

圧力脈動による計測配管の振動を抑制し、計測配管に発生する応力を低減する。例文帳に追加

To reduce stress generating in a measurement pipe by suppressing the vibration of measurement pipes due to pressure pulsation. - 特許庁

試験時間に大きな影響を与えることなく、校正により半導体試験の精度を向上させる。例文帳に追加

To enhance the accuracy of semiconductor testing by calibration without substantially affecting the length of time required for testing. - 特許庁

半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム例文帳に追加

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN AND ITS DEVICE AND PROGRAM - 特許庁

試験仕様書作成からマニュアルの作成を支援し自動試験を支援する装置例文帳に追加

DEVICE FOR SUPPORTING CREATION OF TEST SPECIFICATION AND MANUAL, AND SUPPORTING AUTOMATIC TESTING - 特許庁

被試験車両の駆動輪をローラの真上に正確に短時間で載置し、正確な試験を行う。例文帳に追加

To accurately and quickly place the driving wheel of a vehicle to be tested directly on a roller for accurate testing. - 特許庁

半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATION OF TEST PATTERN - 特許庁

原動機の出力を負荷電動機により吸収して、性能試験を行う原動機の試験装置において、緊急制動時に前記負荷電動機に電力を供給せずに、制動を行う。例文帳に追加

To brake a testing device in emergency braking without supplying power to a load electric motor in the testing device of a prime mover conducting performance testing by absorbing the output of the prime mover with the load electric motor. - 特許庁

ここで、第１の動作条件は、例えば、半導体回路完成後の実動作時の動作条件であり、第２の動作条件は、例えば、半導体回路完成後の出荷試験を行うとき（試験時）の動作条件である。例文帳に追加

In this case, the first operation conditions are, for example, operation conditions in actual operation after a semiconductor circuit is completed, and the second operation conditions are, for example, operation conditions when performing a shipping test (in a test) after the semiconductor circuit is completed. - 特許庁

半導体メモリ設計者の半導体メモリ試験仕様にもとづいて正確な半導体メモリ試験パターンを作成することができ、その検証を容易になし得ると共に、半導体メモリ試験仕様書も生成することができる半導体メモリ試験パターンの作成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory test pattern forming method by which an accurate semiconductor memory test pattern can be made based on semiconductor memory designer's semiconductor memory test specifications and its verification is facilitated and the semiconductor memory test specifications can also be formed. - 特許庁

繊維含有樹脂基板、封止後半導体素子搭載基板及び封止後半導体素子形成ウエハ、半導体装置、及び半導体装置の製造方法例文帳に追加

FIBER CONTAINING RESIN SUBSTRATE, AFTER-SEALING SEMICONDUCTOR ELEMENT MOUNTING SUBSTRATE AND AFTER-SEALING SEMICONDUCTOR ELEMENT FORMATION WAFER, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体素子形成用板状基体及びその製造方法例文帳に追加

PLATE-SHAPED SUBSTRATE FOR FORMING SEMICONDUCTOR ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

光学活性α−アミノオキシケトン誘導体及びその製造方法例文帳に追加

OPTICALLY ACTIVE α-AMONOOXYKETONE DERIVATIVE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME - 特許庁

ＴＬＰ試験システムの過渡的な挙動を較正するための較正方法。例文帳に追加

The calibration method is provided for calibrating transient behavior of a TLP test system. - 特許庁

閉鎖室内に設けられた可動部位を動かすことにより前記可動部位の操作性や耐久性を試験する可動部位の試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a movable part test apparatus for testing the operability and durability of movable parts provided for a closed room by moving the movable parts. - 特許庁

後押し経路部１Ａには、移動体２０に移動力を付与する送り装置４と、移動体２０に制動力を付与する制動装置５を設けた。例文帳に追加

To a backing up passage 1A, a feed device to give the moving force to the moving bodies 20, and a braking device to give a braking force to the moving bodies, are provided. - 特許庁

振動試験装置において、回転モードが発生した場合でも、該回転モードを抑制して正確に振動試験が行なえること。例文帳に追加

To suppress rotational mode to accurately perform vibration tests even in the case of the occurrence of the rotational mode in a vibration testing system. - 特許庁

半導体ウェハの耐衝撃性試験方法および半導体デバイスの製造方法例文帳に追加

SHOCK-RESISTANCE TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

超伝導素子、それを用いた中性子検出装置及び超伝導素子の製造方法例文帳に追加

SUPERCONDUCTING ELEMENT, NEUTRON DETECTING APPARATUS USING IT, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SUPERCONDUCTING ELEMENT - 特許庁

試験プログラム生成方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置例文帳に追加

METHOD FOR TEST PROGRAM GENERATION, APPARATUS THEREFOR AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

振動制御信号を出力して振動試験機の振動を制御する振動制御装置において、振動試験機の振動アナログ信号をデジタル変換した後、当該デジタル振動信号から前記振動制御信号と同一の周波数の信号をデジタルフィルタを用いて抽出し、抽出したデジタル振動信号にもとづいて第２の振動制御信号を生成する。例文帳に追加

In this vibration control device for controlling vibration of this vibration testing machine by outputting a vibration control signal, a vibration analog signal of the vibration testing machine is converted digitally, and then a signal having the same frequency as the vibration control signal is extracted from the digital vibration signal by using a digital filter, and the second vibration control signal is generated based on the extracted digital vibration signal. - 特許庁

自動変速機イナーシャ相開始判定方法、自動変速機制御方法、自動変速機イナーシャ相開始検出装置及び自動変速機制御装置例文帳に追加

AUTOMATIC TRANSMISSION INERTIA PHASE START JUDGING METHOD, AUTOMATIC TRANSMISSION CONTROL METHOD, AUTOMATIC TRANSMISSION INERTIA PHASE START DETECTOR AND AUTOMATIC TRANSMISSION CONTROLLER - 特許庁

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed. - 特許庁

実施形態のエレベータ制御装置は、エレベータの乗りかごを制動する制動装置が予め設定された所定の大きさの制動力を発生させる制動状態であることを感知する制動状態感知器と、前記制動装置が制動力を発生させない非制動状態であることを感知する非制動状態感知器とに基づいて、前記制動装置の動作状態の検出を行うことを特徴とする。例文帳に追加

In the elevator control device, detection of the operation state of the braking device is performed based on: a braking state sensor sensing that the braking device braking a ride cage of an elevator is in a braking state generating braking force having preset prescribed size; and a non braking state sensor sensing that the braking device is in a non-braking state generating no braking force. - 特許庁

これら複数種類のモルタルについて流動性試験と粘性試験を行い、流動性と粘性の特性を示す曲線を得て、流動性と粘性の変曲点Ｐ１、Ｐ２を検出する。例文帳に追加

A fluidity test and a viscosity test concerning a plurality of kinds of the mortar are carried out, curves indicating the characteristics of the fluidity and the viscosity is obtained, and the inflection points P1 and P2 of the fluidity and the viscosity are detected. - 特許庁

ボイド窒化物半導体層の上に素子形成用窒化物半導体層を形成する。例文帳に追加

On the void nitride semiconductor layer, a nitride semiconductor layer for forming an element is formed. - 特許庁

半導体素子形成用板状基体及びこの製造方法及びこれを使用した半導体素子例文帳に追加

PLATE-SHAPED SUBSTRATE FOR FORMING SEMICONDUCTOR ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT USING IT - 特許庁

試験時における同測数を増加させ、製造コストが抑制された半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device reduced in manufacturing cost by incresing the number of devices to be simultaneously tested. - 特許庁

試験条件発生装置１９は、試験開始、試験解除等の試験条件を指示する試験条件情報Ｓ１９を移動局１２に出力する。例文帳に追加

A test condition producing device 19 outputs test condition information S19 which indicates test conditions such as test start and test release, to the mobile station 12. - 特許庁

高周波用半導体素子形成用のエピタキシャル基板および高周波用半導体素子形成用エピタキシャル基板の作製方法例文帳に追加

EPITAXIAL SUBSTRATE FOR FORMATION OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR HIGH FREQUENCY, AND MANUFACTURING METHOD OF EPITAXIAL SUBSTRATE FOR FORMATION OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR HIGH FREQUENCY - 特許庁

素子形成領域１に、半導体層１１をエッチングして側壁５、５ａを有する素子形成半導体層４を形成する。例文帳に追加

An element formation semiconductor layer 4 having side walls 5, 5a is formed in the element formation region 1 by etching the semiconductor layer 11. - 特許庁

半導体試験装置用テストプログラム生成システム及びテストプログラム生成方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE - 特許庁

一つの超電導線材試験片を、一回、試験することにより、最適線材断面形状を決定できる、試験用超電導線材を作製すること。例文帳に追加

To produce a superconductive wire for testing, which can determine optimal wire cross-section by testing one piece of the superconductive wire one. - 特許庁

自動生成されたプログラムが実際に要求された機能仕様を満足しているか否かを試験するための試験方案を自動的に作成することができる制御プログラム及び試験方案自動作成装置を得る。例文帳に追加

To provide an apparatus for automatically creating a control program and testing method plans that automatically creates testing method plans for testing whether an automatically created program meets actually required functional specifications. - 特許庁