例文 (3件) |
原子プローブ電界イオン顕微鏡の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。例文帳に追加
To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope. - 特許庁
試料から電界蒸発した原子が常に質量分析系に導かれるアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。例文帳に追加
To provide a field-ion microscope for atom probes in which evaporated atomic elements from a sample by application of electric field are always drawn to a mass spectrometry system. - 特許庁
電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。例文帳に追加
To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined. - 特許庁
例文 (3件) |
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