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field ion microscopeとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 電解イオン顕微鏡; フィールドイオン顕微鏡; 電界イオン顕微鏡; FIM
「field ion microscope」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
ELECTRIC FIELD ION RADIATING APPARATUS, ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE AND MACHINING APPARATUS例文帳に追加
電界イオン放射装置と、電界イオン顕微鏡および加工装置 - 特許庁
GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, AND SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
ガス電界電離イオン源、及び走査荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND DEVICE例文帳に追加
ガス電界電離イオン源,荷電粒子顕微鏡、及び装置 - 特許庁
ATOM PROBE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE例文帳に追加
アトムプローブ電界イオン顕微鏡 - 特許庁
This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image.例文帳に追加
本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。 - 特許庁
The microscope system 200 can also be operated in a field-ion microscope (FIM) mode.例文帳に追加
また、顕微鏡システム200は、電界イオン顕微鏡(FIM)モードで作動させることができる。 - 特許庁
To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加
原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
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ウィキペディア英語版での「field ion microscope」の意味 |
Field ion microscope
出典:『Wikipedia』 (2011/03/08 14:15 UTC 版)
「field ion microscope」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
This ion microscope includes the gas field ionization ion source, is constituted to install a refrigerator for cooling the gas field ionization ion source independently of an ion microscope body, and is provided with a refrigerant circulation circuit cooling mechanism for circulating a refrigerant between the gas field ionization ion source and the refrigerator.例文帳に追加
本発明は、ガス電界電離イオン源を備えたイオン顕微鏡において、ガス電界電離イオン源を冷却する冷凍機をイオン顕微鏡本体とは独立に設置し、ガス電界電離イオン源と冷凍機の間で冷媒を循環させる冷媒循環回路冷却機構を設けることに関する。 - 特許庁
GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
ガス電界電離イオン源,走査荷電粒子顕微鏡,光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁
FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加
電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁
To provide a field-ion microscope for atom probes in which evaporated atomic elements from a sample by application of electric field are always drawn to a mass spectrometry system.例文帳に追加
試料から電界蒸発した原子が常に質量分析系に導かれるアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide an ion microscope capable of assessing quality of a conductive tip (needle-like electrode tip) used in a gas field ion source (electrical field ionization gas ion source).例文帳に追加
気体電界イオン源(電界電離ガスイオン源)の導電性先端(針状電極先端)の品質を評価できるようにしたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁
In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope.例文帳に追加
このように、図1の装置では、AFMにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。 - 特許庁
To provide an ion microscope excellent in versatility and long-term reliability having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source.例文帳に追加
気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ10nm以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an ion microscope having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source, and excellent in versatility and long term reliability.例文帳に追加
気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ10nm以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を実現する。 - 特許庁
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