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大規模キャンパスの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。例文帳に追加
To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit. - 特許庁
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