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統計的破壊の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
絶縁体薄膜の信頼性評価において、絶縁破壊の確率過程にシリコンウェーハ表面の品質状態を数理統計的に組み込ませる。例文帳に追加
To provide a simulation method mathematically and statistically incorporating quality states of a silicon wafer surface into a stochastic process of dielectric breakdown in the evaluation of the reliability of an insulator thin film. - 特許庁
半導体装置の製造過程において、エッチングによる構成層のダメージを、非破壊に、且つ、少ない工数を以って統計的に評価することができる半導体装置の損傷評価方法および製造方法と、半導体装置の損傷評価装置を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor-device damage evaluation method capable of statistically evaluating the damage of a constitution layer caused by etching, by a nondestructive manner with a small number of man-hours during the manufacturing process of the semiconductor device, to provide a manufacturing method for the semiconductor device, and to provide a damage evaluation apparatus for the semiconductor device. - 特許庁
例文 (2件) |
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