例文 (999件) |
計装法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 12527件
半導体集積回路設計装置およびその設計方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
DNA計測装置、及びDNA計測方法例文帳に追加
DNA MEASUREMENT APPARATUS AND DNA MEASUREMENT METHOD - 特許庁
複屈折率計算方法及び複屈折率計算装置例文帳に追加
BIREFRINGENCE INDEX CALCULATION METHOD AND BIREFRINGENCE INDEX CALCULATION DEVICE - 特許庁
逆運動学計算方法及び逆運動学計算装置例文帳に追加
INVERSE KINEMATICS COMPUTING METHOD AND INVERSE KINEMATICS COMPUTING DEVICE - 特許庁
集積回路設計装置及び集積回路設計方法例文帳に追加
INTEGRATED CIRCUIT DESIGNING DEVICE AND INTEGRATED CIRCUIT DESIGNING METHOD - 特許庁
暗号回路設計装置および暗号回路設計方法例文帳に追加
CRYPTOGRAPHIC CIRCUIT DESIGN DEVICE AND CRYPTOGRAPHIC CIRCUIT DESIGN METHOD - 特許庁
半導体集積回路の設計方法と設計装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路の設計の方法および設計装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路の設計方法及びその設計装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
回転体トルク計測装置およびトルク計測方法例文帳に追加
TORQUE MEASURING INSTRUMENT AND TORQUE MEASURING METHOD FOR ROTATING BODY - 特許庁
二酸化窒素の濃度計測方法及び濃度計測装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CONCENTRATION OF NITROGEN DIOXIDE - 特許庁
干渉計装置及び収差計測方法例文帳に追加
INTERFEROMETER DEVICE AND ABERRATION MEASURING METHOD - 特許庁
半導体集積回路設計方法および設計装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DESIGNING METHOD AND DEVICE - 特許庁
スペクトル計測装置およびスペクトル計測方法例文帳に追加
SPECTRUM MEASUREMENT DEVICE AND SPECTRUM MEASUREMENT METHOD - 特許庁
半導体装置の設計システムおよび設計方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体装置の設計方法及び設計システム例文帳に追加
DESIGNING METHOD AND SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
シールド回路設計装置およびシールド回路設計方法例文帳に追加
SHIELD CIRCUIT DESIGN DEVICE AND SHIELD CIRCUIT DESIGN METHOD - 特許庁
照度分布計測装置および照度分布計測方法例文帳に追加
ILLUMINANCE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE AND METHOD THEREOF - 特許庁
半導体設計方法および半導体設計装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DESIGN METHOD AND SEMICONDUCTOR DESIGN DEVICE - 特許庁
半導体装置設計システムおよび設計方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
回路基板設計支援装置および回路基板設計方法例文帳に追加
CIRCUIT BOARD DESIGNING SUPPORT DEVICE AND CIRCUIT BOARD DESIGN METHOD - 特許庁
杭の角度計測装置、および杭の角度計測方法例文帳に追加
PILE ANGLE MEASUREMENT APPARATUS AND PILE ANGLE MEASUREMENT METHOD - 特許庁
半導体装置の設計方法及び設計プログラム例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE DESIGNING METHOD AND PROGRAM - 特許庁
酸化層厚さ計測装置およびその計測方法例文帳に追加
OXIDATION LAYER THICKNESS MEASURING DEVICE AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁
回路設計支援装置、回路設計方法、およびプログラム例文帳に追加
CIRCUIT DESIGN SUPPORTING DEVICE, METHOD FOR DESIGNING CIRCUIT, AND PROGRAM - 特許庁
噴射角度計測装置、及び、噴射角度計測方法例文帳に追加
JET ANGLE MEASUREMENT DEVICE AND JET ANGLE MEASUREMENT METHOD - 特許庁
統計多重制御装置および統計多重制御方法例文帳に追加
STATISTICAL MULTIPLEX CONTROL DEVICE AND STATISTICAL MULTIPLEX CONTROL METHOD - 特許庁
計測装置及び波形計測表示方法例文帳に追加
MEASUREMENT DEVICE AND WAVEFORM MEASUREMENT DISPLAY METHOD - 特許庁
電子スピン共鳴の計測方法および計測装置例文帳に追加
MEASUREMENT METHOD AND DEVICE OF ELECTRON SPIN RESONANCE - 特許庁
配線設計支援装置及び配線設計支援方法例文帳に追加
WIRING DESIGN SUPPORT APPARATUS AND WIRING DESIGN SUPPORT METHOD - 特許庁
回路設計支援装置及び回路設計支援方法例文帳に追加
CIRCUIT DESIGN SUPPORT APPARATUS AND CIRCUIT DESIGN SUPPORT METHOD - 特許庁
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