「透過電子顕微鏡法」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片例文帳に追加

METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料例文帳に追加

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。例文帳に追加

ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法例文帳に追加

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD - 特許庁

透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD - 特許庁

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法例文帳に追加

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡及び撮影方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡及びその制御方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁

透過電子顕微鏡の収差補正方法例文帳に追加

ABERRATION COMPENSATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置例文帳に追加

AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法例文帳に追加

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法例文帳に追加

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具例文帳に追加

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG - 特許庁

３次元像構築方法および透過電子顕微鏡例文帳に追加

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料作成方法例文帳に追加

SAMPLE CREATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME - 特許庁

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の試料製造方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡の試料移動方法。例文帳に追加

SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過形電子顕微鏡及びその動作方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡による観察方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の調製方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法例文帳に追加

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法例文帳に追加

PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法例文帳に追加

METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN - 特許庁

透過型電子顕微鏡及び立体観察法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法例文帳に追加

MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡による試料観察方法例文帳に追加

TEST PIECE OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁