「INSPECTING」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGING DEVICE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

撮像素子検査装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの検査方法 - 特許庁

ILLUMINATING LIGHT INSPECTING SYSTEM例文帳に追加

照明灯検査システム - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

表面疵検査装置 - 特許庁

SHEET PACKAGE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

シート包装検査装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM INSPECTING METHOD例文帳に追加

電子ビーム検査方法 - 特許庁

BONDING WIRE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

ボンディングワイヤ検査装置 - 特許庁

EDDY CURRENT PROBE, INSPECTING SYSTEM AND INSPECTING METHOD例文帳に追加

渦電流プローブ、検査システム及び検査方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス検査装置及び検査方法 - 特許庁

BIOCHIP INSPECTING DEVICE AND BIOCHIP INSPECTING METHOD例文帳に追加

バイオチップ検査装置およびバイオチップ検査方法 - 特許庁

INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS FOR SUBSTRATE SURFACE例文帳に追加

基板表面の検査方法及び検査装置 - 特許庁

LIQUID INSPECTING METHOD AND LIQUID INSPECTING DEVICE例文帳に追加

液体の検査方法および液体検査装置 - 特許庁

SYSTEM FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER, AND INSPECTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハの検査システム及び検査方法 - 特許庁

INSPECTING AND INFORMATION PROCESSING METHOD AND INSPECTING SYSTEM THEREOF例文帳に追加

検査情報処理方法及びその検査システム - 特許庁

INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査方法及び検査装置 - 特許庁

GROMMET SEAL INSPECTING METHOD AND SEAL INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

グロメットのシール検査方法及びシール検査装置 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL PANEL INSPECTING APPARATUS AND ITS INSPECTING METHOD例文帳に追加

液晶パネル検査装置及びその検査方法 - 特許庁

INSPECTING APPARATUS OF SUBSTRATE, AND INSPECTING METHOD OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の検査装置、および、基板の検査方法 - 特許庁

MEDICAMENT INSPECTING METHOD AND MEDICAMENT INSPECTING APPARATUS FOR PORTION PACKAGED MEDICAMENT例文帳に追加

分包薬剤の検薬方法と検薬装置 - 特許庁

MOLDING INSPECTING DEVICE AND MOLDING INSPECTING METHOD例文帳に追加

成形品検査装置及び成形品検査方法 - 特許庁

LIQUID DISCHARGE DEVICE, INSPECTING DEVICE, AND INSPECTING METHOD例文帳に追加

液体吐出装置、検査装置、及び、検査方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING INSPECTING METHOD AND IMAGE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

画像処理検査方法および画像検査装置 - 特許庁

BRAIN FUNCTION INSPECTING METHOD AND BRAIN FUNCTION INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

脳機能検査方法及び脳機能検査装置 - 特許庁

CUTTING TOOL BREAKAGE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

刃具折損検査装置 - 特許庁

SPOT WELDING INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

スポット溶接検査装置 - 特許庁

SUPERPOSITION INSPECTING METHOD例文帳に追加

重ね合わせ検査方法 - 特許庁

MOUNTED SUBSTRATE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

実装基板検査装置 - 特許庁

CONSTRUCTION QUALITY INSPECTING SYSTEM例文帳に追加

施工品質検査システム - 特許庁

LARGE SUBSTRATE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

大型基板検査装置 - 特許庁

MOUNTED PART INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

実装部品検査装置 - 特許庁

ROUND BAR MATERIAL INSPECTING METHOD例文帳に追加

丸棒材検査方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

検査装置及び方法 - 特許庁

CONTAINER LABEL INSPECTING DEVICE例文帳に追加

容器のラベル検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

基板外観検査装置 - 特許庁

TIRE INNER SURFACE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

タイヤ内面検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

APPARATUS FOR INSPECTING BONDING WIRE例文帳に追加

ボンディングワイヤ検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査方法 - 特許庁

TRANSPARENT SUBSTRATE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

透明基板検査装置 - 特許庁

WIRING PATTERN INSPECTING DEVICE例文帳に追加

配線パターン検査装置 - 特許庁

INSPECTING APPARATUS FOR WAFER DEFECTS例文帳に追加

ウエハ欠陥検査装置 - 特許庁

LARGE SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

大型基板検査装置 - 特許庁

ELECTRICAL CHARACTERISTIC INSPECTING PROBE例文帳に追加

電気特性検査プローブ - 特許庁

POWDER AND GRAIN INSPECTING DEVICE例文帳に追加

粉粒体検査装置 - 特許庁

AUTOMATIC FAULT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

自動欠陥検査装置 - 特許庁