「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(96ページ目) - Weblio英語例文検索

CARTRIDGE FOR AUTOMATIC MEASUREMENT, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

自動測定用カートリッジおよび測定方法 - 特許庁

TEST MEASURING APPARATUS AND SIGNAL DIGITIZATION METHOD例文帳に追加

試験測定装置及び信号デジタル化方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HEXAVALENT CHROMIUM例文帳に追加

六価クロムの測定方法及び測定装置 - 特許庁

SPEED MEASURING DEVICE AND SPEED MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

速度計測装置および速度計測方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING PIPE DIAMETER USING ACOUSTIC SENSOR例文帳に追加

音響センサを用いた管径の測定方法 - 特許庁

ELECTROOPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

電気光学定数測定方法および装置 - 特許庁

PULSED LASER RANGING SYSTEM AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

パルスレーザ測距装置およびその測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING PIPE LENGTH, AND APPARATUS例文帳に追加

パイプ測長方法およびパイプ測長装置 - 特許庁

WEAR AMOUNT MEASURING DEVICE FOR TIRE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

タイヤの摩耗量測定装置及び方法 - 特許庁

BUILDING HEIGHT MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

建物高さ測量方法およびその装置 - 特許庁

WATER QUALITY MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

水質測定方法及び水質測定装置 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

画像形成装置及び膜厚測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING VI CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハのＶＩ特性測定方法 - 特許庁

OPTICAL INTENSITY SPECTRUM MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

光強度スペクトル測定方法および装置 - 特許庁

MULTIPLE ANGLE MEASURING SYSTEM AND METHOD FOR DISPLAY例文帳に追加

ディスプレーの多角度計測システム及び方法 - 特許庁

MEASURING AND SURVEYING METHOD USING DIGITAL IMAGE例文帳に追加

デジタル画像を利用した計測・測量方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CONCENTRATION OF DISSOLVED GAS例文帳に追加

溶存ガス濃度の測定方法及び装置 - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING C/N RATIO, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

Ｃ／Ｎ比測定装置、方法、記録媒体 - 特許庁

LUMINOSITY MEASURING METHOD FOR HEADLIGHT TESTER, AND ITS DEVICE例文帳に追加

ヘッドライトテスタ光度測定方法とその装置 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL SAMPLING PROBER AND MEASURING METHOD例文帳に追加

電気光学サンプリングプローバ及び測定方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD FOR SURFACE PROPERTY MEASURING APPARATUS例文帳に追加

表面性状測定装置の校正方法 - 特許庁

POSITION MEASURING METHOD OF OBJECT AND ITS DEVICE例文帳に追加

物体の位置測定方法及びその装置 - 特許庁

MEASURING APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD FOR MOBILE BODY例文帳に追加

移動体の測定装置および測定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ON-RESISTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びオン抵抗測定方法 - 特許庁

PLASMA POTENTIAL MEASURING METHOD AND PROBE FOR MEASUREMENT例文帳に追加

プラズマ電位測定方法と測定用プローブ - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL SAMPLING PROBER AND MEASURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電気光学サンプリングプローバ及び測定方法 - 特許庁

DISPLAY PERFORMANCE MEASURING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

表示性能測定装置およびその方法 - 特許庁

NETWORK DELAY MEASURING METHOD AND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

ネットワーク遅延計測方法及び通信システム - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING WAVELENGTH例文帳に追加

波長測定装置及び波長測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF POLARIZATION CROSSTALK OF OPTICAL COMPONENT例文帳に追加

光部品の偏波クロストークの測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR OUTPUT CHARACTERISTIC OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池出力特性の測定方法 - 特許庁

MUSCLE FATIGUE DEGREE MEASURING DEVICE OR METHOD例文帳に追加

筋肉疲労度合い測定装置又は方法 - 特許庁

NETWORK QUALITY MEASURING INSTRUMENT AND METHOD THEREOF例文帳に追加

ネットワーク品質計測装置及びその方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING GRANULARITY OF BLAST FURNACE CHARGE MATERIAL例文帳に追加

高炉装入原料の粒度測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESISTANCE VALUE OF CONTACT HOLE SIDEWALL例文帳に追加

コンタクトホール側壁の抵抗値測定方法 - 特許庁

SMEAR TYPE METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RADIATION例文帳に追加

スミヤ式放射線測定方法及び装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND METHOD FOR TAPE TENSION VARIATION例文帳に追加

テープテンション変動測定装置および方法 - 特許庁

APPARATUS FOR AND METHOD OF MEASURING DIFFERENTIAL SPECTRUM例文帳に追加

微分スペクトル測定装置及び測定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING LIQUID MEMBRANE THICKNESS例文帳に追加

液膜厚の測定装置及び測定方法 - 特許庁

CHIRAL DISCRIMINATING OR OPTICAL PURITY MEASURING METHOD例文帳に追加

キラル識別又は光学純度測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING METAL CONTAMINANT例文帳に追加

金属汚染物質測定方法及び装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF WORKPIECE SURFACE HARDENED LAYER DEPTH例文帳に追加

ワーク表面硬化層深さの測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING ELECTROMECHANICAL CHARACTERISTIC OF PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

圧電素子の電気機械特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING TRAFFIC OF RADIO BASE STATION SYSTEM例文帳に追加

無線基地局装置のトラヒック測定方法 - 特許庁

QUANTITY MEASURING METHOD FOR DIETARY FIBER AND KIT THEREFOR例文帳に追加

食物繊維の定量法及びそのキット - 特許庁