「PROFILE MEASURING」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

THICKNESS PROFILE MEASURING DEVICE例文帳に追加

厚さプロファイル測定装置 - 特許庁

ROAD TRAVERSING PROFILE MEASURING DEVICE例文帳に追加

道路縦断プロファイル測定装置 - 特許庁

PROFILE MEASURING APPARATUS AND OPERATING METHOD例文帳に追加

輪郭測定装置及び動作方法 - 特許庁

CAM PROFILE MEASURING DEVICE例文帳に追加

カムプロファイル測定装置 - 特許庁

ROLL PROFILE MEASURING METHOD例文帳に追加

ロールプロフィール計測方法 - 特許庁

PROFILE MEASURING DEVICE FOR WIRE AND ROD MATERIAL例文帳に追加

線棒材のプロフィル測定装置 - 特許庁

TIRE PROFILE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

タイヤプロファイル形状測定装置 - 特許庁

CAM PROFILE MEASURING DEVICE AND CAM PROFILE MEASURING METHOD例文帳に追加

カムプロフィール測定装置及びカムプロフィール測定方法 - 特許庁

This is the cam profile measuring device for measuring profile of a cam 1.例文帳に追加

カム１のプロファイルを測定するカムプロファイル測定装置。 - 特許庁

SURFACE PROFILE MEASURING METHOD, SURFACE PROFILE MEASURING APPARATUS, AND ALIGNMENT APPARATUS例文帳に追加

表面形状測定方法、表面形状測定装置および位置合わせ装置 - 特許庁

PROFILE MEASURING APPARATUS, AND PROFILE MEASURING METHOD FOR LASER LIGHT例文帳に追加

プロファイル測定装置及びレーザ光のプロファイル測定方法 - 特許庁

PROFILE MEASURING APPARATUS AND ITS MEASURING PRESSURE CONTROL METHOD例文帳に追加

形状測定装置とその測定圧制御方法 - 特許庁

SURFACE PROFILE MEASURING APPARATUS AND SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

表面形状測定装置および表面形状測定方法 - 特許庁

BEAM PROFILE MEASURING METHOD, BEAM PROFILE MEASURING DEVICE, LASER BEAM MACHINING METHOD, AND LASER MACHINING DEVICE例文帳に追加

ビームプロファイル計測方法、ビームプロファイル計測装置、レーザ加工方法、及び、レーザ加工装置 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS, POTENTIAL PROFILE MEASURING DEVICE AND POTENTIAL PROFILE MEASURING METHOD例文帳に追加

画像形成装置、電位プロファイル測定装置、及び電位プロファイル測定方法 - 特許庁

The present invention can be applied to the profile measuring apparatus for measuring the 3-dimensional profile of the testing object.例文帳に追加

本発明は、被検物の３次元の形状を計測する形状測定装置に適用できる。 - 特許庁

The present invention is applicable to the profile measuring apparatus for measuring the 3-dimensional profile of the testing object.例文帳に追加

本発明は、被検物の３次元の形状を計測する形状測定装置に適用できる。 - 特許庁

MEASURING METHOD OF LONGITUDINAL SECTION PROFILE OF ROAD FACE AND MEASURING METHOD OF ROAD FACE PROFILE例文帳に追加

路面縦断プロファイルの測定方法及び路面プロファイルの測定方法 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING DELAY PROFILE, AND PROGRAM FOR MEASURING DELAY PROFILE例文帳に追加

遅延プロファイル測定方法、測定装置、及び遅延プロファイル測定用プログラム - 特許庁

PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING APPARATUS, PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING METHOD, AND PROFILE IRREGULARITY AND SURFACE DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

面精度測定及び表面欠陥観察装置、面精度測定及び表面欠陥観察方法、並びに面精度及び表面欠陥の検査方法 - 特許庁

PROFILE MEASURING METHOD OF REFRACTORY, AND THICKNESS MEASURING METHOD OF REFRACTORY例文帳に追加

耐火物のプロファイル測定方法及び耐火物の厚み測定方法 - 特許庁

DOPANT PROFILE MEASURING THIN PIECE SAMPLE PREPARING METHOD例文帳に追加

ドーパントプロファイル測定用薄片試料作成方法 - 特許庁

LINE FOCUSING TYPE FOURIER DOMAIN INTERFERENCE PROFILE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

線集光型フーリエドメイン干渉形状計測装置 - 特許庁

BEAM PROFILE MEASURING DEVICE AND LASER PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

ビームプロファイル測定装置及びレーザ加工装置 - 特許庁

SURFACE PROFILE MEASURING METHOD AND INTERFEROMETER例文帳に追加

表面形状の測定方法および干渉計 - 特許庁

CROSS DIRECTION PROFILE MEASURING METHOD AND ITS APPARATUS例文帳に追加

幅方向プロファイル測定方法およびその装置 - 特許庁

BEAM PROFILE MEASURING INSTRUMENT AND LASER MACHINING DEVICE例文帳に追加

ビームプロファイル計測装置及びレーザ加工装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR DYNAMIC PROFILE OF TIRE例文帳に追加

タイヤ動的プロファイル測定方法 - 特許庁

GRID-PATTERN PROJECTION TYPE SURFACE PROFILE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

格子パターン投影型表面形状計測装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF ROAD FACE LONGITUDINAL PROFILE例文帳に追加

路面縦断プロファイルの測定方法 - 特許庁

FORCE SENSOR, LOAD DETECTOR AND PROFILE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

力センサ、荷重検出装置及び形状測定装置 - 特許庁

OFDM WAVE DELAY PROFILE MEASURING DEVICE例文帳に追加

ＯＦＤＭ波遅延プロファイル測定装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ROLL PROFILE例文帳に追加

ロールプロフィールの測定方法および装置 - 特許庁

VERTICAL PROFILE MEASURING METHOD OF COEFFICIENT OF HORIZONTAL PERMEABILITY例文帳に追加

水平透水係数の鉛直分布測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND DEVICE FOR THICKNESS PROFILE例文帳に追加

厚さプロファイルの測定方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING REFRACTORY PROFILE IN CONVERTER例文帳に追加

転炉耐火物プロフィール測定方法 - 特許庁

MEASURING APPARATUS FOR SHAPE OF TOOTH PROFILE ON BRAKE ROLL例文帳に追加

ブレーキロールの歯形形状測定装置 - 特許庁

CURVED MIRROR AND MEASURING METHOD FOR SURFACE PROFILE例文帳に追加

曲面ミラー及び面形状の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING THICKNESS PROFILE OF MATERIAL例文帳に追加

材料の厚さプロファイルの測定方法 - 特許庁

PROFILE MEASURING APPARATUS FOR SPECIAL SHAPE ARTICLE例文帳に追加

特殊形状物品の形状計測装置 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING THICKNESS PROFILE OF MATERIAL例文帳に追加

材料の厚さプロファイル測定のための装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SURFACE PROFILE OF OBJECT例文帳に追加

物体の表面プロファイルを測定する方法及び装置 - 特許庁

DELAY PROFILE MEASURING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

遅延プロファイル測定装置、方法及びプログラム - 特許庁

DELAY PROFILE MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

遅延プロファイル測定方法および装置 - 特許庁

BEAM PROFILE MEASURING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ビームプロファイル測定装置および方法 - 特許庁