「Scanning Electron Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の走査回路 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR ANALYSIS例文帳に追加

分析走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査干渉電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査Ｘ線電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁

DOWNSIZED SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

小型の走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ALIGNMENT METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

スピン偏極走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料ホルダ - 特許庁

And under the scanning electron microscope例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を使うと - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

DIFFERENTIAL PUMPING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

差動排気走査形電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMETER例文帳に追加

モノクロメータ付走査形電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用観察装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁

CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

断面観察用走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 - 特許庁

HYSTERESIS CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のヒステリシス補正方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SIMILAR DEVICE例文帳に追加

走査電子顕微鏡および類似装置 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁

DISTORTION CORRECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の歪み補正装置 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の対物レンズ - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の校正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH MONOCHROMATOR例文帳に追加

モノクロメータを備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

REFLECTION ELECTRON DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の反射電子検出装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子線照射装置及び走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS例文帳に追加

ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁

FOCUSING DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の焦点合わせ装置 - 特許庁

FOCUSING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における焦点装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁