「Scanning Electron Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

IMPROVED ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

改良された環境型走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁

PLASMA GENERATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

プラズマ発生装置及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型２次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁

VARIABLE RATE SCANNING IN AN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における可変速度スキャニング - 特許庁

CHARGED PARTICLE TUBE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子管および走査電子顕微鏡 - 特許庁

As I say, every home should have a scanning electron microscope例文帳に追加

家には電子顕微鏡を置くべきです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM AXIS ALIGNING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡および電子ビームの軸合わせ方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION EQUIPMENT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置および走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR REFLECTION ELECTRON DETECTOR FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び試料作成方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡およびその観察方法 - 特許庁

LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁

90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用９０°変換試料台 - 特許庁

TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION例文帳に追加

ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS USING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた測長方法 - 特許庁

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING SYSTEM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び半導体検査システム - 特許庁

SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

MONOCHROMATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMATOR例文帳に追加

モノクロメータ及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT DETECTOR DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁

SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の試料の作製方法 - 特許庁

IMAGE COMPENSATING APPARATUS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における画像補償装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE FOR DIMENSION CALIBRATION例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料 - 特許庁

CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁

VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および該装置の制御方法 - 特許庁

PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁