Spectrometerを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1221件
ION MOBILITY SPECTROMETER AND IONIC MOBILITY SPECTROSCOPY例文帳に追加
イオン移動度分光計及びイオン移動度分光法 - 特許庁
MASS SPECTROMETER AND MEASURING SYSTEM USING SAME例文帳に追加
質量分析装置およびこれを用いる計測システム - 特許庁
EMISSION SPECTROMETER HAVING CHARGE COUPLED DEVICE DETECTOR例文帳に追加
電荷結合素子検出器を有する発光分光計 - 特許庁
DETECTOR FOR BIPOLAR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加
バイポーラ型飛行時間質量分析計用のディテクター - 特許庁
SMALL-SIZED TIME OF FLIGHT TYPE SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加
小型飛行時間型二次イオン質量分析装置 - 特許庁
ION SOURCE, MASS SPECTROMETRIC METHOD, AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加
イオン源、質量分析方法及び質量分析計 - 特許庁
SEMIPERMEABLE MEMBRANE ELEMENT FOR ION MOBILE SPECTROMETER例文帳に追加
半透過性のイオン可動性スペクトロメ—タ用メンブレン要素 - 特許庁
ION SOURCE AND MASS SPECTROMETER USING IT例文帳に追加
イオン源及びそのイオン源を用いた質量分析計 - 特許庁
ATOMIC ABSORPTION SPECTROMETER AND ATOMIC ABSORPTION ANALYSIS METHOD例文帳に追加
原子吸光分析装置および原子吸光分析法 - 特許庁
MASS SPECTROMETER DATA PROCESSOR AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
質量分析計データ処理装置およびデータ処理方法 - 特許庁
IMAGING METHOD OF INSPECTION VOLUME IN MAGNETIC RESONANCE SPECTROMETER例文帳に追加
磁気共鳴スペクトロメータ内の検査ボリュームの撮像方法 - 特許庁
TANDEM TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY AND SPECTROMETER例文帳に追加
タンデム型飛行時間型質量分析法および装置 - 特許庁
TANDEM TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER AND METHOD例文帳に追加
タンデム型飛行時間型質量分析装置および方法 - 特許庁
ELECTRON SPECTROMETER AND ELECTRON SPECTROMETRY METHOD例文帳に追加
電子分光分析装置及び電子分光分析方法 - 特許庁
CAVITY RING-DOWN SPECTROMETER EQUIPPED WITH MIRROR REFLECTOR ISOLATOR例文帳に追加
反射鏡アイソレータを有するキャビティリングダウン分光計 - 特許庁
RAMAN SPECTROMETER AND RAMAN SPECTRAL METHOD USING SAME例文帳に追加
ラマン分光装置、及びこれを用いたラマン分光方法 - 特許庁
ION TRAP, MASS SPECTROMETER, AND ION MOBILITY ANALYZER例文帳に追加
イオントラップ、質量分析計およびイオンモビリティ分析計 - 特許庁
IONIZATION VACUUM GAGE, AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME例文帳に追加
電離真空計及びこれを用いた質量分析計 - 特許庁
IONIZING METHOD FOR MASS SPECTROMETRY AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加
質量分析のイオン化方法および質量分析装置 - 特許庁
SPECTRUM PROCESSING METHOD FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加
飛行時間型質量分析計のスペクトル処理方法 - 特許庁
a distribution of ions as shown by a mass spectrograph or a mass spectrometer 例文帳に追加
質量分光器によって示されるイオンの分配 - 日本語WordNet
PLASMA ION SOURCE THREE-DIMENSIONAL QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER例文帳に追加
プラズマイオン源3次元4重極型質量分析装置 - 特許庁
LASER DESORPTION IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加
レーザ脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 - 特許庁
INTERFEROMETER AND FOURIER TRANSFORM SPECTROMETER INCLUDING THE SAME例文帳に追加
干渉計およびそれを備えたフーリエ変換分光器 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER例文帳に追加
電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE ANALYSIS METHOD AND GAS CHROMATOGRAPH-MASS SPECTROMETER例文帳に追加
試料分析方法及びガスクロマトグラフ質量分析装置 - 特許庁
FOCUSED ION-BEAM MASS SPECTROMETER AND ANALYSIS METHOD THEREOF例文帳に追加
集束イオンビーム質量分析装置および分析方法 - 特許庁
OPTICAL SPECTROMETER AND METHOD FOR COMBUSTION FLAME TEMPERATURE MEASUREMENT例文帳に追加
光学分光計及び燃焼火炎温度測定方法 - 特許庁
FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETER, AND PROGRAM USED THEREFOR例文帳に追加
蛍光X線分析装置およびそれに用いるプログラム - 特許庁
A WDS spectrometer can analyze light elements from boron on down. 例文帳に追加
WDS分光計は、ボロン以下の軽い元素を分析できる。 - 科学技術論文動詞集
MICRO-SPRAY COLUMN AND MASS SPECTROMETER, AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加
マイクロスプレーカラムと質量分析計及び質量分析方法 - 特許庁
DRIFT LENGTH SELECTABLE TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加
ドリフト長を選択可能な飛行時間型質量分析計 - 特許庁
ELECTRO-SPRAY ION SOURCE AND MASS SPECTROMETER EQUIPPED WITH IT例文帳に追加
エレクトロスプレイイオン源及びそれを備えた質量分析計 - 特許庁
APPARATUS FOR ESTIMATING TEMPERATURE, AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加
温度推定装置及び飛行時間型質量分析装置 - 特許庁
ION FILTER, MASS SPECTROMETRY SYSTEM, AND ION MOBILITY SPECTROMETER例文帳に追加
イオンフィルタ、質量分析システムおよびイオン移動度分光計 - 特許庁
INDUCTION COUPLED PLASMA THREE-DIMENSIONAL QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER例文帳に追加
誘導結合プラズマ3次元四重極質量分析装置 - 特許庁
To increase analytical sensitivity of a laser ionized mass spectrometer.例文帳に追加
レーザーイオン化質量分析装置の分析感度を高める。 - 特許庁
COLLIMATOR OPTICAL SYSTEM FOR INTERFEROMETER, INTERFEROMETER, AND SPECTROMETER例文帳に追加
干渉計用コリメータ光学系、干渉計および分光器 - 特許庁
LIGHT FILTER, LIGHT FILTER MODULE, SPECTROMETER, AND OPTICAL APPARATUS例文帳に追加
光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器 - 特許庁
OPTICAL FILTER, OPTICAL FILTER MODULE, SPECTROMETER AND OPTICAL APPARATUS例文帳に追加
光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器 - 特許庁
INTERFACE FOR MASS SPECTROMETER AND MASS SPECTROMETRIC SYSTEM例文帳に追加
質量分析計用インターフェイスおよび質量分析システム - 特許庁
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