「Test probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE CARD FOR WAFER TEST例文帳に追加

ウエハテスト用プローブカード - 特許庁

VARIABLE IMPEDANCE TEST PROBE例文帳に追加

可変インピーダンステストプローブ - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TEST PROBE例文帳に追加

集積回路テストプローブ - 特許庁

PROBE CARD FOR DEVELOPMENT TEST例文帳に追加

開発テスト用プローブカード - 特許庁

PROBE FOR TEST PRIOR TO MOUNTING例文帳に追加

実装前試験用プローブ - 特許庁

SEMICONDUCTOR PROBE TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体プローブ検査装置 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び試験装置 - 特許庁

PROBE FOR ENERGIZATION TEST AND PROBE ASSEMBLY例文帳に追加

通電試験用プローブ及びプローブ組立体 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD例文帳に追加

プローブカードおよび試験方法 - 特許庁

CLEANING PAD FOR TEST PROBE AND METHOD FOR CLEANING TEST PROBE例文帳に追加

テストプローブ用のクリーニングパッドおよびテストプローブのクリーニング方法 - 特許庁

PROBE FOR ENERGIZATION TEST, AND PROBE ASSEMBLY FOR ENERGIZATION TEST例文帳に追加

通電試験用プローブおよび通電試験用プローブ組立体 - 特許庁

PROBE CARD FOR HIGH TEMPERATURE TEST AND TEST EQUIPMENT例文帳に追加

高温テスト用プローブカード及びテスト装置 - 特許庁

PROBE FOR EDDY CURRENT TEST例文帳に追加

渦流探傷試験用プローブ - 特許庁

PROBE FOR TEST OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト用プローブ - 特許庁

PROBE ASSEMBLY FOR ENERGIZATION TEST例文帳に追加

通電試験用プローブ組立体 - 特許庁

PROBE MANUFACTURING METHOD, PROBE STRUCTURE, PROBE DEVICE AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プローブ製造方法、プローブ構造体、プローブ装置、および試験装置 - 特許庁

PROBE ASSEMBLY AND TEST DEVICE例文帳に追加

プローブ組立体及び検査装置 - 特許庁

PROBE TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

プローブテスト装置およびその方法 - 特許庁

FAILURE IDENTIFICATION MARK FOR WAFER PROBE TEST例文帳に追加

ウェハプローブテストの不良識別マーク - 特許庁

TEST PROBE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体パッケージのテスト用プローブ及びテスト方法 - 特許庁

WAFER TEST SYSTEM, PROBER, WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

ウエハテストシステム、プローバ、ウエハテスト方法及びプローブカード - 特許庁

PROBE CARD, PROBE CARD MANUFACTURING METHOD, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの製造方法及び試験装置 - 特許庁

PROBE UNIT AND CONTINUITY TEST METHOD例文帳に追加

プローブユニット及び導通試験方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND CONTINUITY TEST METHOD例文帳に追加

プローブユニット及び導通検査方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE APPARATUS, PROBE TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE PIN AND TEST HEAD EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

プローブピン、および、それを備えるテストヘッド - 特許庁

EDDY-CURRENT TEST PROBE AND EDDY-CURRENT TEST METHOD USING THE PROBE例文帳に追加

渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いた渦流探傷検査方法 - 特許庁

PROBE DEVICE, PROCESSING APPARATUS, AND METHOD OF PROCESSING WAFER PROBE TEST例文帳に追加

プローブ装置、処理装置及びウェハプローブテストの処理方法 - 特許庁

PROBE FOR CURRENT-CARRYING TEST, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

通電試験用プローブ、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, CHARACTERISTIC TEST DEVICE, CHARACTERISTIC TEST TECHNIQUE AND CHARACTERISTIC TEST PROGRAM例文帳に追加

プローブカード、特性検査装置、特性検査方法および特性検査プログラム - 特許庁

IC TEST METHOD, PROBE GUARD, TEST PROBER, AND IC TESTER例文帳に追加

ＩＣテスト方法、プローブカード、検査プローバー、及びＩＣテスト装置 - 特許庁

OPTICAL TEST PROBE FOR SILICON OPTICAL BENCH例文帳に追加

シリコン光学ベンチ用の光学テスト・プローブ - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MANAGING TEST PROBE例文帳に追加

テストプローブを管理するシステムおよび方法 - 特許庁

POSITION ADJUSTMENT TOOL OF SEMICONDUCTOR TEST PROBE例文帳に追加

半導体用テストプロ—ブの位置調整用具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER TEST METHOD例文帳に追加

半導体ウェハ、プローブ装置、ウェハテスト装置及びウェハテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR PROBE TEST, PROBE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブ試験方法、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE DEVICE AND METHOD FOR CLEANING TEST OBJECT例文帳に追加

プローブ装置及び被検査体の清掃方法 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブカード及び半導体チップの試験方法 - 特許庁

TEST JIG AND PROBE FOR TEST APPARATUS OF DEVICE FOR HIGH FREQUENCY AND HIGH SPEED例文帳に追加

高周波・高速用デバイスの検査治具および検査用プローブ - 特許庁

PROBE CARD FOR TEST, TEST DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

試験用プローブカード、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST ELEMENT HOLDER WITH PROBE GUIDE FOR ANALYZER例文帳に追加

分析装置用プローブガイド付き検査要素ホルダー - 特許庁

PROBE FOR ENERGIZATION TEST, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

通電試験用プローブおよびその製造方法 - 特許庁

MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁

PROBING TEST METHOD AND PROBE CONDITION DETECTOR例文帳に追加

プロービングテスト法およびプローブ状態検出装置 - 特許庁

PROBE CARD, ELEMENT TESTING DEVICE, AND ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁