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dc特性を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
To provide a semiconductor inspection device capable of shortening the waiting time from voltage impression to measurement when a voltage impression current is measured for inspecting a DC characteristic.例文帳に追加
DC特性検査時の電圧印加電流測定時の電圧印加から測定までの待ち時間を減少する半導体検査装置の提供。 - 特許庁
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