「defect system」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MEMORY DEFECT ANALYZING SYSTEM例文帳に追加

メモリ不良解析システム - 特許庁

WORK DEFECT DETECTION SYSTEM例文帳に追加

ワーク不良検出システム - 特許庁

EQUIPMENT DEFECT NOTIFYING SYSTEM例文帳に追加

設備異常通知方式 - 特許庁

PRODUCT DEFECT CONTROL SYSTEM例文帳に追加

製品欠陥管理システム - 特許庁

NONDESTRUCTIVE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

非破壊欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT CONTROL SYSTEM AND DEFECT CONTROL METHOD例文帳に追加

欠陥管理システム及び欠陥管理方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法、及び欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT SORTING METHOD AND DEFECT SORTING SYSTEM例文帳に追加

欠陥分類方法及び欠陥分類システム - 特許庁

DEFECT DETERMINATION METHOD AND DEFECT DETERMINATION SYSTEM例文帳に追加

不良判定方法、及び不良判定システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT REMOVING METHOD AND DEFECT REMOVING SYSTEM例文帳に追加

欠陥除去方法及び欠陥除去システム - 特許庁

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

製品の不良解析システム - 特許庁

DEFECT CAUSE INVESTIGATING SYSTEM例文帳に追加

不具合原因究明システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及び欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム、および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION CORRECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システム及び欠陥検査補正方法 - 特許庁

IMPROVED DEFECT DETECTION SYSTEM例文帳に追加

不良検出システムの改良 - 特許庁

IMPROVEMENT FOR DEFECT DETECTION SYSTEM例文帳に追加

不良検出システムの改良 - 特許庁

OPTICAL SYSTEM FOR DEFECT INSPECTION, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査光学系、欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

製品不良解析支援システム - 特許庁

DEFECT JUDGING SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

欠陥判定システムおよび基板処理システム - 特許庁

DEFECT DETECTION SYSTEM, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

不良検出システム、不良検出方法及びプログラム - 特許庁

DEFECT DETECTOR FOR TAPE CARRIER, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検査システム - 特許庁

JUDGING SYSTEM FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR JUDGING MASK DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥判定システム及びマスク欠陥判定方法 - 特許庁

DEFECT CHECKING SYSTEM, DEFECT CHECKING APPARATUS AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥確認システム、欠陥確認装置および検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD, DEFECT INSPECTION SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査方法，欠陥検査システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTING MACRO DEFECT例文帳に追加

マクロ欠陥検出のためのシステム - 特許庁

DEFECT MARKING SYSTEM TO THIN STEEL SHEET例文帳に追加

薄鋼板への欠陥マーキングシステム - 特許庁

DEFECT DETECTION SELECTION CORRECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検出選別修正システム - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM AND DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

不具合情報管理システム及び不具合情報管理方法 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

基板の欠陥検査システム及び基板の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT-INSPECTION OPTICAL SYSTEM AND SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁

DISPLAY DEVICE, DEFECT DETECTING SYSTEM AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

表示装置、欠陥検出システムおよび欠陥検出方法 - 特許庁

CIRCUIT DEFECT-DETECTING SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING CIRCUIT DEFECT例文帳に追加

回路欠陥検出システム及び回路欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR SUBSTRATE AND DEFECT DETECTION SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

基板の欠陥検出方法及びその欠陥検出システム - 特許庁

DEFECT DETECTING OPTICAL SYSTEM AND SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT REPAIR SYSTEM, SERVER, DEFECT REPAIR DEVICE FOR USE IN THE DEFECT REPAIR SYSTEM, DEFECT REPAIR PROGRAM, INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEFECT REPAIR DEVICE例文帳に追加

欠陥修復システム、サーバ、欠陥修復システムに用いる欠陥修復装置、欠陥修復プログラム、情報記録媒体及び欠陥修復装置 - 特許庁

OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING SYSTEM, AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加

観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 - 特許庁