「defect-inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラム - 特許庁

OPTICAL SYSTEM FOR DEFECT INSPECTION, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査光学系、欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及び欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム、および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法，欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法 - 特許庁

TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

工具欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF COATING DEFECT INSPECTION例文帳に追加

塗装不良検査方法 - 特許庁

SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ウエーハ欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ウエーハ欠陥検査装置 - 特許庁

PHASE DIFFERENCE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

位相差欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

マスク欠陥検査装置 - 特許庁

LENS DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

レンズ欠陥検査装置 - 特許庁

FILM DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

膜欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

自動欠陥検査装置 - 特許庁

STEEL SHEET DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

鋼板欠陥検査装置 - 特許庁

SOLDERING DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

半田不良検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION TOOL例文帳に追加

表面欠陥検査冶具 - 特許庁

PAINTING DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

塗装不良検査方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査システム - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠点検出装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF DEFECT例文帳に追加

キズ検査装置および検査方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

不良検査装置および不良検査方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE AND INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD AND INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

内部欠陥検査方法および内部欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT-INSPECTION OPTICAL SYSTEM AND SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION SUPPORT DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加

欠陥検査支援装置、欠陥検査支援方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示体の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置 - 特許庁