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evaluation methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 7848件
OPERATING PROCEDURE EVALUATION DEVICE, OPERATING PROCEDURE EVALUATION METHOD, OPERATING PROCEDURE EVALUATION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
作業手順評価装置、作業手順評価方法、作業手順評価プログラム及び記録媒体 - 特許庁
REPRODUCING DEVICE AND SIGNAL QUALITY EVALUATION METHOD例文帳に追加
再生装置、信号品質評価方法 - 特許庁
CONNECTION CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
接続特性評価方法とその装置 - 特許庁
CROSS-TALK EVALUATION METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加
液晶ディスプレイのクロストーク評価方法 - 特許庁
VIDEO IMAGE QUALITY EVALUATION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
映像品質評価方法および装置 - 特許庁
EVALUATION/CALIBRATION METHOD OF INLINE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
インライン検査装置の評価・較正方法 - 特許庁
TRANSFER SYSTEM AND CAPACITY EVALUATION METHOD THEREOF例文帳に追加
搬送システムとその能力評価方法 - 特許庁
CLEANLINESS EVALUATION METHOD OF METALLIC MATERIAL例文帳に追加
金属材料の清浄度評価方法 - 特許庁
SIMPLIFIED EVALUATION METHOD OF BUILDING EARTHQUAKE RESPONSE例文帳に追加
建物地震応答の簡易評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF WINDOW LAYER FOR SOLAR CELL例文帳に追加
太陽電池用窓層の評価方法 - 特許庁
EVALUATION APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体評価装置及び評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR PLASTICITY WORKABILITY AND DEVICE例文帳に追加
塑性加工性評価方法および装置 - 特許庁
RELIABILITY EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子の信頼性評価方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND PATTERN EVALUATION METHOD例文帳に追加
電子線装置及びパターン評価方法 - 特許庁
SILICON WAFER AND ITS EVALUATION METHOD例文帳に追加
シリコンウェーハの評価方法及びシリコンウェーハ - 特許庁
PERFORMANCE EVALUATION METHOD FOR ANION-EXCHANGE RESIN例文帳に追加
アニオン交換樹脂の性能評価方法 - 特許庁
EVALUATION INFORMATION COLLECTION METHOD AND SERVER例文帳に追加
評価情報収集方法及びサーバ - 特許庁
AUTHENTICATION ALGORITHM EVALUATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
認証アルゴリズム評価装置および方法 - 特許庁
EXPOSURE VALUE EVALUATION METHOD AND PHOTO MASK例文帳に追加
露光量評価方法およびフォトマスク - 特許庁
RECOGNITION EVALUATION SYSTEM AND METHOD FOR ADVERTISEMENT例文帳に追加
広告の認識評価システム及び方法 - 特許庁
OPTICAL FIBER CORE WIRE AND ITS EVALUATION METHOD例文帳に追加
光ファイバ心線とその評価方法 - 特許庁
MEMBRANE EVALUATION METHOD IN MEMBRANE SEPARATION APPARATUS例文帳に追加
膜分離装置における膜評価方法 - 特許庁
BMD DENSITY EVALUATION METHOD OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハのBMD密度評価方法 - 特許庁
DRIED STATE EVALUATION METHOD FOR SHEET-SHAPED ELECTRODE例文帳に追加
シート状電極の乾燥評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATION AND CORRECTION OF RUBBING CLOTH例文帳に追加
ラビング布の評価および矯正方法 - 特許庁
SOLID CATALYTIC ACTIVITY EVALUATION METHOD OF POWDER例文帳に追加
粉体の固体触媒活性評価法 - 特許庁
REAL ESTATE EVALUATION SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
不動産評価システム、方法及びプログラム - 特許庁
PROJECT EVALUATION METHOD AND PROJECT SUPPORT SYSTEM例文帳に追加
プロジェクト評価方法、プロジェクト支援システム - 特許庁
INTERFERENCE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
干渉評価方法、装置、およびプログラム - 特許庁
METHOD FOR CREATING EVALUATION PATTERN, PROGRAM FOR CREATING EVALUATION PATTERN, AND PATTERN VERIFICATION METHOD例文帳に追加
評価パターン作成方法、評価パターン作成プログラムおよびパターン検証方法 - 特許庁
HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
中空糸膜モジュール及び評価方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS EVALUATION METHOD例文帳に追加
半導体装置およびその評価方法 - 特許庁
PROGRAM PERFORMANCE EVALUATION METHOD AND PROFILER例文帳に追加
プログラム性能評価方法およびプロファイラ - 特許庁
ANISOTROPY EVALUATION METHOD OF EXTENSION FLANGE FORMABILITY例文帳に追加
伸びフランジ性の異方性評価方法 - 特許庁
THIN FILM TRANSISTOR AND ITS EVALUATION METHOD例文帳に追加
薄膜トランジスタおよびその評価方法 - 特許庁
ADHESIVE SHEET CUTTING AMOUNT EVALUATION METHOD例文帳に追加
接着シートの切り込み量評価方法 - 特許庁
QUANTITATIVE AND NONDESTRUCTIVE EVALUATION METHOD FOR CRACK例文帳に追加
亀裂の定量的非破壊評価方法 - 特許庁
VIDEO DATA STREAM EVALUATION METHOD AND SYSTEM例文帳に追加
ビデオ・データ・ストリーム評価方法及びシステム - 特許庁
DAMAGE EVALUATION METHOD OF HIGH-CHROMIUM STEEL PRODUCT例文帳に追加
高クロム鋼材の損傷評価方法 - 特許庁
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