| 例文 (8件) |
fluorescent X‐ray spectrometerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加
蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法 - 特許庁
SAMPLING TOOL FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENT X-RAY SPECTROMETER USING THE SAME例文帳に追加
蛍光Ｘ線分析用試料採取治具およびそれを用いる蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁
SAMPLE PRETREATMENT DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETER PROVIDED THEREWITH例文帳に追加
蛍光Ｘ線分析用試料前処理装置およびそれを備えた蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁
DIFFERENT-SHAPE SAMPLE HOLDER FOR UNDERFACE IRRADIATION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND UNDERFACE IRRADIATION TYPE FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETER EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
下面照射蛍光Ｘ線分析用の異形試料保持具およびそれを備えた下面照射型蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁
To provide a concentration measuring method capable of measuring the concentration of a measuring object in a sample using fluorescent X-ray analysis even when the composition of the sample is different, and to provide an x-ray fluorescence spectrometer.例文帳に追加
試料の組成が異なる場合でも蛍光Ｘ線分析を利用して試料中の測定対象物の濃度を計測することができる濃度計測方法、及び蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample holder for underface irradiation fluorescent X-ray analysis used for the fluorescent X-ray analysis of various samples having different shapes, and an underface irradiation type fluorescence X-ray spectrometer equipped therewith, to effectuate thereby analytical work for the different shape samples, and to reduce thereby an expense therefor.例文帳に追加
形状の異なる様々な試料を蛍光Ｘ線分析するために用いられる下面照射蛍光Ｘ線分析用の試料保持具ならびにそれを備えた下面照射型蛍光Ｘ線分析装置を提供することにより、異形試料の分析作業の効率化と費用の削減を図ることを目的とする。 - 特許庁
To provide a device facilitating verification whether an analysis condition of a registered background measurement angle position and the like are suitable for a sample to be analyzed or not in a wavelength-dispersive scanning type fluorescent X-ray spectrometer.例文帳に追加
波長分散型で走査型の蛍光Ｘ線分析装置において、登録したバックグラウンドの測定角度位置等の分析条件が、分析対象の試料に適切か否かの検証を容易にできる装置を提供する。 - 特許庁
To provide a fluorescent X-ray spectrometer quickly accurately analyzing the thickness or the composition of a thin film in each layer of a multi-layer thin film sample.例文帳に追加
多層薄膜試料について各層の薄膜の厚さまたは組成を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、十分に迅速で正確な分析ができる装置を提供する。 - 特許庁
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