「for Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR FILM THICKNESS UNEVENNESS例文帳に追加

膜厚むらの検査装置および検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING TOXICITY IN UNDERWATER CONTAMINANT例文帳に追加

水中汚染物質の有害性試験方法 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING DEVICE FOR SHAPE MEMORY ALLOY例文帳に追加

形状記憶合金の熱サイクル試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING ACARICIDE AND MITE EXTERMINATION MEMBER例文帳に追加

ダニ駆除剤試験装置及びダニ駆除部材 - 特許庁

OUTFEED MECHANISM FOR STAR WHEEL TYPE GLASS TESTING MACHINE例文帳に追加

スターホイール型ガラス検査機用アウトフィード機構 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEQUENCER PROGRAM例文帳に追加

シーケンサプログラムの試験装置および試験方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR TESTING SYNCHRONOUS MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

同期メモリ回路をテストするためのテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CRYSTALLINITY OF SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加

半導体薄膜の結晶性検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SURFACE SHAPE例文帳に追加

表面形状検査方法およびその装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MATERIAL例文帳に追加

材料試験装置及び材料試験方法 - 特許庁

TEST RESULT VERIFICATION SERVER FOR SPECIMEN TESTING SYSTEM例文帳に追加

検体検査システムの検査結果検証サーバ - 特許庁

PROGRAM EXECUTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプログラム実行方式 - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST PAD, SUBSTRATE, AND METHOD FOR TESTING SUBSTRATE例文帳に追加

テスト用パッド、基板、及び基板の試験方法 - 特許庁

CRITICALITY ALARMING DEVICE AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

臨界警報装置およびその試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR CHLORIDE ION DIFFUSION OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの塩化物イオン拡散試験方法 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

プローブ、プローブ固定担体及び検査方法 - 特許庁

METHOD FOR RECOGNIZING OR TESTING SECURITIES例文帳に追加

有価証券を認識し又はテストする方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING FOLDABLE STATIC CONE PENETRATION例文帳に追加

折りたたみ式静的コーン貫入試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR ELEVATOR EMERGENCY CALL DEVICE例文帳に追加

エレベーター用非常通話装置の試験方法 - 特許庁

CONNECTOR STRUCTURE OF SPINDLE STAGE FOR MAGNETIC HEAD TESTING例文帳に追加

磁気ヘッドテスト用スピンドルステージのコネクタ構造 - 特許庁

EXPLOSIBILITY TESTING METHOD FOR CONCRETE OF HIGH STRENGTH例文帳に追加

高強度コンクリートの爆裂性試験方法 - 特許庁

ELECTRICAL PROPERTY TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気的特性試験装置 - 特許庁

CMOS-LSI TESTING METHOD AND DEVICE FOR IT例文帳に追加

ＣＭＯＳ−ＬＳＩ試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING RAM例文帳に追加

ＲＡＭテスト方法およびＲＡＭテスト回路 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR CONSTITUTIVE COMPONENT OF VEHICLE DRIVING SYSTEM例文帳に追加

車両駆動系構成部品の試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MOISTURE MOVEMENT CHARACTERISTIC OF FUTON例文帳に追加

ふとんの水分移動特性の試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR ADIABATIC TEMPERATURE RISE OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの断熱温度上昇試験装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING CONNECTION OF PRESS-FIT PIN例文帳に追加

プレスフィットピン接続検査方法及びシステム - 特許庁

SELF-DIAGNOSTIC SYSTEM IN TESTING DEVICE FOR IC例文帳に追加

ＩＣ試験装置における自己診断方式 - 特許庁

METHOD FOR TESTING QUALITY OF CONCRETE AND SENSING DEVICE例文帳に追加

コンクリートの品質試験方法と検知装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SELF-EXCITED CONVERTER例文帳に追加

自励式変換器の試験方法および装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR DIFFERENTIAL DISTRIBUTION TYPE HEAT SENSOR例文帳に追加

差動式分布型熱感知器の試験装置 - 特許庁

BREAKING STRENGTH TESTING METHOD FOR GAS HYDRATE PELLET例文帳に追加

ガスハイドレートペレットの破壊強度の試験方法 - 特許庁

DUT INTERFACE FOR SEMI-CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のＤＵＴインターフェース - 特許庁

OPTICAL INFORMATION MEDIUM AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

光情報媒体およびその試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ENVIRONMENT例文帳に追加

環境試験装置及び環境試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

通信装置の試験システムおよび試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OF DISPLAY PANEL例文帳に追加

ディスプレーパネルの検査装置および検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板の検査装置および検査方法 - 特許庁

RETRIEVAL SYSTEM FOR REGISTER ADDRESS OF IC TESTING APPARATUS例文帳に追加

ＩＣ試験装置のレジスタアドレス検索システム - 特許庁

METHOD FOR TESTING MICROCOMPUTER AND MICROCOMPUTER例文帳に追加

マイクロコンピュータの試験方法およびマイクロコンピュータ - 特許庁

WAFER MAP DISPLAY DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のウエハマップ表示装置 - 特許庁