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for testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
END NIPPER FOR TESTING CONDUCTION (CIRCUIT)例文帳に追加
導通(回路)試験用エンドニッパ - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験方法及び半導体デバイス試験装置 - 特許庁
TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR PRODUCTS例文帳に追加
半導体製品の試験回路 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR EXTENDABLE COMPONENT例文帳に追加
伸縮型部品の試験装置 - 特許庁
TESTING CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加
不揮発性メモリの検査回路 - 特許庁
TESTING PIECE FOR IMMUNOLOGICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
免疫測定法用試験片 - 特許庁
METHOD FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING AND APPARATUS FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING USED FOR THIS METHOD例文帳に追加
耐電圧試験方法とこの方法に使用する耐電圧試験装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR VEHICULAR ELECTRONIC MODULE例文帳に追加
車両用電子モジュールの検査装置及び検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING DC CHARACTERISTIC THEREOF例文帳に追加
半導体試験装置とそのDC特性試験方法 - 特許庁
TELEPHONE DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR TELEPHONE DEVICE例文帳に追加
電話装置試験システムおよび電話装置の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELECTRIC EQUIPMENT PROTECTION CIRCUIT例文帳に追加
電気設備保護回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
OPTICAL PULSE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE例文帳に追加
光パルス試験装置および光伝送路試験方法 - 特許庁
IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁
TESTING PROCESS AND TESTING CIRCUIT FOR DIFFERENTIAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加
差動出力回路の試験方法および試験回路 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
D/Aコンバータの試験装置およびその試験方法 - 特許庁
AIRTIGHT TESTING APPARATUS FOR PUMP FOR LIQUEFIED GAS例文帳に追加
液化ガス用ポンプの気密試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加
不揮発性メモリの試験方法 - 特許庁
ULTRASONIC TESTING DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加
コンクリートの超音波試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING TRAIN COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
列車通信システム試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING DETERIORATION OF SEALING MATERIAL例文帳に追加
シーリング材の劣化試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING AUXILIARY MACHINERY DRIVE CIRCUIT例文帳に追加
補機駆動回路の試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR IMAGE PROCESSING DEVICE例文帳に追加
画像処理装置の試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING INSULATION MONITOR例文帳に追加
絶縁監視装置の試験装置 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR WELDS例文帳に追加
溶接部の非破壊検査方法 - 特許庁
REMOTE TESTING APPARATUS FOR PROTECTIVE DEVICE例文帳に追加
保護装置の遠隔試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR NETWORK SERVICE SYSTEM例文帳に追加
ネットワークサービスシステムの試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING CURRENT COLLECTION OF PANTAGRAPH例文帳に追加
パンタグラフの集電試験装置 - 特許庁
WITHSTAND VOLTAGE TESTING JIG FOR CIRCUIT BOARD例文帳に追加
回路板の耐電圧試験治具 - 特許庁
TESTING METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC ELEMENT例文帳に追加
圧電セラミック素子の検査方法 - 特許庁
RADIO TESTING METHOD FOR MOBILE STATION例文帳に追加
移動局の無線試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加
磁気ディスク装置の試験方法 - 特許庁
DEVICE FOR CONTROLLING MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機の制御装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING PACKET TRANSMISSION CHARACTERISTIC例文帳に追加
パケット伝達特性試験装置 - 特許庁
EVALUATION TESTING APPARATUS FOR PM MOTOR例文帳に追加
PMモータの評価試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ALLERGIC DISEASE例文帳に追加
アレルギー性疾患の検査方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の温度試験装置 - 特許庁
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