セーフサーチ：オン
| 例文 |
hot state function testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
A test pattern generated in a function tester 11 is supplied to the good and defective semiconductor integrated circuits, and hot electron is emitted from the failure position of the semiconductor integrated circuit in the operating state, and detected as the emission image by an emission analytic device 12.例文帳に追加
ファンクションテスタ１１で発生されるテストパターンが良品及び不良品の半導体集積回路に供給され、動作状態の半導体集積回路の故障している箇所からホットエレクトロンが放出され、エミッション解析装置１２によって発光像として検出される。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
こんにちは ゲスト さん
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
こんにちは ゲスト さん
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
