| 例文 |
integrated methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8526件
MULTI-PASSAGE INTEGRATED JOINT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
複数流路統合継手及びその製造方法 - 特許庁
INFORMATION STORAGE INTEGRATED CIRCUIT AND INSPECTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
情報記憶集積回路およびその検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR LOGIC VERIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路用論理検証装置および方法 - 特許庁
INTEGRATED CLOSE CONTACT STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
密接一体化構造体及びその製造方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
集積回路デバイス用の検査方法および装置 - 特許庁
INTEGRATED OPTICAL MODULATOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
集積型光変調器及びその製造方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT ROUTING SPECIFICATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
集積回路経路指定実施方法およびプログラム - 特許庁
CRITICAL PATH TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CRITICAL PATH TEST SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
クリティカルパステスト方法、集積回路装置、クリティカルパステスト方式及び集積回路装置の製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路装置とその製造方法 - 特許庁
WIRING INTEGRATED TYPE SUSPENSION AND METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加
配線一体型サスペンション及びその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加
自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁
PROGRAM AND METHOD FOR ARRANGEMENT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路配置プログラム及び方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR OPTICAL INTEGRATED DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
半導体光集積素子及びその製造方法 - 特許庁
HYBRID INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
混成集積回路装置及びその製造方法 - 特許庁
POWER CONVERSION INTEGRATED CIRCUIT AND PROGRAMMING METHOD THEREFOR例文帳に追加
電力変換集積回路およびプログラミング方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF V-SHAPED GROOVE INTEGRATED TYPE OPTICAL WAVEGUIDE例文帳に追加
V溝集積型光導波路の製造方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置、試験方法 - 特許庁
INTER-INTEGRATED CIRCUIT ROUTER ERROR MANAGEMENT SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
集積回路間ルータエラー管理システムおよび方法 - 特許庁
To provide a method for routing an integrated circuit design layout.例文帳に追加
集積回路設計レイアウト用のルーティング方法。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT TIN FILM TRANSISTOR DEVICE例文帳に追加
集積回路薄膜トランジスタデバイスの製造方法 - 特許庁
LOGIC VERIFICATION DEVICE AND METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路用論理検証装置および方法 - 特許庁
PARTICLE INTEGRATED SUBSTRATE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
微粒子集積化基板およびその製造方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT, AND INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
集積回路とその検査装置および検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路をテストするための装置および方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT AND TRACE INFORMATION PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加
集積回路及びそのトレース情報処理方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びそのバーインテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR LAYING OUT INTEGRATED CIRCUIT AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
集積回路のレイアウト方法及びコンピュータプログラム - 特許庁
METHOD OF PROJECTION-ALIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PATTERN例文帳に追加
半導体集積回路パターンの投影露光方法 - 特許庁
SCANNER AND PRINTER INTEGRATED DEVICE, AND DOCUMENT AUTHENTICATION METHOD例文帳に追加
スキャナプリンタ統合装置及び文書認証方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND REDUNDANT PROGRAMMING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及び冗長プログラム方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND CLOCK DISTRIBUTION METHOD OF IT例文帳に追加
半導体集積回路とそのクロック分配方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND POWER SUPPLY CONTROL METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及び電源制御方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路を試験するための方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加
半導体集積回路、およびバーンイン試験方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
光半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁
INTEGRATED RADIO RECEIVER AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加
統合型無線受信装置及びその動作方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR DECIDING WIRING例文帳に追加
半導体集積回路及び配線決定方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR SUPPLYING CLOCK例文帳に追加
半導体集積回路及びクロック供給方法 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|