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「measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > measuring methodの意味・解説 > measuring methodに関連した英語例文

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measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28057



例文

MEASURING METHOD FOR FLOOR IMPACT SOUND例文帳に追加

床衝撃音の測定方法 - 特許庁

BELT PERIMETER MEASURING METHOD例文帳に追加

ベルト外周長の測定方法 - 特許庁

RELATIVE CHANNEL DELAY MEASURING METHOD例文帳に追加

相対チャネル遅延測定方法 - 特許庁

PHASE MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

位相測定方法および装置 - 特許庁

例文

ACTIVITY MEASURING METHOD FOR SEED CRYSTAL例文帳に追加

種晶の活性測定方法 - 特許庁


例文

VOLATILE ORGANIC MATTER MEASURING METHOD例文帳に追加

揮発性有機物測定方法 - 特許庁

MEASUREMENT DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

測定装置、及び測定方法 - 特許庁

LATERAL FORCE MEASURING METHOD OF WHEEL例文帳に追加

車輪の横力測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

測定方法および検査装置 - 特許庁

例文

SENSOR DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

センサー装置および測定方法 - 特許庁

例文

HEIGHT MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

高さ測定装置および方法 - 特許庁

IMAGE MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

画像計測方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING WAFER FILM STRENGTH例文帳に追加

ウェハ膜強度の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SHAPE OF OBJECT例文帳に追加

物体の形状測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND CALIBRATION SUBSTRATE例文帳に追加

測定方法及び較正基板 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ENDOTOXIN ACTIVITY例文帳に追加

エンドトキシン活性の測定方法 - 特許庁

DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

変位測定方法および装置 - 特許庁

ACTIVITY MEASURING METHOD OF ENDOTOXIN例文帳に追加

エンドトキシン活性の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING UGF IN URINE例文帳に追加

尿中UGF測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DIMENSION OF PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの寸法測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の測定方法 - 特許庁

RRO OF BREAKER MEASURING METHOD例文帳に追加

ブレーカのRRO計測方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DIFFRACTION LENS例文帳に追加

回折レンズを測定する方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING VISCOELASTICITY OF FLUID例文帳に追加

流体の粘弾性測定法 - 特許庁

MEASURING METHOD USING BIOSENSOR例文帳に追加

バイオセンサーを用いた測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING TRIBUTYL TIN COMPOUND例文帳に追加

トリブチルスズ化合物の測定法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF HEMOGLOBIN A1c例文帳に追加

ヘモグロビンA1cの測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD, APPARATUS, AND SUBSTRATE例文帳に追加

測定方法、装置および基板 - 特許庁

MEASURING APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

計測装置及び計測方法 - 特許庁

GLOSS MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光沢測定装置及び方法 - 特許庁

LEAKAGE MEASURING METHOD OF MECHANICAL SEAL例文帳に追加

メカニカルシールの漏れ計測方法 - 特許庁

STEP MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

段差測定方法および装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF SPECIFIC RESISTANCE AGAINST FILTRATION例文帳に追加

濾過比抵抗の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BUFFER LAYER FILM THICKNESS例文帳に追加

バッファ層膜厚測定方法 - 特許庁

HOLE PATH MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加

孔路計測方法及び装置 - 特許庁

DISTANCE MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

距離測定方法および装置 - 特許庁

DISTANCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

距離測定装置および方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

測定装置および測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

測定方法および測定装置 - 特許庁

HIGHER HARMONIC CHARACTERISTICS MEASURING METHOD例文帳に追加

高調波特性測定方法 - 特許庁

ANTENNA MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

アンテナ測定装置および方法 - 特許庁

MICROWAVE TYPE CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

マイクロ波式濃度測定方法 - 特許庁

ASPHERIC SURFACE SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加

非球面形状測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD, EXPOSURE METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

計測方法、露光方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

CHARGE QUANTITY MEASURING CIRCUIT AND CHARGE QUANTITY MEASURING METHOD例文帳に追加

電荷量測定回路及び電荷量測定方法 - 特許庁

DIELECTRIC CONSTANT MEASURING DEVICE AND DIELECTRIC CONSTANT MEASURING METHOD例文帳に追加

誘電率測定装置及び誘電率測定方法 - 特許庁

SURFACE POTENTIAL DISTRIBUTION MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

表面電位分布測定方法および測定装置 - 特許庁

SCANNING LIGHT BEAM SPOT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

走査光ビームスポット測定方法及び測定装置 - 特許庁

例文

SURFACE DEPTH MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF ARTICLE例文帳に追加

物品の表面深さ測定装置と測定方法 - 特許庁




  
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