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microscopy measurementの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND MEASUREMENT HEAD USED FOR OTHER APPLICATION例文帳に追加
原子間力顕微鏡法及び他の用途用の測定ヘッド - 特許庁
ELECTRON BEAM DOSE CONTROL FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT EQUIPMENT例文帳に追加
走査電子顕微鏡法および臨界寸法測定機器のための電子ビーム線量制御 - 特許庁
The superimposition operation of each image position is performed between the two-dimensional analysis image by mass spectrometry microscopy and two-dimensional visible image by the photomicroscope photographing, by utilizing an artificial "marker for alignment", attached to the measurement domain of a histopathological slice.例文帳に追加
病理組織切片の測定領域に付設される、人為的な「位置合わせ用マーカー」を利用して、顕微質量分析の二次元解析画像と、光学顕微鏡撮影の二次元可視画像と間で、画像位置の重ね合わせ操作を行う。 - 特許庁
例文 (3件) |
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