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other surface testersの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
On the other surface 55 of the dicing tape 50, testers 60 are arranged on a position facing a semiconductor device of which the electric characteristics are intended to be inspected.例文帳に追加
ダイシングテープ50の他面55において、電気的特性を検査したい半導体素子に対応した場所にテスタ60を対向配置する。 - 特許庁
The testers 60 are then pressed against the other surface 55 of the dicing tape 50 to bring the conductive materials 52 into contact with each other, thereby forming a path passing through a first electrode 18, a vertical semiconductor device, a second electrode 19, the conductive materials 52, and the testers 60.例文帳に追加
続いて、テスタ60をダイシングテープ50の他面55に押し付け、各導電性材料52どうしを接触させて、第1電極18、縦型の半導体素子、第2電極19、導電性材料52、およびテスタ60を経由する経路を形成する。 - 特許庁
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