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pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23003件
METHOD FOR SETTING AND REGISTERING REFERENCE PATTERN AND PATTERN MATCHING RECOGNIZING METHOD例文帳に追加
基準パターン設定登録方法とパターンマッチング認識方法 - 特許庁
PATTERN ARRANGEMENT METHOD OF EXPOSURE MASK例文帳に追加
露光マスクのパタン配置方法 - 特許庁
RESIST PATTERN, RESIST PATTERN FORMING METHOD, THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING MICRO- DEVICE例文帳に追加
レジストパターンおよびその形成方法、薄膜パターン形成方法ならびにマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁
MASK, METHOD FOR MANUFACTURING MASK, PATTERN-FORMING APPARATUS AND PATTERN-FORMING METHOD例文帳に追加
マスク、マスクの製造方法、パターン形成装置、パターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD BY MULTILAYER RESIST METHOD例文帳に追加
多層レジスト法によるパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT APPARATUS, PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン計測装置、パターン計測方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN SELECTION DEVICE, PATTERN SELECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン選択装置、パターン選択方法、およびプログラム - 特許庁
TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD例文帳に追加
テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁
PATTERN RECOGNITION DEVICE, AND PATTERN RECOGNITION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン認識装置、パターン認識方法及びプログラム - 特許庁
PATTERN RECOGNITION DEVICE, PATTERN RECOGNITION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン認識装置、パターン認識方法、及び、プログラム - 特許庁
MASK PATTERN CORRECTION METHOD AND MASK PATTERN FORMATION SYSTEM例文帳に追加
マスクパターン補正方法及びマスクパターン作成システム - 特許庁
PATTERN OBSERVATION DEVICE, PATTERN OBSERVATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン観察装置、パターン観察方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN RECOGNITION DEVICE, PATTERN RECOGNITION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン認識装置、パターン認識方法及びプログラム - 特許庁
PATTERN RECOGNITION METHOD, PATTERN RECOGNITION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン認識方法、パターン認識装置及びプログラム - 特許庁
PATTERN RECOGNITION DEVICE, PATTERN RECOGNITION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン認識装置、パターン認識方法、及びプログラム - 特許庁
RIB PATTERN FORMATION SYSTEM, AND RIB PATTERN FORMATION METHOD例文帳に追加
リブパターン形成システムおよびリブパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FILM FORMING METHOD AND PATTERN FILM FORMING DEVICE例文帳に追加
パターン膜形成方法及びパターン膜形成装置 - 特許庁
PATTERN MATCHING DEVICE, AND PATTERN MATCHING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターンマッチング装置、パターンマッチング方法およびプログラム - 特許庁
METHOD FOR FORMING EMBROIDERY PATTERN AND THE EMBROIDERY PATTERN例文帳に追加
刺繍模様形成方法およびその刺繍模様 - 特許庁
PATTERN IDENTIFICATION DEVICE, PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン識別装置、パターン識別方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN IDENTIFICATION DEVICE, PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン識別装置、パターン識別方法及びプログラム - 特許庁
PATTERN IDENTIFICATION METHOD, PATTERN IDENTIFICATION DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加
パターン識別方法、パターン識別装置及びプログラム - 特許庁
METHOD OF FORMING WIRING PATTERN, WIRING PATTERN, ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
配線パターン形成方法、配線パターン、電子機器 - 特許庁
ANTENNA PATTERN, MANUFACTURING METHOD OF ANTENNA PATTERN, AND MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加
アンテナパターン、アンテナパターンの製造方法、製造装置 - 特許庁
PATTERN GENERATOR, PATTERN GENERATION METHOD AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
パターン発生器、パターン発生方法及び試験装置 - 特許庁
PATTERN MEASURING METHOD, PATTERN MEASURING DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン測定方法、パターン測定装置およびプログラム - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD, PROGRAM, AND PATTERN EVALUATING DEVICE例文帳に追加
パターン評価方法、プログラムおよびパターン評価装置 - 特許庁
PATTERN TRANSFER DEVICE, PATTERN TRANSFER METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン転写装置、パターン転写方法およびプログラム - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁
PATTERN POSITION CORRECTION METHOD FOR PATTERN VARIABLE DISPLAY DEVICE例文帳に追加
図柄可変表示装置の図柄位置補正方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION APPARATUS, PATTERN EVALUATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン評価装置、パターン評価方法およびプログラム - 特許庁
DITHER PATTERN GENERATING METHOD AND DITHER PATTERN GENERATOR例文帳に追加
ディザパターン生成方法およびディザパターン生成装置 - 特許庁
TEST PATTERN PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN例文帳に追加
テストパターン印刷方法、印刷装置、及びテストパターン - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT DEVICE, PATTERN MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン計測装置、パターン計測方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN EVALUATION DEVICE, PATTERN EVALUATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン評価装置、パターン評価方法およびプログラム - 特許庁
METHOD FOR PREDICTING PATTERN LINE WIDTH AND METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN USING THE METHOD例文帳に追加
パターン線幅予測方法及びそれを用いたマスクパターン修正方法 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD, METHOD OF MANUFACTURING GRAY TONE MASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加
パターン形成方法、グレートーンマスクの製造方法、及びパターンの転写方法 - 特許庁
MASK, MANUFACTURING METHOD OF THE MASK, PATTERN FORMING METHOD AND WIRING PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
マスク、マスクの製造方法、パターン形成方法、配線パターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD, PATTERN EVALUATING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン作成方法、パターン評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
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