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pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23003件
METHOD FOR SIMULATION OF TRANSFER PATTERN例文帳に追加
転写パターンのシミュレーション方法 - 特許庁
PATTERN CORRECTING METHOD FOR MASK FOR EXPOSURE, PATTERN FORMING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
露光マスクのパターン補正方法、パターン形成方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN MATCHING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品のパターンマッチング方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PATTERN-FORMING OBJECT例文帳に追加
パターン形成体の製造方法 - 特許庁
PATTERN DRAWING METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING STAMPER, AND PATTERN DRAWING DEVICE例文帳に追加
パターン描画方法、スタンパー製造方法およびパターン描画装置 - 特許庁
PATTERN TRANSFER PAPER, OVERCOATING PAPER, PATTERN TRANSFER METHOD, AND OVERCOATING METHOD例文帳に追加
絵柄転写紙、オーバーコート紙、絵柄転写方法およびオーバーコート方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN, METHOD FOR FORMING MASK PATTERN, AND ION IMPLANTATION METHOD例文帳に追加
マスクパターンの補正方法、マスクパターンの形成方法、及びイオン注入方法 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD, PATTERN VERIFICATION METHOD, PATTERN FORMING-VERIFICATION PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン作成方法、パターン検証方法、パターン作成・検証プログラム、および半導体装置の製造方法 - 特許庁
MASK PATTERN TRANSFER METHOD, MASK PATTERN TRANSFER EQUIPMENT USING THE MASK PATTERN TRANSFER METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
マスクパターン転写方法、該マスクパターン転写方法を用いたマスクパターン転写装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
DRAWING SHIFT MEASURING METHOD, EXPOSURE METHOD, GRADUATED PATTERN, GRADUATED PATTERN DRAWING METHOD, AND GRADUATED PATTERN DRAWING DEVICE例文帳に追加
描画ずれ測定方法、露光方法、目盛パターン、目盛パターン描画方法、および目盛パターン描画装置 - 特許庁
PATTERN FORMING MATERIAL, PATTERN FORMING METHOD, AND PRINTED BOARD例文帳に追加
パターン形成材料、パターン形成方法、及びプリント基板 - 特許庁
LAYOUT PATTERN INSPECTION DEVICE, AND LAYOUT PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
レイアウトパターン検査装置およびレイアウトパターンの検査方法 - 特許庁
PATTERN IMAGE MEASURING METHOD AND PATTERN IMAGE MEASURING DEVICE例文帳に追加
パターン画像測定方法及びパターン画像測定装置 - 特許庁
PATTERN RECOGNITION METHOD, PATTERN RECOGNITION DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
パターン認識方法、パターン認識装置及び記録媒体 - 特許庁
PATTERN FORMED BODY AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN FORMED BODY例文帳に追加
パターン形成体及びパターン形成体の製造方法 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN DETECTOR AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
回路パターン検出装置および回路パターン検査方法 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN EXAMINING APPARATUS AND CIRCUIT PATTERN EXAMINING METHOD例文帳に追加
回路パターン検査装置、および回路パターンの検査方法 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN FORMATION METHOD AND CIRCUIT PATTERN FORMATION DEVICE例文帳に追加
回路パターン形成方法及び回路パターン形成装置 - 特許庁
PREAMBLE PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PREAMBLE PATTERN IDENTIFICATION DEVICE例文帳に追加
プリアンブルパターン識別方法及びプリアンブルパターン識別装置 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FORMING APPARATUS AND CIRCUIT BOARD例文帳に追加
パターン形成方法、パターン形成装置及び回路基板 - 特許庁
WIRING PATTERN INSPECTING APPARATUS AND WIRING PATTERN INSPECTING METHOD例文帳に追加
配線パターン検査装置及び配線パターン検査方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN AND RESIST PATTERN FORMING APPARATUS例文帳に追加
レジストパターン形成方法およびレジストパターン形成装置 - 特許庁
METHOD FOR FORMING SOLDER PATTERN AND MULTIPLE-PATTERN CIRCUIT BOARD例文帳に追加
はんだパターン形成方法及び多面取り回路基板 - 特許庁
PRINTING PATTERN FORMING COMPONENT AND METHOD FOR FORMING PATTERN例文帳に追加
印刷パターン形成部品及びそのパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FORMATION SYSTEM, PATTERN FORMATION METHOD AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
パターン形成システム、パターン形成方法および電子機器 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN FORMING EQUIPMENT AND CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
回路パターン形成装置および回路パターン形成方法 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD AND CIRCUIT PATTERN FORMING DEVICE例文帳に追加
回路パターン形成方法および回路パターン形成装置 - 特許庁
METHOD FOR FORMING CONDUCTION PATTERN AND CONDUCTION PATTERN HOLDING SHEET例文帳に追加
導電パターンの形成方法と導電パターン所持シート - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING CASTING PATTERN AND MASTER MOLD FOR PATTERN例文帳に追加
鋳造用原型製造方法及び原型用親型 - 特許庁
PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
パターン寸法測定方法及びパターン寸法測定装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF EXPOSURE PATTERN AND RETICLE FOR PATTERN EXPOSURE例文帳に追加
露光パターンの検査方法及びパターン露光用レチクル - 特許庁
MASK PATTERN PROCESSING APPARATUS, MASK PATTERN PROCESSING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
マスクパターン処理装置、マスクパターン処理方法、およびプログラム - 特許庁
PATTERN FLAW INSPECTION DEVICE AND PATTERN FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN FLAW INSPECTION METHOD, AND PATTERN FLAW INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法、及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
MAGNETIC PATTERN RECOGNIZING DEVICE AND MAGNETIC PATTERN RECOGNIZING METHOD例文帳に追加
磁気パターン認識装置および磁気パターン認識方法 - 特許庁
LUMINESCENCE PATTERN READER AND LUMINESCENCE PATTERN READING METHOD例文帳に追加
発光パターン読取装置および発光パターン読取方法 - 特許庁
PATTERN FORMATION METHOD, PATTERN FORMATION SYSTEM AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
パターン形成方法、パターン形成システムおよび電子機器 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD, EXPOSURE MASK, AND PATTERN INSPECTION PROGRAM例文帳に追加
パターン検査方法、露光用マスク、およびパターン検査プログラム - 特許庁
PATTERN FORMING SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN FORMING SUBSTRATE例文帳に追加
パターン形成基板及びパターン形成基板製造方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION REGION DEFINING PROGRAM例文帳に追加
パターン検査方法及びパターン検査領域規定プログラム - 特許庁
GENERATING METHOD FOR PATTERN DATA, AND PATTERN DATA GENERATING PROGRAM例文帳に追加
パタンデータの作成方法およびパタンデータ作成プログラム - 特許庁
MASK, RESIST PATTERN, AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN例文帳に追加
マスク及びレジストパターン並びにレジストパターンの形成方法 - 特許庁
SCALE PATTERN FORMING METHOD, SCALE PATTERN FORMING DEVICE, AND SCALE例文帳に追加
スケールパターン形成方法、スケールパターン形成装置、スケール - 特許庁
SYSTEM FOR CORRECTING MASK PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN例文帳に追加
マスクパターンの補正システム及びマスクパターンの補正方法 - 特許庁
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