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pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23003件
VERIFYING METHOD FOR MASK PATTERN, PROGRAM FOR VERIFYING MASK PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK例文帳に追加
マスクパターン検証方法、マスクパターン検証用プログラム、及びマスク製造方法 - 特許庁
IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン検査方法 - 特許庁
METHOD FOR DISPLAYING SPECIAL PATTERN OF GAME MACHINE例文帳に追加
遊技機の特別図柄表示方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING CONDUCTIVE FINE PATTERN例文帳に追加
導電性微細パターンの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING CONDUCTIVE MEMBER PATTERN例文帳に追加
導電性部材パターンの製造方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁
METHOD FOR VERIFICATION OF ROM INSPECTION PATTERN例文帳に追加
ROM検査パターンの検証方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN OF CIRCUIT BOARD例文帳に追加
回路基板のレジストパタ−ン形成法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING PROXIMITY EFFECT OF MASK PATTERN例文帳に追加
マスクパターンの近接効果補正方法 - 特許庁
EXTINCTIVE PATTERN ASSEMBLY AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
消失性模型アッセンブリ及び方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF CONDUCTIVE PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加
導電性パターン基板の製造方法 - 特許庁
DIRECTIVITY PATTERN MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
指向性パターン計測システム及び方法 - 特許庁
METHOD FOR READING COORDINATE INFORMATION PATTERN例文帳に追加
座標情報パターンの読み取り方法 - 特許庁
GAME MACHINE AND ITS PATTERN DISPLAY METHOD例文帳に追加
遊技機およびその図柄表示方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING FINE PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING PATTERN FOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体素子の微細パターン形成方法及び基板用パターン形成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターンの検査装置、パターンの検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
MEASURING OBJECT PATTERN SELECTING METHOD, PATTERN INSPECTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD, PROGRAM, AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加
測定対象パターンの選択方法、パターン検査方法、半導体装置の製造方法、プログラムおよびパターン検査装置 - 特許庁
MASK FOR PATTERN TRANSFER, PATTERN TRANSFER METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン転写用マスク、パターン転写方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
SLOT MACHINE AND PATTERN DISPLAY METHOD THEREFOR例文帳に追加
スロットマシン及びその図柄表示方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING PATTERN, PATTERN FORMING SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン作成方法、パターン作成システム、および半導体装置の製造方法 - 特許庁
PATTERN DIMENSION MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
パターン寸法測定装置および方法 - 特許庁
PATTERN CORRECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
パターン修正方法および修正装置 - 特許庁
DRY FILM RESIST AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
ドライフィルムレジスト及びパターン形成方法 - 特許庁
METHOD OF FORMING PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のパターン形成方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加
回路パターン検査方法とその装置 - 特許庁
PATTERN DRAWING METHOD, PATTERN DRAWING DEVICE, DATA PROCESSING DEVICE AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
パターン描画方法、パターン描画装置、データ処理装置およびデータ処理方法 - 特許庁
PATTERN EXTRACTING METHOD, PATTERN EXTRACTOR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン抽出方法,パターン抽出装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁
PATTERN FORMATION METHOD OF ORGANIC INSULATING FILM例文帳に追加
有機絶縁膜のパターン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING PATTERN AND CORRECTION METHOD, NITRIDE PATTERN AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターンの形成方法および修正方法、窒化物パターン並びに半導体装置 - 特許庁
PATTERN TRANSFER APPARATUS, PATTERN TRANSFER METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ORIGINAL PLATE FOR TRANSFER例文帳に追加
パターン転写装置,パターン転写方法および転写用原版の製造方法 - 特許庁
METHOD OF FORMING PATTERN ON FLEXIBLE BOARD例文帳に追加
フレキシブル基板へのパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN ALIGNMENT METHOD AND LITHOGRAPHY APPARATUS例文帳に追加
パターンアライメント方法およびリソグラフィ装置 - 特許庁
PATTERN COATING FILM AND METHOD FOR FORMING THE SAME例文帳に追加
模様塗膜及びその形成方法 - 特許庁
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