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pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23002件
WATER-SOLUBLE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING PATTERN, AND METHOD FOR INSPECTING RESIST PATTERN例文帳に追加
水溶性樹脂組成物、パターン形成方法及びレジストパターンの検査方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING PATTERN, PROGRAM FOR FORMING PATTERN, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン作成方法、パターン作成プログラム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR VERIFYING ELECTRON-BEAM EXPOSURE PATTERN例文帳に追加
電子ビーム露光パターンの検証方法 - 特許庁
WOOD PATTERN FOR MOLDING AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
成形用木型とその製作方法 - 特許庁
PATTERN DIMENSION MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
パターン寸法測定装置および方法 - 特許庁
PATTERN CORRECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
パターン修正方法および修正装置 - 特許庁
DRY FILM RESIST AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
ドライフィルムレジスト及びパターン形成方法 - 特許庁
METHOD OF FORMING PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のパターン形成方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加
回路パターン検査方法とその装置 - 特許庁
CHEMICAL AMPLIFICATION RESIST PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
化学増幅レジストのパタン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR DISPLAYING SPECIAL PATTERN OF GAME MACHINE例文帳に追加
遊技機の特別図柄表示方法 - 特許庁
VERIFYING METHOD FOR MASK PATTERN, PROGRAM FOR VERIFYING MASK PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK例文帳に追加
マスクパターン検証方法、マスクパターン検証用プログラム、及びマスク製造方法 - 特許庁
IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン検査方法 - 特許庁
PATTERN TRANSFER APPARATUS, PATTERN TRANSFER METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ORIGINAL PLATE FOR TRANSFER例文帳に追加
パターン転写装置,パターン転写方法および転写用原版の製造方法 - 特許庁
METHOD OF FORMING PATTERN ON FLEXIBLE BOARD例文帳に追加
フレキシブル基板へのパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FORMATION METHOD OF ORGANIC INSULATING FILM例文帳に追加
有機絶縁膜のパターン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR READING COORDINATE INFORMATION PATTERN例文帳に追加
座標情報パターンの読み取り方法 - 特許庁
GAME MACHINE AND ITS PATTERN DISPLAY METHOD例文帳に追加
遊技機およびその図柄表示方法 - 特許庁
DIRECTIVITY PATTERN MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
指向性パターン計測システム及び方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING FINE PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING PATTERN FOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体素子の微細パターン形成方法及び基板用パターン形成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターンの検査装置、パターンの検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
METHOD OF FORMING PATTERN AND ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
パターンの形成方法及び電子部品 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN MATERIAL OF SYNTHETIC RESIN例文帳に追加
合成樹脂模様材の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING FINE PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子のパターン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING HEAT-RESISTANT RESIN PATTERN例文帳に追加
耐熱性樹脂パターンの形成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
テストパターン生成装置及びその方法 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD AND RESIST COMPOSITION例文帳に追加
パターン形成方法及びレジスト組成物 - 特許庁
RESIST COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
レジスト組成物及びパターン形成方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PATTERN IMAGE GENERATION例文帳に追加
模様画像作成方法および装置 - 特許庁
CYCLE DETERMINING METHOD FOR LSI TEST PATTERN例文帳に追加
LSIテストパターンのサイクル決定方法 - 特許庁
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