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pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23003件
CIRCUIT PATTERN INSPECTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
回路パターン検査方法およびその装置 - 特許庁
X-RAY POWDER DIFFRACTION PATTERN SCREENING METHOD例文帳に追加
X線粉末回折パターンスクリーニング法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND PATTERN LAYOUT METHOD例文帳に追加
半導体装置とそのパターンレイアウト方法 - 特許庁
PERIODICITY PATTERN INSPECTION APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
周期性パターン検査装置および方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR METAL CONTAINER HAVING PATTERN例文帳に追加
模様を有する金属容器の製造法 - 特許庁
ALIGNER AND PATTERN ERROR DETECTING METHOD例文帳に追加
露光装置及びパターンエラー検出方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING PATTERN ON CONDUCTIVE POLYMER LAYER例文帳に追加
導電性ポリマーの層のパターン化方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING CONDUCTIVE PATTERN MATERIAL例文帳に追加
導電性パターン材料の製造方法 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加
回路パターン検査方法及びその装置 - 特許庁
MAGNETIC PATTERN DUPLICATION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
磁気パターン複製方法およびその装置 - 特許庁
MASK PATTERN CORRECTION METHOD AND EXPOSURE MASK例文帳に追加
マスクパターン補正方法及び露光用マスク - 特許庁
INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
PATTERN JITTER MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
パターンジッタ測定装置及び測定方法 - 特許庁
POSITIVE RESIST COMPOSITION AND PATTERN FORMATION METHOD例文帳に追加
ポジ型レジスト組成物、パターン形成方法 - 特許庁
DATA PROCESSOR AND PATTERN FORMATION METHOD例文帳に追加
データ処理装置及び模様形成方法 - 特許庁
PATTERN FORM EVALUATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターン形状評価方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加
パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁
PATTERN OVERLAPPING METHOD AND ALIGNER例文帳に追加
パターン重ね合わせ方法及び露光装置 - 特許庁
PATTERN CORRECTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
パターン修正装置および修正方法 - 特許庁
PHASE SHIFT MASK AND METHOD FOR FORMING PATTERN例文帳に追加
位相シフトマスク及びパターン形成方法 - 特許庁
PHASE SHIFT MASK AND METHOD FOR FORMING PATTERN例文帳に追加
位相シフトマスクおよびパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
絵柄検査装置および絵柄検査方法 - 特許庁
SERVICEABLE TEST PATTERN SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
活用的なテスト・パターン装置および方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR GENERATING PATTERN例文帳に追加
半導体装置及びパターン発生方法 - 特許庁
PATTERN FORMATION METHOD FOR PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加
プリント配線基板のパターン形成方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
VESSEL WITH INTERIOR PATTERN AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
内部模様付容器およびその製法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF UNEVEN PATTERN DECORATIVE SHEET例文帳に追加
凹凸模様加飾シートの製造方法 - 特許庁
PATTERN FORMING BODY AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
パターン形成体、およびその製造方法 - 特許庁
FILM PATTERN FORMING METHOD AND WIRING BOARD例文帳に追加
膜パターン形成方法及び配線基板 - 特許庁
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