「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CONTROL METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

プローブ制御方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING INSPECTION PROBE例文帳に追加

検査用プローブの製造方法 - 特許庁

PROBE INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

プローブ検査装置および方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ針とその製造方法 - 特許庁

PROBE AND PROBING METHOD例文帳に追加

プローブ装置及びプロービング方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR NANOTUBE PROBE例文帳に追加

ナノチューブ探針の製造方法 - 特許庁

PROBE INSPECTION METHOD AND PROBER例文帳に追加

プローブ検査方法およびプローバ - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波プローブ及び超音波プローブの製造方法 - 特許庁

PROBE PIN MATERIEL, PROBE PIN AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブピン用材料、プローブピン及びその製造方法 - 特許庁

PROBE STRUCTURE FOR PROBE DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

探針装置用プローブ構造及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE CARD MANUFACTURING METHOD, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの製造方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR FIXING AND SUPPORTING PROBE CARD AND ITS PROBE SUBSTRATE例文帳に追加

プローブカード及びそのプローブ基板の固定支持方法 - 特許庁

PROBE MEDIUM AND METHOD FOR FIXING PROBE ON SUBSTRATE例文帳に追加

プローブ媒体および基材上へのプローブ固定方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING PROBE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作成方法 - 特許庁

PROBE MOVEMENT CONTROL METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の探針移動制御方法 - 特許庁

PROBE EVALUATION METHOD AND CHIP SET FOR PROBE EVALUATION例文帳に追加

探針評価方法及び探針評価用チップセット - 特許庁

MACHINING METHOD USING PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の探針を用いた加工方法 - 特許庁

METHOD FOR SELECTING DNA MICROARRAY PROBE AND SELECTED PROBE例文帳に追加

ＤＮＡマイクロアレイプローブの選抜方法とそのプローブ - 特許庁

PLANAR PROBE MANUFACTURING METHOD, AND PLANAR PROBE例文帳に追加

平面型プローブの製造方法および平面型プローブ - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE例文帳に追加

プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法 - 特許庁

MINUTE REGION SCATTERING PROBE, METHOD FOR CONTROLLING DISTANCE OF PROBE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE例文帳に追加

微小領域散乱プローブ、プローブの距離制御方法およびプローブの作製方法 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

PROBE, PROBE UNIT THEREWITH, PROBE CARD THEREWITH, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE UNIT例文帳に追加

プローブ、このプローブを用いたプローブユニット、このプローブユニットを用いたプローブカード及びプローブユニットの製造方法 - 特許庁

PROBE CLEANER AND CLEANING METHOD例文帳に追加

プローブクリーナー及びクリーニング方法 - 特許庁

PROBE EQUIPMENT AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

プローブ装置及びアライメント方法 - 特許庁

PROBE APPARATUS AND PROBING METHOD例文帳に追加

プローブ装置及びプロービング方法 - 特許庁

MEASUREMENT PROBE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

測定用プローブと測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SHEET-LIKE PROBE例文帳に追加

シート状プローブの製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF CERAMIC PROBE CARD例文帳に追加

セラミックプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

プローブ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

プローブの検査方法及び装置 - 特許庁

PROBER, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローバ及びプローブ接触方法 - 特許庁

QUALITY INSPECTION METHOD OF PROBE BEADS例文帳に追加

プローブビーズの品質検査方法 - 特許庁

DISPLAY METHOD OF TERMINAL OR PROBE PIN, PROBE DEVICE, AND PROBE CARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

端子又はプローブピンの表示方法、プローブ装置、及びプローブカード検査装置 - 特許庁

METHOD FOR EXCHANGING PROBE CARD WITH PROBE NEEDLE OF POGO PIN STRUCTURE WITH PROBE NEEDLE例文帳に追加

ポゴピン構造のプローブ針を有するプローブカードとプローブ針の交換方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND INSPECTION METHOD FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの製造方法と検査方法 - 特許庁

PROBE INSPECTION METHOD, PROBE INSPECTION DEVICE, AND ELEMENT TO BE INSPECTED例文帳に追加

プローブ検査方法、プローブ検査装置、および、被検査素子 - 特許庁

METHOD FOR FORMING PLANE PROBE AND PLANE PROBE例文帳に追加

平面型プローブの形成方法および平面型プローブ - 特許庁

PROBE UNIT, PROBE ASSEMBLY, AND INSPECTION METHOD OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブユニット、プローブアッセンブリ及び電子デバイスの検査方法 - 特許庁

PROBE, ELECTRONIC COMPONENT TESTER, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

プローブ、電子部品試験装置及びプローブの製造方法 - 特許庁

FLAT SURFACE PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING FLAT PROBE例文帳に追加

平面型プローブおよび平面型プローブの製造方法 - 特許庁

PROBE SET, PROBE CARRIER AND METHOD FOR DISCRIMINATING AND IDENTIFYING FUNGUS例文帳に追加

プローブセット、プローブ担体、及び真菌の判別同定方法 - 特許庁

MAGNETIC DETECTION PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING THE MAGNETIC DETECTION PROBE例文帳に追加

磁気検出プローブ、磁気検出プローブの製造方法 - 特許庁