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probeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 19549



例文

PROBE DRIVE UNIT例文帳に追加

プローブ駆動ユニット - 特許庁

NANO LIGHT-EMITTING PROBE例文帳に追加

ナノ発光プローブ - 特許庁

PROBE HEAD WITH MEMBRANE SUSPENDED PROBE例文帳に追加

膜懸垂プローブを具えるプローブヘッド - 特許庁

PROBE DRIVING METHOD AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブ駆動方法及びプローブ装置 - 特許庁

例文

PROBE, PROBE DEVICE, AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

プローブ、プローブ装置および検査装置 - 特許庁


例文

PROBE DEVICE AND PROBE FIXING METHOD例文帳に追加

プローブ装置及びプローブ固定方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針 - 特許庁

PROBE FOR SEMICONDUCTOR AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体用プローブおよびプローブカード - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用のプローブ - 特許庁

例文

PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

例文

PROBE, PROBE UNIT, AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

プローブ、プローブユニットおよび測定装置 - 特許庁

FLOATING PROBE HEAD STRUCTURE PROBE CARD例文帳に追加

フローティングプローブヘッド構造のプローブカード - 特許庁

PROBE AND PROBE CARD USING IT例文帳に追加

プローブ及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE UNIT, PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE UNIT例文帳に追加

プローブユニット、プローブカード及びプローブユニットの製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ、プローブ装置及びコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE UNIT, AND PROBE CARD例文帳に追加

コンタクトプローブ、その製造方法、プローブユニットおよびプローブカード - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE DEVICE AND METHOD FOR MAKING CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ、プローブ装置及びコンタクトプローブ製造方法 - 特許庁

PROBE, PROBE CARD DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

プローブおよびプローブカード装置並びにプローブの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE NEEDLE, PROBE NEEDLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブ針の製造方法、プローブ針およびプローブ装置 - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ、プローブカード及びコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

MEASUREMENT PROBE DEVICE例文帳に追加

測定プローブ装置 - 特許庁

SCANNING DEVICE FOR PROBE例文帳に追加

プローブ走査装置 - 特許庁

POCKET MEASURING PROBE例文帳に追加

ポケット測定プローブ - 特許庁

OPTICAL SCANNING PROBE例文帳に追加

光学走査プローブ - 特許庁

PROBE PIN, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE PIN例文帳に追加

プローブピンとプローブピンの製造方法 - 特許庁

MACHINE TOOL PROBE例文帳に追加

工作機械プローブ - 特許庁

POTASSIUM FLUORESCENT PROBE例文帳に追加

カリウム蛍光プローブ - 特許庁

CARBON FILAMENT PROBE例文帳に追加

カーボン細線プローブ - 特許庁

PROBE MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブの製造方法及びプローブカード - 特許庁

CHISEL TYPE LASER PROBE例文帳に追加

チゼル型レーザプローブ - 特許庁

POLYNUCLEOTIDE PROBE CHIP例文帳に追加

ポリヌクレオチドプローブチップ - 特許庁

PROBE CONTROL SYSTEM例文帳に追加

プローブ制御システム - 特許庁

PROBE DEVICE AND PROBE MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ装置及びプローブ測定方法 - 特許庁

CONTACT PROBE ARRANGEMENT例文帳に追加

コンタクト・プローブ配置 - 特許庁

PROBE-POLISHING MECHANISM AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブの研磨機構及びプローブ装置 - 特許庁

CLEANING METHOD OF PROBE IN PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの触針のクリーニング方法 - 特許庁

RF PROBE SUBSTRATE例文帳に追加

RFプローブ基板 - 特許庁

SCANNING ATOM PROBE例文帳に追加

走査型アトムプローブ - 特許庁

SCANNING PROBE SYSTEM WITH SPRING PROBE例文帳に追加

ばねプローブを有する走査プローブシステム - 特許庁

PROBE, PROBE CARD, PROBE MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE SUPPORT SUBSTRATE例文帳に追加

プローブ、プローブカード、プローブの製造方法およびプローブ支持基板の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD WITH CANTILEVER TYPE PROBE例文帳に追加

カンチレバー型プローブを有するプローブカード - 特許庁

ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波探触子 - 特許庁

PIPING INSPECTION PROBE例文帳に追加

配管検査プローブ - 特許庁

PROBE ATTACHING DEVICE例文帳に追加

プローブ取付装置 - 特許庁

PROBE AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ及びそれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD ASSEMBLY例文帳に追加

プローブカード配置物 - 特許庁

PROBE AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

SHEET TYPE PROBE CARD例文帳に追加

シート型プローブカード - 特許庁

PROBE CARD ASSEMBLY AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカード組立体及びプローブ装置 - 特許庁

例文

PROBE REPLACEMENT METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブの交換方法及びプローブカード - 特許庁




  
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