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probeableを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
To solve a problem in which the number of probeable pads per wafer is limited in a wafer-level burn-in (WLBI) and the WLBI is not applicable to a multiple-power-supply designed LSI since a voltage can not be applied to all power supplies.例文帳に追加
ウエハーレベル・バーンイン(以下、WLBI)では、1ウエハー当りのプローブ可能なパッド数に制約があり、多電源設計されたLSIにおいては、全ての電源に電圧印加できず、WLBIが適用できない。 - 特許庁
Scanning in the vertical directions and to the right and the left in a probeable region with a proving wave is enabled; thereby a scanning pattern such as a scanning period, a scanning direction or the like and a scanning region can be set freely; and proper information can be always acquired, for example, an object can be specified by acquiring detailed information of the detected object.例文帳に追加
探査可能領域にて上下左右に自在に探査波を走査可能とすることにより、走査周期や走査方向等の走査パターンや走査領域を自由に設定可能となり、例えば検出された物体の詳細情報を得て物体を特定するなど、常に適正な情報を得ることが可能となる。 - 特許庁
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