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programmed testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加
本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁
To realize a light-weight testing apparatus, capable of executing a continuous test to be tested easily by forming and reproducing projection parts formed by simulating a rough road surface by many kinds of programmed extensible/retractable modes of protruding portions on actuators installed on rotating drum mechanisms parts, in a rough road running testing device formed by simulating rough road surface encountered by a vehicle while running.例文帳に追加
車両が走行中に遭遇する悪路面をシュミレーションした悪路走行試験装置において、悪路面を模擬した凸部を、回転ドラム機構部に設けたアクチュエータの突起部のプログラミングされた幾種類もの伸縮モードで形成して再現することにより、軽量で試験に手間のかからない連続試験ができる試験装置を実現することを課題とする。 - 特許庁
The present invention utilizes the nonvolatile ferroelectric memory to program a test mode and data pin arrangement and rearranges an address, a control signal and a data pin arrangement state in a software manner according to a programmed code, thereby accurately testing the characteristics of the cell array without requiring another process.例文帳に追加
このため、本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用してテストモード及びデータピンの配置をプログラムし、プログラムされたコードに従いソフトウェア的にアドレス、制御信号及びデータピンの配置状態を再調整することにより、別途のプロセスなくセルアレイの特性を正確にテストすることができるようになる。 - 特許庁
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