例文 (4件) |
retarding potentialの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4件
To measure the potential contrast with a high throughput by using a retarding field type objective lens.例文帳に追加
減速電界対物レンズを使用し、電位コントラストを高スループットで測定する。 - 特許庁
This method of retarding growth of microorganisms comprises impressing electric potential on the medium containing periodic acid, iodic acid or their salts.例文帳に追加
過ヨウ素酸、ヨウ素酸、またはこれらの塩を含む媒体に、電位を印加することを特徴とする、微生物の生育抑制方法である。 - 特許庁
When retarding potential is applied to a wafer W, secondary electrons are detected with a secondary electron detector 31 installed between a reducing glass 63 and a main deflection device 95', and when the retarding potential is not applied to the wafer W, secondary electrons are detected with a secondary electron detector 33 installed between an objective lens 65 and the wafer W.例文帳に追加
リターディング電位をウェーハWに印加するときは、縮小レンズ63とプリ主偏向器95’との間に配設された二次電子検出器31で二次電子を検出し、リターディング電位をウェーハWに印加しないときは、対物レンズ65とウェーハWとの間に配設された二次電子検出器33で二次電子を検出する。 - 特許庁
When a retarding potential is applied on a wafer W, secondary electrons are detected by a secondary electron detector 31 arranged between a reducing glass 63 and a pre main deflector 95', and when the retarding potential is not applied on the wafer W, the secondary electrons are detected by a secondary electron detector 33 arranged between an objective lens 65 and the wafer W.例文帳に追加
リターディング電位をウェーハWに印加するときは、縮小レンズ63とプリ主偏向器95’との間に配設された二次電子検出器31で二次電子を検出し、リターディング電位をウェーハWに印加しないときは、対物レンズ65とウェーハWとの間に配設された二次電子検出器33で二次電子を検出する。 - 特許庁
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