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scanning microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2150件
SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
走査荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING MECHANISM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用走査機構および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING MECHANISM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用の走査機構及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査干渉電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRONIC SCANNING MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
電子走査型顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING PHOTOELECTROCHEMICAL MICROSCOPE例文帳に追加
走査光電気化学顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁
DRIVING STAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ装置における駆動ステージ、走査型プローブ装置 - 特許庁
SCANNING WORK FUNCTION MICROSCOPE例文帳に追加
走査型仕事関数顕微鏡 - 特許庁
LASER SCANNING TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加
レーザ走査型蛍光顕微鏡 - 特許庁
SCANNING FLUORESCENCE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
走査型蛍光顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型静電容量顕微鏡 - 特許庁
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