「scanning microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡用試料ホルダ - 特許庁

SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL PUMPING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

差動排気走査形電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING OPTICAL NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

DOUBLE CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

二重共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE AND IMAGE-ACQUIRING METHOD OF THE LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, METHOD FOR CONTROLLING LASER SCANNING MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡、レーザ走査型顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁

SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁

IMAGE OBSERVATION METHOD IN SCANNING MICROSCOPE AND THE SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

MULTIPHOTON-EXCITATION LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

多光子励起走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁

SCANNER, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

スキャナ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE PROVIDED WITH CIRCULATOR, AND CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

サーキュレータを有する走査型顕微鏡および共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁

SCANNER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

スキャナ及び走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

MULTIPHOTON EXCITATION LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

多光子励起レーザ走査型顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー - 特許庁

SCAN METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点レーザー走査型顕微鏡 - 特許庁

SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

RAY SEPARATOR OF LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

レ—ザ走査顕微鏡の光線分離器 - 特許庁

NON-LIGHT EMISSION PROCESS SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

非発光過程走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMETER例文帳に追加

モノクロメータ付走査形電子顕微鏡 - 特許庁

NONACUTE PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

非先鋭走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバー - 特許庁

OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用観察装置 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の制御方法 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

To raise the scanning speed of a tube scanner, to make the tube scanner compact, and to make a scanning probe microscope compact by using the tube scanner made compact for the scanning probe microscope.例文帳に追加

チューブスキャナにおいて、走査スピードをより早くし、かつ、小形化することである。 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR SCANNING TARGET例文帳に追加

走査顕微鏡及び目標物を走査するための方法 - 特許庁

MICRO-AREA SCANNING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微小領域走査装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査機構およびそれを用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

AUTOMATIC POSITIONING SCANNING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ - 特許庁

CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

断面観察用走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 - 特許庁

SCANNING MULTI-PROBE MICROSCOPE IN MAGNETIC FIELD例文帳に追加

磁場中走査型マルチプローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR OPERATING LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡の操作方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE AND PHOTODETECTOR例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡及び受光素子 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

共焦点顕微鏡及び走査方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

HYSTERESIS CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のヒステリシス補正方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁