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scribing blocksの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
In scribing line regions 12 on a wafer WF, test circuits 13 which comprise generating, and processing functions of signals related to a test to prescribed circuit blocks in respective LSI chip regions 11 are constituted.例文帳に追加
ウェハWF上においてスクライブライン領域12には、LSIチップ領域11それぞれの所定の回路ブロックへのテストに関係する信号の生成及び処理機能を有するテスト回路部13が構成されている。 - 特許庁
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