「secondary ion mass spectroscopy」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY AND SEMICONDUCTOR WAFER ANALYSIS METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析法及び半導体ウェハの分析方法 - 特許庁

COMPOSITION INFORMATION ACQUISITION METHOD, COMPOSITION INFORMATION ACQUISITION APPARATUS AND SAMPLE TABLE FOR TIME OF FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加

組成情報取得方法、組成情報取得装置及び飛行時間型二次イオン質量分析用試料台 - 特許庁

The characteristic is specified by an X-ray photoelectron spectroscopy or a secondary ion time-of-flight mass spectrometry and the particle can be dispersed in a dispersing medium.例文帳に追加

特性はＸ線光電子分光法もしくは飛行時間型二次イオン質量分析法により規定され、該粒子は分散媒体中で分散することができる。 - 特許庁

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁