「semiconductor defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良検査法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING APPARATUS, DEFECT ANALYZING METHOD, AND DEFECT ANALYZING PROGRAM例文帳に追加

半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム - 特許庁

DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加

欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁

DEFECT EVALUATION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板の欠陥評価方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハの欠陥検出装置 - 特許庁

METHOD OF DETECTING SEMICONDUCTOR ELEMENT DEFECT例文帳に追加

半導体素子欠陥の検出方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の欠陥解析方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良解析方法 - 特許庁

DEFECT DETERMINATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, DEFECT DETERMINATION PROGRAM AND DEFECT DETERMINING DEVICE例文帳に追加

半導体素子の欠陥判定方法、欠陥判定プログラムおよび欠陥判定装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリと半導体メモリの不良解析方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT例文帳に追加

半導体装置の不良解析装置及び不良解析方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR CRYSTAL例文帳に追加

半導体結晶の欠陥評価方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEFECT ANALYSIS DISPLAY SYSTEM例文帳に追加

半導体メモリ不良解析表示システム - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の不良解析システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置の不良解析方法 - 特許庁

INSULATED GATE FIELD-DEFECT SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

絶縁ゲート型電界効果半導体装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パワー半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD OF ESTIMATING DEFECT LEVEL OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥レベル推定方法 - 特許庁

ANALYZING METHOD OF DEFECT IN SEMICONDUCTOR TREATMENT APPARATUS例文帳に追加

半導体処理装置の不良解析方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

欠陥検出機能を有する半導体装置 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT POSITION OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの欠陥位置検出方法 - 特許庁

METHOD FOR GROWING LOW-DEFECT NITRIDE SEMICONDUCTOR例文帳に追加

低欠陥窒化物半導体の成長方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体欠陥解析システムおよび方法 - 特許庁

DEFECT REVIEWING SYSTEM, DEFECT REVIEWING METHOD, DEFECT ANALYZING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEFECT RELIEVING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリの検査、欠陥救済方法、及び半導体メモリ - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体の欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF ITS DEFECT INSPECTION例文帳に追加

半導体装置およびその欠陥検査方法 - 特許庁

DETECTION OF JUNCTION DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の接合不良検出方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

不具合検出機能を備えた半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS DEFECT ANALYZING METHOD例文帳に追加

半導体装置およびその不良解析方法 - 特許庁

INSULATION DEFECT DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの絶縁不良検出方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING CRYSTAL DEFECT OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの結晶欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING DEVICE AND DEFECT MODE CLASSIFYING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法、半導体装置の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF SPECIFYING POSITION OF DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の欠陥位置特定方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

半導体単結晶中の欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥解析装置及び方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

不良検出回路および半導体記憶装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD OF SURFACE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板表面の欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING DEFECT ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハ表面の欠陥評価方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体欠陥検査装置ならびにその方法 - 特許庁