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spectroscopy methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 213件
SPECTROSCOPY AND CALIBRATION METHOD FOR SPECTROSCOPY例文帳に追加
分光装置および分光装置の校正方法 - 特許庁
PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY ANALYTICAL METHOD例文帳に追加
光電子分光分析法 - 特許庁
SPECTROSCOPE AND SPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加
分光器及び分光方法 - 特許庁
SPECTROSCOPIC DEVICE AND SPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加
分光装置、及び分光方法 - 特許庁
SPECTROSCOPE AND METHOD OF SPECTROSCOPY例文帳に追加
分光装置および分光方法 - 特許庁
NON-LINEAR RAMAN SPECTROSCOPY APPARATUS, NON-LINEAR RAMAN SPECTROSCOPY SYSTEM, AND NON-LINEAR RAMAN SPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加
非線形ラマン分光装置、非線形ラマン分光システム及び非線形ラマン分光方法 - 特許庁
X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY SYSTEM AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加
蛍光X線分光システム及び蛍光X線分光方法 - 特許庁
TIME-RESOLVED SPECTROSCOPY SYSTEM, TIME-RESOLVED SPECTROSCOPY METHOD AND TERAHERTZ WAVE GENERATION SYSTEM例文帳に追加
時間分解分光システム,時間分解分光方法及びテラヘルツ波発生システム - 特許庁
THICKNESS MEASURING METHOD BY FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPY例文帳に追加
フ—リエ分光法を用いた厚み測定方法 - 特許庁
THICKNESS MEASURING METHOD USING FOURIER-TRANSFORM SPECTROSCOPY例文帳に追加
フ—リエ分光法を用いた厚み測定方法 - 特許庁
SPECTROSCOPY SYSTEM AND METHOD FOR SURFACE ANALYSIS例文帳に追加
表面分析用分光装置と分析方法 - 特許庁
EMISSION SPECTROSCOPY PROCESSOR AND PLASMA TREATMENT METHOD例文帳に追加
発光分光処理装置及びプラズマ処理方法 - 特許庁
DEVICE FOR INTERFERENCE SPECTROSCOPY, METHOD USING INTERFERENCE SPECTROSCOPY, AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加
干渉分光法用の装置、干渉分光法を使用した方法、干渉測定装置 - 特許庁
METHOD OF MEASURING SENSITIVITY COEFFICIENT OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY例文帳に追加
オージェ電子分光法の感度係数測定方法 - 特許庁
QUANTITATIVE ANALYTICAL METHOD FOR SUBSTRATE BY RAMAN SPECTROSCOPY例文帳に追加
ラマン分光法による基質の定量分析方法 - 特許庁
DISCRIMINATING METHOD OF ABNORMAL MEAT BY NEAR-INFRARED SPECTROSCOPY例文帳に追加
近赤外分光法による異常肉の判別方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR SPECTROSCOPY OF BIOLOGICAL TISSUE例文帳に追加
生物学的組織の分光法のための系および方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF CALIBRATION CURVE IN NEAR-INFRARED SPECTROSCOPY例文帳に追加
近赤外分光法における検量線補正方法 - 特許庁
METHOD OF PREPARING SUBSTRATE FOR SURFACE-ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY, AND SUBSTRATE FOR SURFACE-ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY例文帳に追加
表面増強ラマン分光分析用基板の作成方法及び表面増強ラマン分光分析用基板 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING MONOBASIC SUBSTITUTION BY FLUORESCENCE CORRELATION SPECTROSCOPY例文帳に追加
蛍光相関分光法による1塩基置換検出方法 - 特許庁
METHOD OF DETECTING ORGANIC MATERIALS USING TERAHERTZ SPECTROSCOPY例文帳に追加
テラヘルツ分光法を用いて有機物質を検出する方法 - 特許庁
COMBINED ELECTRON SPECTROMETER AND ELECTRON SPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加
電子分光分析複合装置、及び電子分光分析方法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD FOR SPECIMEN BY MOLECULAR ARRAY USING SPECTROSCOPY例文帳に追加
分光法を利用した分子アレイによる検体の分析方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY例文帳に追加
オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置 - 特許庁
TRACE COMPONENT ANALYSIS METHOD IN MATERIAL BY ARC EMISSION SPECTROSCOPY例文帳に追加
アーク発光分光による材料中の微量成分分析法 - 特許庁
SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY AND SEMICONDUCTOR WAFER ANALYSIS METHOD例文帳に追加
二次イオン質量分析法及び半導体ウェハの分析方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR PHOTOCATALYST BY TIME RESOLUTION INFRARED SPECTROSCOPY例文帳に追加
時間分解赤外分光法による光触媒の評価方法 - 特許庁
QUANTITATIVE MEASURING METHOD FOR DLC FILM BY USING RAMAN SPECTROSCOPY例文帳に追加
ラマン分光法を用いたDLC膜の定量測定方法 - 特許庁
TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION METHOD AND SPECTROSCOPY/IMAGING MEASURING DEVICE例文帳に追加
テラヘルツ電磁波発生方法及び分光・イメージング測定装置 - 特許庁
STRESS EVALUATING METHOD USING RAMAN SPECTROSCOPY, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
ラマン分光を用いた応力評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY例文帳に追加
X線光電子分光装置およびX線光電子分光方法 - 特許庁
FATIGUE LIFE PREDICTION METHOD BY ULTRASONIC SPECTROSCOPY TRANSPOSITION DENSITY MEASUREMENT例文帳に追加
超音波スペクトロスコピー転位密度計測による疲労寿命予測法 - 特許庁
STRESS MEASUREMENT APPARATUS BY LASER RAMAN SPECTROSCOPY, AND STRESS-MEASURING METHOD例文帳に追加
レーザラマン分光法による応力測定装置、応力測定方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ION SCATTERING SPECTROSCOPY MEASUREMENT例文帳に追加
イオン散乱分光測定方法及びイオン散乱分光測定装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY例文帳に追加
X線光電子分光装置及びX線光電子分光方法 - 特許庁
CAVITY RING-DOWN SPECTROSCOPY, AND SPECTROSCOPE USING THE METHOD例文帳に追加
キャビティリングダウン分光方法及びその方法を用いた分光装置 - 特許庁
SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR TEMPERATURE AND PRESSURE BY X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY例文帳に追加
X線吸収分光による温度・圧力同時測定方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY例文帳に追加
X線光電子分光装置およびX線光電子分光法 - 特許庁
IN-SITU BATTERY DIAGNOSIS METHOD USING ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE SPECTROSCOPY例文帳に追加
電気化学インピーダンス分光法を使用するその場電池診断方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING GAS INSIDE AIR BUBBLES BY LASER RAMAN SPECTROSCOPY例文帳に追加
レーザラマン分光による気泡内ガス分析装置及び分析法 - 特許庁
ANALYZING METHOD AND DEVICE IN LASER INDUCED PLASMA SPECTROSCOPY例文帳に追加
レーザー誘起プラズマ分光分析法における解析方法とその装置 - 特許庁
METHOD AND TOOL FOR POSITIONING OF ION SOURCE FOR MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加
質量分析装置用イオン源のカラム位置決め方法および治具 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING CONCENTRATION OF GAS-HYDRATE BY SPECTROSCOPY例文帳に追加
分光法によるガスハイドレートの濃度検出方法及びその装置 - 特許庁
SIMULTANEOUS MEASUREMENT INSTRUMENT AND MEASURING METHOD FOR HEAT-CAPACITY SPECTROSCOPY AND PERMITTIVITY例文帳に追加
熱容量スペクトロスコピーと誘電率の同時測定装置と測定方法 - 特許庁
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