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tPI testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4件
A method for designing a semiconductor integrated circuit is based on a TPI (Test Point Insertion) method.例文帳に追加
本発明によれば、TPI(Test Point Insertion)手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁
According to the present invention, a design method for semiconductor integrated circuit based on TPI (test point insertion) technique is provided.例文帳に追加
本発明によれば、TPI手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁
In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加
ディスク試験装置10は、先ずは、試験対象であるディスク装置20に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件(BPIおよびTPI)をディスク装置20に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁
The test circuit TC includes a transmission buffer TXB for test to accumulate transmission data signals from a test input terminal TPI at a frequency CF2 lower than at the frequency CF1, and a reception buffer RXB for test to output the reception data signals to a test output terminal TPO at the frequency CF3 lower than at the frequency CF1.例文帳に追加
テスト回路TCは、テスト入力端子TPIからの送信データ信号をCF1よりも遅い周波数CF2で蓄積するテスト用送信バッファTXBと、受信データ信号をCF1よりも遅い周波数CF3でテスト出力端子TPOに出力するテスト用受信バッファRXBを含む。 - 特許庁
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