「test device」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST HANDLER DEVICE例文帳に追加

テストハンドラ装置 - 特許庁

SYSTEM TEST DEVICE例文帳に追加

システムテスト装置 - 特許庁

SCANNING TEST DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト装置 - 特許庁

PROGRAM TEST DEVICE例文帳に追加

プログラムテスト装置 - 特許庁

WAFER TEST DEVICE例文帳に追加

ウエハ検査装置 - 特許庁

AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加

自動テスト装置 - 特許庁

DEVICE TEST FIXTURE例文帳に追加

デバイス検査治具 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

メモリ試験装置 - 特許庁

LEAK TEST DEVICE例文帳に追加

リーク試験装置 - 特許庁

TEST MANAGEMENT DEVICE例文帳に追加

テスト管理装置 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE例文帳に追加

テスト支援装置 - 特許庁

LOAD TEST DEVICE例文帳に追加

載荷試験装置 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

メモリ検査装置 - 特許庁

LOADING TEST DEVICE例文帳に追加

載荷試験装置 - 特許庁

LEAK TEST DEVICE例文帳に追加

漏れ試験装置 - 特許庁

TEST MANAGING DEVICE例文帳に追加

テスト管理装置 - 特許庁

TEST SUPPORTING DEVICE例文帳に追加

テスト支援装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置と試験方法 - 特許庁

TEST SYSTEM, TEST DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

テストシステム、テスト装置、及びテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

テスト装置、及び、テスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

テスト装置及びテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

試験回路装置 - 特許庁

ABRASION TEST DEVICE例文帳に追加

摩耗試験装置 - 特許庁

BENCHMARK TEST DEVICE例文帳に追加

ベンチマークテスト装置 - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM例文帳に追加

装置試験システム - 特許庁

AIR LEAK TEST DEVICE例文帳に追加

エアリークテスト装置 - 特許庁

TEMPERATURE TEST DEVICE例文帳に追加

温度試験装置 - 特許庁

HARDNESS TEST DEVICE例文帳に追加

硬さ試験装置 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE例文帳に追加

試験支援装置 - 特許庁

OPHTHALMOLOGY TEST DEVICE例文帳に追加

眼科検査装置 - 特許庁

TEST AIDING DEVICE例文帳に追加

試験補助装置 - 特許庁

DEVICE TEST EQUIPMENT例文帳に追加

デバイス試験装置 - 特許庁

FRICTION TEST DEVICE例文帳に追加

摩擦試験装置 - 特許庁

AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加

自動試験装置 - 特許庁

TEST MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

試験測定機器 - 特許庁

PERMEABILITY TEST DEVICE例文帳に追加

透過試験装置 - 特許庁

FATIGUE TEST DEVICE例文帳に追加

疲労試験装置 - 特許庁

DROP TEST DEVICE例文帳に追加

落下試験装置 - 特許庁

TEST SUPPORTING DEVICE例文帳に追加

試験支援装置 - 特許庁

SUBSTRATE TEST DEVICE例文帳に追加

基板検査装置 - 特許庁

SOFTWARE TEST DEVICE例文帳に追加

ソフトウェアテスト装置 - 特許庁

ENGINE TEST DEVICE例文帳に追加

エンジン試験装置 - 特許庁

DEVICE TEST SUPPORT DEVICE例文帳に追加

デバイス試験支援装置 - 特許庁

TEST SUBSTRATE AND TEST DEVICE例文帳に追加

検査基板および検査装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、及び試験方法 - 特許庁