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testing, testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
SAFETY TESTING METHOD FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE例文帳に追加
中空糸膜モジュールの安全性試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
半導体装置、試験装置、および製造方法 - 特許庁
NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
不揮発性半導体メモリとその検査方法 - 特許庁
WHEEL BASE POSITIONING DEVICE OF TESTING MACHINE FOR VEHICLE例文帳に追加
車両用試験機のホイールベース位置決め装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスのテスト装置、およびテスト方法 - 特許庁
TEST BOARD TESTING DEVICE AND TEST BOARD TEST METHOD例文帳に追加
テストボード試験装置、及びテストボード試験方法 - 特許庁
SYSTEM CLOCK TESTING DEVICE, METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加
システム時計検査装置、方法及びそのプログラム - 特許庁
BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING RELIABILITY OF FERROELECTRIC CAPACITOR例文帳に追加
強誘電体キャパシタの信頼性試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ASYNCHRONOUS LSI例文帳に追加
非同期ＬＳＩ試験装置および試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND DIAGNOSTIC METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体試験装置およびその診断方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子の試験装置および試験方法 - 特許庁
TESTING REAGENT BASE MATERIAL AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加
検査試薬用基材およびその製造方法 - 特許庁
FRACTURE TOUGHNESS TESTING METHOD FOR LIGHT-WEIGHT SANDWICH PANEL例文帳に追加
軽量サンドイッチパネルの破壊靱性試験方法 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
SOFTWARE TESTING DEVICE FOR BUSINESS SHOP TERMINAL DEVICE例文帳に追加
営業店端末装置のソフトウェア試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びメモリのテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND MASK CIRCUIT例文帳に追加
半導体装置のテスト方法およびマスク回路 - 特許庁
SOAP UI integration for Web Service testing and monitoring. 例文帳に追加
Web サービスのテストおよび監視のための SOAP UI 統合。 - NetBeans
End-to-End Binary SOAP Attachment 4: Testing the Web Service 例文帳に追加
エンドツーエンドのバイナリ SOAP アタッチメント 4: Web サービスのテスト - NetBeans
SELF-SYNCHRONOUS TYPE LOGIC CIRCUIT HAVING TESTING CIRCUIT例文帳に追加
テスト回路を有する自己同期型論理回路 - 特許庁
PRESSURE-PROOF EXPANSION TESTING DEVICE FOR HIGH PRESSURE GAS VESSEL例文帳に追加
高圧ガス容器の耐圧膨張試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
SENSOR CHARACTERISTIC CORRECTION DEVICE AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
センサ特性補正装置および材料試験機 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LOAD CAPACITY OF GROUND ANCHOR例文帳に追加
グラウンドアンカーの耐荷重試験方法及び装置 - 特許庁
OPPORTUNISTIC PATTERN-BASED CPU FUNCTIONAL TESTING例文帳に追加
好機をねらったパターンベースのＣＰＵ機能試験 - 特許庁
ELECTRONIC WATTHOUR METER AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
電子式電力量計及びその試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の試験装置および試験方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR FOR AUTOMATIC EGG TESTING METHOD例文帳に追加
自動検卵方法における画像処理装置 - 特許庁
PENETRATION TESTING METHOD OF PROTECTIVE CLOTHING MATERIAL AND PENETRATION TESTER例文帳に追加
防護服素材の浸透試験方法と装置 - 特許庁
LIGHT-EMITTING DEVICE TESTING APPARATUS AND PHOTO DETECTOR例文帳に追加
発光素子試験装置及び光検出素子 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁
ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TROUBLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加
スキャン障害解析方法および試験装置 - 特許庁
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 | ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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