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走査電子顕微鏡

scanning electron microscope (SEM)

走査型電子顕微鏡
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走査型電子顕微鏡; SEM; 走査電子顕微鏡

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走査電顕; 走査型電子顕微鏡; 走査電子顕微鏡

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走査(型)電(子)顕(微鏡)

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走査（型）電子顕微鏡

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scanning electron microscope

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(道具)
走査型電子顕微鏡, 走査電子顕微鏡, ((俗))
走査電顕
関連語
同義語（異表記）
Electron Scanning Microscopy
scanning electron microscope
Scanning Electron Microscopy
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡観察
走査型電子顕微鏡法
走査型電子顕微法
走査電顕
走査電子顕微鏡
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診断技術と手順　Diagnostic Techniques and Procedures
画像診断　Diagnostic Imaging
顕微鏡観察　Microscopy
電子顕微鏡　Electron Microscopy
走査型電子顕微鏡　Scanning Electron Microscopy
研究技術　Investigative Technique
顕微鏡観察　Microscopy
電子顕微鏡　Electron Microscopy
走査型電子顕微鏡　Scanning Electron Microscopy

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走査形電子顕微鏡，走査電顕，ＳＥＭ，走査型電子顕微鏡，走査電子顕微鏡

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ＳＥＭ, 走査型電子顕微鏡

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡; SEM

scanning electron microscope

セム
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Wiktionary英語版

出典：Wiktionary

scanning electron microscope

出典:『Wiktionary』 (2025/02/19 02:41 UTC 版)

名詞

scanning electron microscope (plural scanning electron microscopes)

  1. An electron microscope whose image is made up of a matrix of points from scanning the surface of a sample.

派生語

関連する語

ウィキペディア英語版

出典：Wikipedia

Scanning electron microscope

出典:『Wikipedia』 (2011/07/06 09:48 UTC 版)

英語による解説

ウィキペディア英語版からの引用
引用

A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that images a sample by scanning it with a high-energy beam of electrons in a raster scan pattern. The electrons interact with the atoms that make up the sample producing signals that contain information about the sample's surface topography, composition, and other properties such as electrical conductivity.

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