「Step Test」を含む例文一覧(486)

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  • A test pattern is generated in a step S1.
    ステップＳ_１ でテストパターンを作成する。 - 特許庁
  • Test printing setting is stored (step S24).
    そして、テスト印刷設定を保存する（ステップＳ２４）。 - 特許庁
  • To detect abnormal state of self and a test body at the initial step of a test.
    試験の初期段階で自己及び供試体の異常状態を検出する。 - 特許庁
  • The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).
    現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される（Ｓ１）。 - 特許庁
  • The method of generating the test data includes a first plane data generating step, a second plane data generating step, and a test layout data generating step.
    テストデータ生成方法は、第１平面データ生成工程と第２平面データ生成工程とテストレイアウトデータ生成工程とを備える。 - 特許庁
  • A multicycle test step and a single cycle test step are provided, the test for the multicycle path is carried out while holding the date, using the clock enable signal to the FFI in the data output side, when executing the multicycle test step, and the test is carried out while bringing constitution not capturing the data, as to the multicycle path, when executing the single cycle test step.
    マルチサイクルテストステップと、シングルサイクルテストステップとを設けて、マルチサイクルテストステップ時には、データの出し側のFF1に対してクロックイネーブル信号を用いて、データをホールドしてマルチサイクルパスのテストを行い、シングルサイクルテストステップ時に、マルチサイクルパスに関してはデータをキャプチャさせない構成をとってテストを行う。 - 特許庁
  • At the step S6, operation of the test template is tested.
    ステップＳ６において、テストテンプレートの動作テストを行なう。 - 特許庁
  • The next step after that is to test it in antartica and then
    そのテストが済んだら次は南極で、そして次は - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The step for measuring test area reflection light includes measuring a test area reflection light level.
    テスト領域反射光測定ステップは、テスト領域反射光レベルを測定する。 - 特許庁
  • A test is performed on the basis of the test specification file 23 and a test recording file 24 is generated (step S4).
    さらに、テスト仕様書ファイル２３に基づいてテストが実行され、テスト記録ファイル２４が生成される（ステップＳ４）。 - 特許庁
  • In the Enter the Test Case Name step, enter a name for the test case and click Next.
    「テストケース名を入力」ステップで、テストケースの名前を入力して「次へ」をクリックします。 - NetBeans
  • At a first test step, first test data is acquired from a plurality of semiconductor devices.
    第１試験ステップにより複数の半導体装置から第１試験データを取得する。 - 特許庁
  • At a second test step, second test data is acquired from the plurality of semiconductor devices under environmental conditions different from those of the first test step.
    第２試験ステップにより上記複数の半導体装置から上記第１試験ステップとは異なる環境条件による第２試験データを取得する。 - 特許庁
  • An address having the lowest priority is specified (step 26), and test data are written (step 27).
    最も優先度の低いアドレスを指定し（ステップ２６）、検査データを書き込む（ステップ２７）。 - 特許庁
  • A simulation is executed (step 1), an input/output switch timing of an integrated circuit is calculated to create a test program and a test pattern (step 2, step 3).
    シミュレーションを実行して（ステップ１）集積回路の入出力の切替えタイミングを算出し、テストプログラムとテストパタンとを作成する（ステップ２，ステップ３）。 - 特許庁
  • The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.
    並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁
  • After a memory device is subjected to a data holding property test (step S4) in a wafer state, test data are rewritten to data of reverse pattern (step S6).
    ウエハ状態でのデータ保持特性試験（ステップＳ４）終了後、テストデータを逆パタンのデータに書き換える（ステップＳ６）。 - 特許庁
  • The test patterns are subjected to X-extraction (step 3), and each test pattern is mapped in the state transition of an FSM (step 4).
    テストパターンに対してＸ抽出を行ない（ｓｔｅｐ３）、各テストパターンをＦＳＭの状態遷移にマッピングする（ｓｔｅｐ４）。 - 特許庁
  • An initial count value (111) is reloaded to the counter at the time of finish of one test step and at the time of preparation of the next test step.
    カウンタには、１つのテスト段階の終了時及び次のテスト段階の準備の際に、初期カウント値(111)がリロードされる。 - 特許庁
  • Furthermore, a test result of blood sampled from a participant is received (Step S15) and the received test result is displayed (Step S17).
    また、参加者から採取された血液の検査結果を受信し（ステップＳ１５）、受信した検査結果を表示する（ステップＳ１７）。 - 特許庁
  • An STA script sentence 14 is generated together with a test circuit in the case of test synthesis (step S11).
    テスト合成時にテスト回路とともにＳＴＡスクリプト文１４を生成する（ステップＳ１１）。 - 特許庁
  • A printer performs test print with a test print signal corresponding to a reference gray (Step S11).
    プリンタは、基準グレーに対応したテスト印刷信号によってテスト印刷を行う（ステップＳ１１）。 - 特許庁
  • Finally, a state transition for realizing the remaining test patterns is added to the test series (step 8).
    最後に、残ったテストパターンを実現する状態遷移をテスト系列に追加する（ｓｔｅｐ８）。 - 特許庁
  • When starting a radio wave propagation test, the test switch of a wireless base unit 6 is turned on (step 30).
    無線電波伝搬試験開始時、無線親機６の試験スイッチをオン作動にする（ステップ３０）。 - 特許庁
  • In an erase process to erase the test write data recorded in the test area, CW erase is performed (a step S104) and reproduction of the test write data is attempted (a step S106).
    テストエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁
  • Prior to the start of a breaking elongation test to the test piece, after measuring a distance between reference lines attached to the test piece as an initial inter-reference-line distance L0 (step S1), the breaking elongation test to the test piece is executed (step S2).
    試験片Ｓに対する破断伸び試験の開始に先立って該試験片に付された標線間の距離を初期標線間距離Ｌoとして計測した後（ステップＳ１）、試験片に対する破断伸び試験を実行する（ステップＳ２）。 - 特許庁
  • The degree of satisfaction is measured by conducting an evaluation test at a step S3.
    ステップＳ３にて評価試験を行って満足度を計測する。 - 特許庁
  • We are studying in order to pass the STEP 2nd grade test.
    われわれは英検２級に受かるために勉強しているのです。 - Tanaka Corpus
  • We are studying in order to pass the STEP 2nd grade test.
    われわれは英検２級に受かるために勉強しているのです。 - Tatoeba例文
  • To eliminate a redundant test step in a test of retrieving operation of an associative memory having a priority encoder.
    プライオリティエンコーダを持つ連想メモリの検索動作の検査において、冗長な検査ステップを排除する。 - 特許庁
  • In the step S4, the user selects the test patch which appears to be most uniform among the other test patches.
    ステップＳ４において、ユーザは、印刷されたテストパッチの中からもっとも一様に見えるものを選択する。 - 特許庁
  • In the drum durability test, the test speed is increased stepwise, and the test speed in each step is maintained for at least 5 hours.
    ドラム耐久試験において、試験速度を段階的に増加させると共に、各段階の試験速度を少なくとも５時間維持する。 - 特許庁
  • Test recording is performed to a recording object medium by using a prescribed test recording pattern (step S500), a jitter margin is acquired by reproducing the test recorded result (step S502), and a β value is measured (step S504).
    所定のテスト記録パターンを用いて記録対象メディアにテスト記録を行い（ステップＳ５００）、このテスト記録結果を再生してジッタマージンを取得するとともに（ステップＳ５０２）、β値を測定する（ステップＳ５０４）。 - 特許庁
  • The test sample for evaluation is formed into tablets in the tableting step.
    タブレット成形工程で、評価用試料をタブレット状に成形する。 - 特許庁
  • A test pattern is automatically generated by an ATPG tool at a step 15.
    ステップ１５で、ＡＴＰＧツールによるテストパターンの自動作成を行う。 - 特許庁
  • A node to be inserted is determined by comparing the failure detection rates in a test efficiency comparing step S111, and selecting the one with higher test efficiency of the test point for observation and the test point for control in a test point insertion node determining step S112.
    続いて、テスト効率比較ステップＳ１１１にて両者を比較し、テストポイント挿入ノード決定ステップＳ１１２において観測用テストポイント及び制御用テストポイントのうち、テスト効率がより高い方を選択し、挿入されるノードを決定する。 - 特許庁
  • To provide a test item creation device which can be used in an upstream step of a software test, and to provide a test item creation system, a test item creation method, and a test item creation program.
    ソフトウェア・テストの上流工程においても用いることの可能なテスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラムを提供すること。 - 特許庁
  • This method includes a step in which the recorder/player extends the additional extra space of a test disk by using the test disk having test reference information and test information is generated from the test disk, and a step in which reference information predicted with the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information are provided.
    テスト基準情報を有するテストディスクを用いて記録及び再生装置でテストディスクの追加余裕空間を拡張し、テストディスクからテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁
  • A paper feed speed is increased regardless of the kind of paper in the test printing mode (step 212) and the paper is fed without removing skew (step 213) and, after cueing (step 211), test printing is performed.
    テスト印字モードでは紙種に関係なく給紙速度を高速にし（ステップ２１２）、スキュー取りを行わないで用紙を給送し（ステップ２１３）、頭出し（ステップ２１１）後にテスト印字する。 - 特許庁
  • The transconductance step produces two test currents in proportion to the test voltages and two reference currents.
    相互コンダクタンス段は、試験電圧に比例した２つの試験電流および２つの基準電流を生成している。 - 特許庁
  • To execute evaluation of all test results including the result of a step out test without intervention of persons.
    同期外れ試験の結果を含む全ての試験結果の評価を、人間が介在することなく、無人で実行する。 - 特許庁
  • Thus, the medium processor reads the picture of the test sheet (step S2).
    それにより、媒体処理装置に、テストシートの画像を読み取らせる（ステップＳ２）。 - 特許庁
  • The method 100 includes a step 110 for executing a timing test with respect to the signal from the device, and a step 120 for conducting a bit level test independently.
    方法１００は、デバイスからの信号に対して、タイミング試験を実施するステップ１１０と、ビット・レベル試験を独立に行うステップ１２０と、を含む。 - 特許庁
  • After that a test pattern is recorded with the prescribed recording power (step A04), the test pattern is erased while varying stepwise erasing power (step A05).
    その後、テストパターンを所定の記録パワーで記録し（ステップＡ０４）、そのテストパターンを、消去パワーを段階的に変化させながら消去する（ステップＡ０５）。 - 特許庁
  • The method of constructing an air conditioning system 1 comprises a refrigerant circuit constructing step, an air sealing test step, an air sealing gas releasing step, and a noncondensable gas exhausting step.
    空気調和装置１の施工方法は、冷媒回路構成ステップと、気密試験ステップと、気密ガス放出ステップと、非凝縮性ガス排出ステップとを備えている。 - 特許庁
  • Test recording is performed with fixed laser power Pn as a fixed test recording step (F205) in first to x-th test areas performing the test recording by successively changing the power from the first to the x-th laser powers as a variable recording step (F207).
    可変テスト記録ステップ（Ｆ２０７）として第１から第ｘのレーザパワーに逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、固定テスト記録ステップ（Ｆ２０５）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行う。 - 特許庁
  • When the test quality does not satisfy a target quality (step S16), the blend design information is corrected (step S18).
    試験品質が目標品質を満たさない場合（ステップＳ１６）、配合設計情報を修正する（ステップＳ１８）。 - 特許庁
  • When a user selects a name of the standard of the test signal on a display screen, the video test signal generator is shifted to a test signal priority mode and displays a list of video formats wherein the selected test signal exists (step 54).
    表示画面上のテスト信号の規格名を選択すると、テスト信号優先モードとなり、選択したテスト信号の存在するビデオ・フォーマットの一覧が表示される（ステップ５４）。 - 特許庁
  • A test result prediction apparatus 1 calculates the value of a test parameter group to be used for the test based on inputted observation data (a step S1).
    検定結果予測装置１では、入力された観測データに基づいて、検定に用いられる検定パラメータ群の値が算出される（ステップＳ１）。 - 特許庁
  • A step of a top module necessary for generating hardware logic simulation includes a step for converting an original unit test into an expansion unit test, and a step for generating an input pattern file by performing a unit test to the wrapper class by the expansion unit test.
    さらにハードウエアロジックシュミレーション発生に必要とするトップモジュールのステップは、オリジナルユニットテストを拡充ユニットテストに転換するステップ、拡充ユニットテストはラッパークラス（ｗｒａｐｐｅｒ ｃｌａｓｓ）に対してユニットテストを行い入力パターンファイルを発生するステップを含む。 - 特許庁
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