「Step Test」を含む例文一覧(486)

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  • For example, when a sleep restoration factor occurs during the sleep, the JTAG test is carried out (a step S102) if it is determined that the sleep restoration factor is a predetermined one in a step S101.
    たとえば、スリープ中にスリープ復帰要因が発生した場合、ステップＳ１０１で、そのスリープ復帰要因が所定スリープ復帰要因であると判定されると、ＪＴＡＧテストを実行する（ステップＳ１０２）。 - 特許庁
  • In a rinse step where the tracers are rinsed from the lung of the test animal and in a rinse step where the tracers are rinsed from the brain loaded with the tracers through the lung of the test animal, the nuclear magnetic resonance signals from the lung and the brain are detected to determine transition of time.
    実験動物の肺からトレーサが洗い出される洗い出し過程において、また、実験動物の肺を介して脳中にトレーサが取り込まれた脳からトレーサが洗い出される洗い出し過程において、肺及び脳からの核磁気共鳴信号を検出してその時間的遷移が測定される。 - 特許庁
  • To provide a twist-testing machine, capable of precisely and simply controlling the torque value applied to a test target and capable of easily eliminating deviation between a target twist torque value, capable of being produced in an arbitrary step during a test and an actual measured value in a next step, and to provide a twist-testing method.
    被試験物に加圧されるトルク値を精度よく簡易に管理することができ、試験中の任意ステップにて生じ得る目標ねじりトルク値と実測値との偏差を次のステップにて容易に解消することのできるねじり試験装置およびねじり試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The test pattern generation method includes a property generation step for outputting a property that describes an operation of a circuit based on circuit information and failure information of a detection object in the circuit, and a format verification step for outputting a test pattern of the circuit based on the property.
    本発明のテストパターン生成方法は、回路情報と、回路における検出対象の故障情報とに基づいて、回路の動作を記述するプロパティを出力するプロパティ作成工程と、前記プロパティに基づいて、回路のテストパターンを出力する形式検証工程とを含む。 - 特許庁
  • In the step S32, the transfer material is fed for a test pattern from the paper feeding part set for the succeeding printing operation confirmed in the step S31, and the color balance adjustment is performed after detecting the chromaticity of the test pattern transferred and fixed on the transfer material by a color sensor 26.
    ステップＳ３２では、ステップＳ３１で確認した、以後の印字動作に対して設定された給紙部から、テストパターンのための転写材を給紙して、転写材上に転写・定着したテストパターンの色度をカラーセンサ２６で検知した後に、カラーバランス調整を行う。 - 特許庁
  • An exemplary embodiment of a feedback control method for controlling high frequency banding includes a step for creating a test pattern, a step for detecting the test pattern by the optical sensor and a step for measuring the high frequency banding and adjusting imaging parameters based on the measured high frequency banding in order to reduce the extent of high frequency banding.
    高周波バンディング制御用のフィードバック制御方法の例示的な実施形態は、テストパターンを作成するステップと、光学センサーによりテストパターンを検知するステップと、高周波バンディングの程度を減少させるべく、高周波バンディングを測定し、測定された高周波バンディングに基づいて画像化パラメータを調整するステップを含む。 - 特許庁
  • The method for evaluating or selecting the hair growth control agent includes: a step for administering a test substance to cells that can express DnaJC6 as a molecular chaperone belonging to the DNAJ/HSP40 family; a step for measuring the expression of DnaJC6 in the cells; and a step for evaluating a hair growth control effect of the test substance on the basis of the expression.
    毛成長制御剤の評価又は選択方法であって、DNAJ/HSP40ファミリーに属する分子シャペロンであるDnaJC6を発現可能な細胞に、試験物質を投与する工程；当該細胞におけるDnaJC6の発現を測定する工程；及び、当該発現に基づいて当該試験物質の毛成長制御効果を評価する工程、を包含する方法。 - 特許庁
  • In a printing control part, a test printing mode is provided whereby a solid image is printed as a test image to one side surface of the recording paper (process in step 4 is carried out), and a predetermined mark is printed to a specific position which passes a printing position at the time of the switching operation of the one side surface (processes in step 8 and step S9 are carried out).
    プリント制御部において、記録紙の一側面にテスト画像としてベタ画像を印刷する（ステップ４の処理を実行する）とともに、該一側面のうち踏換え動作時に印刷位置を通過する特定位置に所定マークを印刷する（ステップ８及びステップＳ９の処理を実行する）テスト印刷モードを備えるようにした。 - 特許庁
  • The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.
    第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁
  • The device test method includes a medium supply step which supplies the medium on the stage 40 for mounting the device to be tested 130, an arrangement step which arranges the device to be tested on the stage, and a temperature control step which controls the stage temperature, after the arrangement step, below the freezing temperature of the medium.
    デバイス試験方法は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）上に媒介物を供給する媒介物供給ステップと、ステージ上に被試験デバイスを配置する配置ステップと、配置ステップ後にステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御ステップと、を含む。 - 特許庁
  • A skilled class is decided (step 100) by setting a certain number of words as questions, and a test is conducted (step 200) with a number of questions determined based upon the decided skilled class; and learning contents are determined (step 300) based upon the results, and further practice contents are set (step 400) based upon the result of the learning.
    習熟クラスを或る数の単語を出題して判定し（ステップ１００）、この判定による習熟クラスを基に決定した出題数によりテストが行われ（ステップ２００）、この結果を基に学習内容が決定され（ステップ３００）、更に、この学習の成果を基に練習内容が設定される（ステップ４００）。 - 特許庁
  • In the mobile device test apparatus 10, the process proceeds to a next confirmation step, only if each of the confirmation steps has been completed normally.
    そして、移動機試験装置１０では、各々の確認ステップが正常に完了した場合にのみ、次の確認ステップに進むようになっている。 - 特許庁
  • In a step S101, the format of a test recording data sheet is acquired as image data, and a format ID is related to the image data and stored.
    ステップＳ１０１では、試験記録データシートのフォーマットを画像データとして取得し、その画像データにフォーマットＩＤを関連付けて記憶する。 - 特許庁
  • An engraving head displacement regulator disposes the engraving head so as not to contact with a gravure cylinder, inputs a step signal as a test drive signal, and drives the head.
    彫刻ヘッドをグラビアシリンダに接触しないように配置し、テスト駆動信号としてステップ信号を入力して彫刻ヘッドを駆動する。 - 特許庁
  • In a step S103, correspondence between the cells of the test recording data sheet and an arrangement of data for database is generated as input/output conversion information.
    ステップＳ１０３では、試験記録データシートのセルとデータベース用データの並びとの対応関係を入出力変換情報として作成する。 - 特許庁
  • In test printing processing, a CPU issues an identification number, associating it to file data of a printing object in ascending order (step S20).
    テスト印刷処理において、ＣＰＵは、印刷対象となるファイルデータに対応付けて識別番号を昇順的に発行する（ステップＳ２０）。 - 特許庁
  • A step for removing residual polarization is carried out at steps S14 and S20 before a transition is made from the test process to other process.
    この試験工程から他の工程へ以降する前に、ステップＳ１４及びＳ２０において残留分極を除去する工程が行われる。 - 特許庁
  • Then, the head position of the actually recorded area of the test data is detected based on a signal obtained from the recording area (step 411).
    次に記録領域から得られる信号に基づいてテストデータが実際に記録された領域の先頭位置が検出される（ステップ４１１）。 - 特許庁
  • A step S309 determines presence or absence of a linear defect on the test object based on a result of comparing the corrected additional value with a threshold value.
    ステップＳ３０９では、補正後の加算値と閾値を比較した結果に基づいて、検査対象物上の線状欠陥の有無を判定する。 - 特許庁
  • In a probe test, a memory cell is made an over erasing state intentionally (step S201), and such state is made that excess electrons exist around the memory cell.
    プローブテストにおいて、メモリセルを故意に過消去状態にし（ステップＳ２０１）、メモリセル周辺に過剰に電子が存在する状態にする。 - 特許庁
  • In a wafer check step, electrodes 9, 10, 11 are set to a ground level and a test voltage is applied to an electrode 8, thereby applying a test voltage higher than that in normal operation to gate oxide films of MOSFETs Q1, Q2.
    ウェハ検査工程では、電極９、１０、１１をグランドレベルに設定し、電極８にテスト電圧を印加することで、ＭＯＳＦＥＴＱ１、Ｑ２のゲート酸化膜に通常動作時よりも高いテスト電圧を加える。 - 特許庁
  • In a fourth step, a test of a semiconductor memory determined as defective memory operation using the test pattern converted to the signal pattern by a semiconductor memory tester, is performed and reappearance of the occurrence of the defective operation is verified.
    第４ステップでは、半導体メモリテスタにより信号パターンに変換されたテストパターンを用いてメモリ動作不良と判定された半導体メモリのテストを実施し、上記動作不良発生の再現を検証する。 - 特許庁
  • In the step S230, the control unit outputs from a speaker the audio data for the test mode read from the flash memory and displays on a display unit the display data for the test mode read from the flash memory.
    Ｓ２３０ステップにおいて、制御部は、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の音声データをスピーカから出力させると共に、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の表示データを表示部に表示させる。 - 特許庁
  • Subsequently, a prescribed test pattern generation means for failure verification such as an ATPG is applied to the logic circuit after the sequence circuit is replaced by the combination circuit, thereby generating an input test pattern (step S2).
    続いて、順序回路を組み合わせ回路で置換した後の論理回路に対してＡＴＰＧ等の所定の故障検証用テストパターン生成手段を適用して入力テストパターンを生成する（ステップＳ２）。 - 特許庁
  • In the short circuit test circuit for supplying the current from power sources 11-13 to the supply test breaker through step-down transformers 31-33 current control reactors 41-43 are connected to the only secondary side of the transformers 31-33.
    電源１１〜１３から降圧変圧器３１〜３３を介して供試遮断器に電流を供給する短絡試験回路で、電流調整用のリアクトル４１〜４３を変圧器３１〜３３の二次側にのみ接続する。 - 特許庁
  • If you look at the source code for the classes, you can see that Utils.java has three methods(computeFactorial, concatWords, and normalizeWord) and that Vectors.javahas two methods (equals and scalarMultiplication).The next step is to create test classes for each class and write some test cases for the methods.
    クラスのソースコードを見ると、Utils.java に 3 つのメソッド (computeFactorial、concatWords、および normalizeWord) があり、Vectors.java に 2 つのメソッド (equals および scalarMultiplication) があることがわかります。 次の手順では、各クラス用のテストクラスを作成し、メソッド用にいくつかのテストクラスを記述します。 - NetBeans
  • At least one test scenario is dynamically and automatically generated by accessing a rulebase 16 storing dependence between the individual operation steps, and the test scenario can be automatically executed in a subsequent step.
    個々の操作ステップの間の依存性を蓄えた規則ベース（１６）にアクセスして少なくとも１つの試験シナリオが動的かつ自動的に生成され、引き続くステップにおいてこの試験シナリオを自動的に実行することができる。 - 特許庁
  • A free area of a recording medium is retrieved before starting to record moving picture data (step S112), and test writing is respectively performed in one block of the first address of the free area and one block of the last address of the free area to measure recording speeds (step S114 and step S116).
    動画データの記録開始前に、記録メディアの空き領域を検索し（ステップＳ１１２）、空き領域の先頭アドレスの１ブロックと、空き領域の最終アドレスの１ブロックでそれぞれ試し書きを実施して記録速度を測定する（ステップＳ１１４，ステップＳ１１６）。 - 特許庁
  • In the case of registration correction, in a present set condition (condition where it is assumed that registration deviation does not exist), the C test pattern and the K test pattern are plotted so that a central short line forming the C pattern in each step state is superposed on the corresponding K line, and a test image 50A is formed on the paper.
    レジストレーション補正時には、現在の設定状態（レジストレーションずれがないと仮定した状態）で、Ｃの各階段状パターンを形成している中央の短ラインが、対応するＫのラインと重なるように、ＣのテストパターンとＫのテストパターン描き、用紙上にテスト画像５０Ａを形成する。 - 特許庁
  • The method for measuring the therapeutic and preventive effects of test specimens comprises the step (I) where the presenilinase is allowed to contact with substrate peptide in the presence or absence of the test specimens and the step (II) where the amounts of the substrate fragments formed by chain breakage reaction of the substrate polypeptide are measured to compare their amounts in the presence of or in the absence of the test specimens.
    以下の工程からなる、被験物質のアルツハイマー病治療又は予防効果を測定する方法、（Ｉ）被験物質の存在下または非存在下でプレセニリネース及び基質ポリペプチドを接触させる工程、（ＩＩ）該基質ポリペプチドの切断により生じた基質断片の産生量を測定し、被験物質の存在下及び非存在下における該産生量を比較する工程。 - 特許庁
  • The method for detecting West Nile virus in a test sample includes the steps of amplifying West Nile Virus nucleic acid in the test sample, and detecting the amplified nucleic acid, wherein detection of amplified nucleic acid indicates the presence of West Nile virus in the test sample, also the amplifying step or the detecting step or both steps are performed with at least one oligonucleotide.
    試験サンプル中の西ナイルウイルスの検出法は該試験サンプル中の西ナイルウイルスの核酸を増幅させ；そして増幅した核酸を検出する工程を含んでなり、ここで増幅した核酸の検出は該試験サンプル中の西ナイルウイルスの存在を示し、該増幅工程または該検出工程、または両工程は少なくとも１つのオリゴヌクレオチドを用いて行われる。 - 特許庁
  • When a field test function 71 is operated, the control unit 7 sets the switch 22 to the side of the attenuator 21, measures the error rate while decreasing attenuation levels step by step for each channel, and records data in a recording unit 4.
    制御部７は、フィールドテスト機能７１を動作させたときに、スイッチ２２をアッテネータ２１側に設定して、チャンネルごとに、減衰レベルを段階的に下げながら、エラーレートを測定し、データを記録部４に記録させる。 - 特許庁
  • The process execution part 14 perform logic analysis from the lowest step toward an upper step to acquire truth/false of condition branching included in the batch AP as the test object and a boundary value for acquiring value candidate information.
    処理実行部１４は、最下位ステップから上位ステップに向けてロジック解析を行い、テスト対象のバッチＡＰに含まれる条件分岐の真／偽と、境界値とを取得して値候補情報を取得する。 - 特許庁
  • A verification environment is automatically constituted for each of an analog circuit and a characteristic model thereof (step S120), and a test scenario is created by the use of a GUI on the basis of the constituted verification environment (step S130).
    アナログ回路およびその特性モデルについてそれぞれ自動的に検証環境を構築し（ステップＳ１２０）、構築した検証環境に基づきＧＵＩを用いてテストシナリオを作成する（ステップＳ１３０）。 - 特許庁
  • A compatibility matrix 631 for the candidate scene vector is decided (step 630), and the probability of the compatibility matrix is propagated to be constricted by the network, in order to estimate a scene from the test image (step 640).
    候補情景ベクトルに対する互換性マトリックス６３１が決定され（ステップ６３０）、また、互換性マトリックスの確率は、テスト画像から情景を推定するために収斂するまでネットワークで伝搬される（ステップ６４０）。 - 特許庁
  • A memory tester 101 informs size of DUT to an analysis server 104 after the end of test (step S301), and performs buffering of fail bit data stored in a fail memory and extraction of fail information (step S302).
    メモリテスタ１０１は、試験終了後にＤＵＴのサイズを解析サーバ１０４に通知し（ステップＳ３０１）、フェイルメモリに記憶されたフェイルビットデータのバッファリング及びフェイル情報の抽出を行う（ステップＳ３０２）。 - 特許庁
  • In a radio communication apparatus 2 provided with a Bluetooth (BT) (R) communication part 26 and an SS radio communication part 27, a test pattern is transmitted from the BT(R) communication part 26 (step S2) and received by the SS radio communication part 27 (step S3).
    Bluetooth（ＢＴ）通信部２６とＳＳ無線通信部２７が設けられた無線通信装置２において、ＢＴ通信部２６からテストパターンを送信し（ステップＳ２）、ＳＳ無線通信部２７により受信する（ステップＳ３）。 - 特許庁
  • In a first step, a memory input signal when defective memory operation is caused in an actual device test of a semiconductor memory in a state mounted on a system is extracted.
    第１ステップでは、システムに搭載された状態での半導体メモリの実機テストでのメモリ動作不良発生時のメモリ入力信号を抽出する。 - 特許庁
  • In a second test step, an adjustment device adjusts each actuator toward a supply ratio corresponding to an air excess coefficient above a stoichiometric value of λ=1.
    第２の検査ステップにおいて、調節装置が、各アクチュエータを、化学量論値λ＝１を上回る空気過剰率に相当する供給比へ調節する。 - 特許庁
  • A test print 2 is generated (S105), and a relation between a laser output and the density is obtained, based on the density information which is obtained in the step S106 (S107) to set a gamma-conversion characteristic (S108).
    テストプリント2を形成し(S105)、ステップ106で得られた濃度情報からレーザ出力と濃度との関係を求め(S107)、ガンマ変換特性を設定する(S108)。 - 特許庁
  • It is effective to adapt a large optical output test at a low temperature that is lower than that of an average operation temperature as room temperature in a manufacturing step.
    製造工程中に室温などの平均的な動作温度に比べて低い温度での大光出力の試験を取り入れることが有効である。 - 特許庁
  • Concerning the test pattern corresponding to the ratio having the highest value of a plurality of computed ratios, a focus point upon exposure is a best focusing (step S14).
    算出した複数の比率のうち最も値が大きい比率に対応するテストパターンについて露光した時のフォーカスポイントをベストフォーカスとする（ステップＳ１４）。 - 特許庁
  • In other words, the first to the x-th laser powers in the variable test recording step or the first to the x-th amplitude information thereof are corrected (F208).
    即ち可変テスト記録ステップでの第１から第ｘのレーザパワー又はその際の第１から第ｘの振幅情報を補正する（Ｆ２０８）。 - 特許庁
  • The test print 2 is formed (S105), the relation of the laser output and the density is obtained from the density information obtained in the step S106 (S107) and gamma conversion characteristics are set (S108).
    テストプリント2を形成し(S105)、ステップ106で得られた濃度情報からレーザ出力と濃度との関係を求め(S107)、ガンマ変換特性を設定する(S108)。 - 特許庁
  • In all three offices, the result of the comparative test between the claimed invention and the prior art may be used as one of the criteria in determining the inventive step.
    いずれの庁においても、クレームに係る発明と先行技術との比較テストの結果は、進歩性の判断基準の1つとして使用することができる。 - 特許庁
  • To form an image with the quality of a print result image approximately kept constant in a print step without needing to print a special image such as a test pattern, etc.
    テストパターン等の特殊な画像を印刷する必要なく、印刷において印刷結果画像の画質をほぼ一定に維持して画像形成を行う。 - 特許庁
  • Next, the operator displays (outputs) data on the picture of the test sheet read by the medium processor on the display screen of a display device (step S3).
    次に作業員は、媒体処理装置が読み取ったテストシートの画像のデータを表示装置の表示画面上に表示（出力）させる（ステップＳ３）。 - 特許庁
  • To provide a train control system which acquires accurate step response data by outputting a control command according to a notch pattern for a running test.
    自動で走行試験用のノッチパターンに従って制御指令を出力することで正確なステップ応答データを得られる列車制御装置を提供する。 - 特許庁
  • This method further comprises a step of executing the test case on a different processor and taking an action, and reporting that the action was taken to the originating processor.
    本方法は、テスト・ケースを異なるプロセッサ上で実行してアクションを行い、アクションが行われたことを親プロセッサに対して通知するステップをさらに含む。 - 特許庁
  • The picosecond imaging circuit analysis (PICA)/high current source system includes a step for applying a pulse from a high current pulse source to a device under test (DUT).
    ピコ秒イメージ化回路解析（ＰＩＣＡ）／高電流源システムは、高電流パルス源から被試験デバイス（ＤＵＴ）にパルスを加えるステップを含む。 - 特許庁
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