「Step Test」を含む例文一覧(486)

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  • To shorten a computing process time for computing a correction value in a self-running test step to achieve efficiency of a manufacturing step of a disk drive.
    自走テスト工程での補正値を算出するための計算処理時間の短縮化を実現し、ディスクドライブの製造工程の効率化を図ることにある。 - 特許庁
  • In the step S220, the control unit reads audio data or display data for a test mode being stored in a flash memory 20 and goes on with processing to step S230.
    Ｓ２２０ステップにおいて、制御部は、フラッシュメモリ２０に格納されているテストモード用の音声データや表示データを読み込み、Ｓ２３０ステップへ処理を進める。 - 特許庁
  • In a step S3, the method flow proceeds to a step S10 if a good chip count Y reaches a specified good chip count X determined in test requirements.
    ステップＳ３において、良品チップカウント数Ｙが、試験条件である設定良品チップ数Ｘに到達している場合には、ステップＳ１０へ進む。 - 特許庁
  • This method for evaluating the anti-oxidation ability comprises the following steps: (a) a step for administering the sample to be evaluated to a test animal, (b) a step for extracting an in vivo viable cell from the test animal, and (c) a step for measuring the active oxygen amount of the extracted in vivo viable cell.
    以下のステップ： (a) 被評価サンプルを試験動物に投与するステップ、(b) 上記試験動物から生体内細胞を採取するステップ、及び(c) 採取した生体内細胞の活性酸素量を測定するステップ、を含む、抗酸化能力の評価方法。 - 特許庁
  • The test data compression method comprises a step for acquiring equivalent core of plural cores in the System-on Chip circuit, and a step for applying reseeding of linear feedback shift register (LFSR) for test data compression of the equivalent core.
    データ圧縮方法は、システムオンチップ回路内の複数のコアの等価コアを取得するステップと、線形フィードバックシフトレジスタ（ＬＦＳＲ）の再シード（reseeding）を等価コアの試験データの圧縮に適用するステップと、を有する。 - 特許庁
  • A method for measuring and controlling high frequency banding includes a step (S110) for creating a test pattern, a step (S120) for detecting the test pattern by an optical sensor, a step (S130) for specifying beat frequency based on the detected test pattern, and a step (S140) for specifying the amplitude, phase and amplitude of the high frequency banding based on the beat frequency.
    高周波バンディングを測定および制御する方法であって、テストパターンを作成するステップ（Ｓ１１０）と、光学センサーによりテストパターンを検知するステップ（Ｓ１２０）と、検知されたテストパターンに基づいてビート周波数を特定するステップ（Ｓ１３０）と、ビート周波数に基づいて高周波バンディングの周波数、位相および振幅を特定するステップ（Ｓ１４０）を含む。 - 特許庁
  • The method according to the present invention consists of a step for coupling a first integrated circuit die to a substrate, a step for encapsulating the first integrated circuit die, a step for conducting a test on the first integrated circuit die and a step for coupling a second integrated circuit die to the substrate, when the test of the first integrated circuit die is successful.
    本発明の方法は、第一の集積回路ダイを基板に結合するステップと、第一の集積回路ダイを封止するステップと、第一の集積回路ダイを試験するステップと、第一の集積回路ダイの試験が成功した場合に、第二の集積回路ダイを基板に結合するステップとからなることを特徴とする。 - 特許庁
  • This invention comprises a step (S502) for deriving an temporary pulse condition, a step (S502) for measuring test area reflection light, steps (S503 to S506) for deriving an final pulse condition, and a step (S506) for performing recording.
    本発明は、暫定パルス条件導出ステップ（Ｓ５０２）と、テスト領域反射光測定ステップ（Ｓ５０２）と、最終パルス条件導出ステップ（Ｓ５０３〜Ｓ５０６）と、記録実行ステップ（Ｓ５０６）とを備える。 - 特許庁
  • (step A1) Next, the test energizing is started, and in a first cycle, a thyristor is ignited (step A2) with the above described initial valueϕ(1), and in cycles from and after a second cycle, the ignition angle is determined (step A7) under a constant current control.
    次いで、テスト通電を開始し、１回目のサイクルでは上記初期値φ(1)でサイリスタを点弧し（ステップＡ2）、２回目以降のサイクルでは定電流制御の下で点弧角を決定する（ステップＡ7）。 - 特許庁
  • The method comprises a step of measuring expression of a specific gene in a cell acted by a test substance; and a step of identifying the test substance as a candidate substance of antibacterial agent when expression of the gene varies as compared to expression produced in the case of not acting the test substance on a cell.
    被検物質を作用させた細胞における、特定の遺伝子の発現を測定する工程と、上記遺伝子の発現が、上記被検物質を作用させない場合の発現と比較して変動した場合に当該被検物質を抗菌剤の候補物質として同定する工程とを含む。 - 特許庁
  • In the fourth step, the skin shape of the test skin is measured based on the pore space coordinate value P.
    第４ステップでは、毛穴空間座標値Ｐに基づいて、被験肌の肌形状を計測するようにしている。 - 特許庁
  • A candidate scene vector 621 corresponding to a test image vector is subjected to positional specification in the network (step 620).
    テスト画像ベクトルに対応した候補情景ベクトル６２１は、ネットワークにおいて位置特定される（ステップ６２０）。 - 特許庁
  • The method further includes a step of obtaining CD measurement data from a plurality of test areas on the heat-treated wafers.
    さらに、熱処理されたウエハ上の複数の検査領域からＣＤ計測データを取得する工程を有する。 - 特許庁
  • To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step.
    検査工程において高精度な試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁
  • Hereby, the semiconductor chip CP1 is judged as a failure in test processes B-D (step ST12B, ST12C, ST12D).
    これにより、検査工程Ｂ−Ｄにおいて半導体チップＣＰ１は不良であると判定される（ステップＳＴ１２Ｂ，ＳＴ１２Ｃ，ＳＴ１２Ｄ）。 - 特許庁
  • The system or the method for correcting the RF transmitter includes a step of inputting a test tone to the RF transmitter.
    ＲＦ送信器を校正するシステム又は方法は、ＲＦ送信器にテストトーンを入力することを含む。 - 特許庁
  • Finally, simulation is performed to the simulation net list based on the test input information (step S14).
    最後に、テスト入力情報に基づいて、シミュレーション用のネットリストに対してシミュレーションを実行する（ステップＳ１４）。 - 特許庁
  • In a step that planning is approved, and a trial vehicle is completed, real vehicle test items using a trial vehicle are presented in an experiment/research department based on a virtual test result or a past real vehicle test result.
    企画が承認されて試作車が完成した段階において、実験研究部門には仮想試験結果や過去の実車試験結果などに基づいて試作車を用いた実車試験項目が提示される。 - 特許庁
  • Without using a constant test sequence at all times when a test pattern to be set in a shift register at the test is scanned in and the results of the test to be observed are scanned out, by limiting clock phases to be effective in each shift step into one, the problem of the skews are avoided.
    テスト時のシフトレジスタに設定するテストパタンをスキャンインしたり、観測すべきテスト結果をスキャンアウトする際に、常に一定のシフトシーケンスを用いるのではなく、各シフトステップで有効とするクロック相を１つに限定することで、スキューの問題を回避する。 - 特許庁
  • After a positive type resist is coated on a test substrate and it is brought into a focus by using a mask original plate for a test pattern to expose at a plurality of parts, development is carried out to form the test patterns composed of remaining patterns at the plurality of parts on the test substrate, respectively (step S11).
    テスト基板上にポジ型レジストを塗布し、テストパターン用マスク原版を用いてフォーカスを振って複数個所に露光した後、現像を行なって、テスト基板上の複数個所にそれぞれ残しパターンからなるテストパターンを形成する（ステップＳ１１）。 - 特許庁
  • To provide a bacteriological test method capable of simplifying the step from the suspension of bacteria in a specimen liquid to the test without using a separate suspension device.
    懸濁装置を別途用いることなく、試料液中における細菌の懸濁から検査までの工程を簡素化することが可能な細菌検査方法を提供する。 - 特許庁
  • When all the sensor temperatures satisfy temperature rise conditions, the normal end of test run is determined, and an LED of a test run completion display part 11g is lighted (step S111).
    全てのセンサ温度が昇温条件を満たすときは試運転正常終了と判定され、試運転完了表示部１１ｇのＬＥＤが点灯する（ステップＳ１１１）。 - 特許庁
  • The test plan of each circuit element for composing a data path is subjected to scheduling in parallel in a form to be compressed, and a compression operation is made to generate a compression test plan (step 1006).
    データパスを構成する各回路要素のテストプランを圧縮可能な形で並列にスケジューリングし、圧縮演算を施して圧縮テストプランを生成する（ステップ１００６）。 - 特許庁
  • This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.
    本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁
  • The method includes selecting the execution behavior for executing a step or action in the test case and sending the execution behavior to the test case for execution.
    この方法は、テストケース中のステップまたはアクションを実行する実行挙動を選択すること、および実行挙動を実行のためにテストケースに送ることを含む。 - 特許庁
  • The method of manufacturing a semiconductor device includes (A) a step of laying a wafer 3 in a test piece base 1 of an electrostatic chuck 30, (B) a step of impressing a DC voltage to the test piece base 1, and (C) a step of irradiating plasma 5 to the wafer 3 in a plurality of steps.
    本発明に係る半導体装置の製造方法は、（Ａ）ウエーハ３を静電チャック３０の試料台１に載置する工程と、（Ｂ）試料台１に直流電圧を印加する工程と、（Ｃ）複数のステップにおいてウエーハ３にプラズマ５を照射する工程とを備える。 - 特許庁
  • It is desirable that a step for performing a reinitializing mode while the prescribed defect list existing in DMA of a test disk is removed in the recording/reproducing device by using the test disk having test reference information and generating test information from generated defect management information and a step for comparing reference information predicted by the reference information with test information and supplying a verification result on test information are included.
    テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階を含むことが望ましい。 - 特許庁
  • Plural test patterns are recorded (step S2) on the basis of image data corrected by a partially different correction value α, a test pattern that looks smoothest from among the test patterns is selected visually, a number corresponding to it is inputted (step S3), and a γ-table corresponding to the number is updated as the γ-table for image data correction (step S4).
    部分的に異なる補正値αによって補正された画像データに基づいて、複数のテストパターンを記録し（ステップＳ２）、それらのテストパターンの中から、最も平滑に見えるテストパターンを目視により選択して、それに対応する番号を入力し（ステップＳ３）、その番号に対応するγテーブルを画像データ補正用γテーブルとして更新する（ステップＳ４）。 - 特許庁
  • A method for wire bonding the semiconductor device comprises a step of preparing a bonding pad 38 in which a wire bonding region 34 and a test region 36 formed outside the region 34 are set, a step of executing a characteristic test for a semiconductor element in the test region, and a step of wire bonding to wire a wiring 60 in the wire bonding region.
    ワイヤボンディング領域３４とワイヤボンディング領域３４外にテスト領域３６とが設定されたボンディングパッド３８を用意する工程と、テスト領域において半導体素子に対する特性テストを行う工程と、ワイヤボンディング領域においてワイヤ６０を結線するワイヤボンディングを行う工程とを経ることにより半導体装置を得る。 - 特許庁
  • In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).
    複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁
  • When this reception device for disaster information receives the emergency earthquake flash (YES at S03 step) during the execution of the test mode (S02 step), the reception device stops a notification of an emergency earthquake flash in the test mode, and changes over the notification to a notification when receiving the emergency earthquake flash.
    テストモードを実行中に（Ｓ０２ステップ）緊急地震速報を受信すると（Ｓ０３ステップのＹＥＳ）、テストモードにおける緊急地震速報の報知を停止し、緊急地震速報を受信した際の報知に切り替える。 - 特許庁
  • Wafer probe test is conducted by using a thin-film probe card wherein the outer edge of a second-step sacrifice layer is made smaller than that of a first-step sacrifice layer.
    本願発明は、２段目の犠牲層の外縁を１段目の犠牲層の外縁よりも小さくした薄膜プローブ・カードにより、ウエハ・プローブ・テストを実行するものである。 - 特許庁
  • In a step S30, the low-quality product, subjected to the test in the step S20, is visually inspected and whether the air bubbles are produced in the liquid crystal display device 1 is decided.
    ステップＳ３０では、ステップＳ２０で試験を行った低特性品の外観検査を実施して、液晶表示装置１内に気泡の発生があるか否かを判断する。 - 特許庁
  • The user selects a desired video format (step 56), and if required, the user can revise only the video format any number of times while the same test signal is selected (step 58).
    ユーザは、所望のビデオ・フォーマットを選択する（ステップ５６）が、このとき必要であれば、何度でもテスト信号は同じままでビデオ・フォーマットのみを変更できる（ステップ５８）。 - 特許庁
  • A test method of the nonvolatile semiconductor memory device has a (A) step for performing erasion of the memory cell with a FN system, and a (B) step for performing rewriting of the memory cell with the FN system after the (A) step.
    本発明に係る不揮発性半導体記憶装置のテスト方法は、（Ａ）ＦＮ方式でメモリセルの消去を行うステップと、（Ｂ）上記（Ａ）ステップの後、ＦＮ方式でメモリセルの書き戻しを行うステップとを有する。 - 特許庁
  • When correcting the quantity of light based on the correction data of the EEPROM, a test pattern is printed (step 108), its density is measured (step 110), and correction data for making density distribution substantially flat is determined (step 112).
    ＥＥＰＲＯＭの補正データに基づいて光量補正を行いながら、テストパターンを印字させ（ステップ１０８）、この濃度を測定して（ステップ１１０）、濃度分布を略フラットにするような補正データを求める（ステップ１１２）。 - 特許庁
  • Next, simulation is performed from the created test scenario (step S140); the obtained simulation log is converted to text data in which information to determine the equivalence is described as a table (step S150); and text data are compared (step S160).
    次いで、作成したテストシナリオからシミュレーションを行い（ステップＳ１４０）、得られたシミュレーションログから等価性を判断するための情報を表として記載したテキストデータに変換し（ステップＳ１５０）、比較する（ステップＳ１６０）。 - 特許庁
  • Evaluation results of the simulation test verification step 104 and the analysis verification step 110 are combined and re-evaluated to verify the measurement accuracy of the ultrasonic flowmeter on the safe side in a double verification step 111.
    最後に、二重検証ステップ１１１では、模擬試験検証ステップ１０４と解析検証ステップ１１０のそれぞれで評価結果を合わせて再評価し、超音波流量計の計測精度を安全側に検証する。 - 特許庁
  • A test period is brought into a clock number required for a shift operation for the number of steps + one step, even in the longest period.
    したがって、テスト期間を、最長でも、段数＋１段分のシフト動作に必要なクロック数とすることができる。 - 特許庁
  • Test quality information is calculated by measuring the mass of the fresh concrete using a load cell 8 (step S14).
    ロードセル８を用いてフレッシュコンクリートの質量を測定することにより試験品質情報を算出する（ステップＳ１４）。 - 特許庁
  • Based on a soil test result in step 101, soil 1 to be improved is classified in steps 102, 103.
    ステップ１０１で行った土質試験結果に基づいて、ステップ１０２、ステップ１０３で改良対象土１を分類する。 - 特許庁
  • A recording start position is first designated in a recording area of an information recording medium to record predetermined test data (step 409).
    先ず情報記録媒体の記録領域に記録開始位置を指定して所定のテストデータが記録される（ステップ４０９）。 - 特許庁
  • A floating test step for operating a sample magnetic head for a prescribed time while floating the sample magnetic head on a magnetic recording medium is performed.
    試料磁気ヘッドを磁気記録媒体上で浮上させながら所定時間稼動させる浮上試験工程を行う。 - 特許庁
  • In the Select the WSDL Document step, open the BPEL Module project, select the .wsdl file containing the operation you want to test, and then click Next.
    「WSDL ドキュメントの選択」ステップで、BPEL モジュールプロジェクトを開き、テストする操作を含む .wsdl ファイルを選択して、「次へ」をクリックします。 - NetBeans
  • On the basis of a test sound signal of a single frequency, levels of a first test sound outputted from a first loudspeaker, a second test sound outputted from a second loudspeaker, and a composite sound of the first and second test sounds simultaneously outputted from the first and second loudspeakers are detected (step S22).
    単一周波数のテスト音声信号に基づいて第１スピーカから出力される第１テスト音声、第２スピーカから出力される第２テスト音声、並びに第１及び第２から同時に出力される第１及び第２テスト音声の合成音声のレベルを検出する（ステップＳ２２）。 - 特許庁
  • On an optical disc, a test pattern including a first test mark longer than the shortest mark in the modulation code by one recording unit length and a second test mark longer than the shortest mark by two recording unit lengthes or more is recorded with plural of recording conditions (step S2).
    光ディスクに、変調符号における最短マークより１記録単位長い第１テストマークと、最短マーク長より２記録単位長以上長い第２テストマークとを含むテストパターンを複数の記録条件で記録する（ステップＳ２）。 - 特許庁
  • Then the line sensor is moved as shown by the arrow Y (step 122) to make a second scan (step 124), a test pattern read signal is analyzed to calculate the quantity of a position shift from the first scan (step 126), and the line sensor is finely adjusted and moved as shown by the arrow X (step 128).
    続いて、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１２２）、第２のスキャンを行い（ステップ１２４）、テストパターン読取信号を解析し、前第１のスキャンとの位置ズレ量を算出し（ステップ１２６）、ラインセンサを矢印Ｘ方向に微調整移動する（ステップ１２８）。 - 特許庁
  • Among test data, wherein yi is an undefined value, a class yNNtest(i) of a data NNtest(i) is not an undefined value, and the data NNtest(i) is correctly leaned, a test data iB for providing a minimum d(i, NNtest(i)) is found out (Step 2).
    yiが未定義値でかつデータN Ntest(i)のクラスy_N Ntest(i_)が未定義値でなく、かつN Ntest(i)が正しく学習されているテストデータの中で、最小のd(i, N Ntest(i)）を与えるテストデータi_Bを見つける（ステップ３）。 - 特許庁
  • At the first step, the mode selection signal of every other component module is set to an output test mode, and the mode selection signal of the component module therebetween is set to an input test mode.
    第１ステップでは、１つおきの成分モジュールのモード選択信号を出力テストモードへセットし、それらの間の成分モジュールのモード選択信号を、入力テストモードへセットする。 - 特許庁
  • Then, an arbitrary test parameter is selected from the calculated test parameter group, and the parameter value is developed within a predetermined range including a value calculated from observation data (a step S2).
    次に、算出された検定パラメータ群から、任意の検定パラメータが選択され、そのパラメータ値が、観測データより算出された値を含む所定の範囲内に展開される（ステップＳ２）。 - 特許庁
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